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本实用新型公开了一种能够避免硅块在少子寿命测试中产生表面损伤的装置，包括一端开口且内部中空的保护套，所述保护套呈长方体形状，保护套上开口的尺寸小于该对应的端面的尺寸，保护套上与开口端相对的一端的外壁上贴合有耐磨层，且耐磨层的尺寸小于与其贴合...
该专利属于天威新能源控股有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过天威新能源控股有限公司授权不得商用。

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