本实用新型专利技术提供一种测针装置,包括固定基座,所述固定基座上设置有第一孔,所述测针装置用于对伸入第一孔内的刀具进行检测,所述刀具上套有套环,所述刀具包括针尖部分和针柄部分,其中,所述固定基座上还设置有第二孔;所述第二孔设置在第一孔的下方并与第一孔连通,所述刀具的针尖部分能够伸入所述第二孔中且套在所述刀具上的套环能够卡在所述第一孔与第二孔相交处的台阶位置上。相应地,还提供一种采用所述测针装置的铣床。本实用新型专利技术所述测针装置在对刀具的尺寸及其磨损情况进行检测的过程中能够避免主轴损伤及由此造成的设备异常,从而能够提高设备的产能和良率。(*该技术在2022年保护过期,可自由使用*)
【技术实现步骤摘要】
本技术属于测量
,具体涉及一种测针装置,以及采用所述测针装置的铣床。
技术介绍
铣床是使用刀具(包括铣刀、钻针)对工件进行铣削加工的机床。铣床除能铣削平面、沟槽、轮齿、螺纹和花键轴外,还能加工比较复杂的型面,且效率较刨床高,因而在机械制造和修理加工方面得到了广泛的应用。在实际生产过程中,工件的加工质量一般建立在刀具状态的基础上,刀具的良好状态是避免产生废品以及保持工艺状态稳定的关键因素,如果刀具磨损、破损或选刀错误 的情况未被及时发现,特别是无人值守加工时未被及时发现将导致机床停机、工件损坏等不必要的成本增加。因此,准确地测量刀具的尺寸以及定期检查刀具的磨损情况十分重要。目前,一般采用测针装置来检测刀具的尺寸及其磨损情况。所述测针装置包括接触式测针装置与非接触式测针装置。接触式测针装置通过探针与刀具直接接触而获取刀具的尺寸数据;非接触式测针装置则是采用光束(通常是激光束)对刀具进行探测来获取刀具的尺寸数据。其中,非接触式测针装置因无需测量力,可快速、可靠及无碰撞危险地检测尺寸较小的刀具而得到广泛的应用。现有的非接触式测针装置一般包括光纤发射器、光纤接收器、光纤放大器、固定基座以及数据处理单元。所述光纤发射器用于向刀具发射光信号;光纤接收器用于接收光纤发射器所发射的光信号;光纤放大器与光纤接收器连接,用于放大光纤接收器接收到的光信号;如图f 3所示,固定基座上设置有圆孔I (非通孔),光纤发射器的发射端及光纤接收器的接收端水平且相对地设置在圆孔I的内壁上,待测刀具的针尖部分伸入圆孔I中,并遮挡住光纤发射器发射的光信号的光路;数据处理单元与光纤放大器连接,用于对经放大后的光纤接收器接收到的光信号(反映激光光束的变化情况)进行处理以得出刀具的尺寸数据。所述刀具包括用于切削加工的针尖以及用于与主轴连接的针柄,刀具上还套有套环,可通过不同颜色的套环来区分不同型号的刀具。所述刀具的尺寸数据主要包括刀具的长度、针尖的直径等数据,结合刀具的尺寸数据可分析得出刀具的磨损情况。目前的非接触式测针装置所应用的生产线一般都是自动化生产线,在对刀具的尺寸及其磨损情况进行检测的过程中,如果由于人员操作失误或其他原因,导致固定基座中的圆孔I内已放置了另一刀具而未及时发现,会造成安装在主轴上待测的刀具与之前已放置在圆孔I中的另一刀具产生撞击(即发生压针或重针的现象),继而导致主轴发生损伤以及其它设备发生异常。而主轴发生故障的频率高低是衡量铣床设备性能的主要参数之一,如果主轴发生故障的频率较高不仅会导致产品报废、影响正常生产,严重时还会对铣床设备造成较大的损伤,进而产生更大的成本浪费
技术实现思路
本技术所要解决的技术问题是针对现有技术中存在的上述问题,提供一种在对刀具的尺寸及其磨损情况进行检测的过程中能够避免主轴损伤的测针装置,以及采用所述测针装置的铣床。解决本技术技术问题所采用的技术方案是所述测针装置包括固定基座,所述固定基座上设置有第一孔,所述测针装置用于对伸入所述第一孔内的刀具进行检测,所述刀具上套有套环,所述刀具包括针尖部分和针柄部分,其中,所述固定基座上还设置有第二孔;所述第二孔设置在第一孔的下方并与第一孔连通,所述刀具的针尖部分能够伸入所述第二孔中且套在所述刀具上 的套环能够卡在所述第一孔与第二孔相交处的台阶位置上。优选的是,所述第二孔的长度大于套在刀具上的所述套环上靠近刀具针尖一端的端面至针尖顶端的距离。进一步优选的是,所述第二孔为通孔。或者,所述第二孔为非通孔。优选的是,所述第二孔采用圆孔。优选的是,所述第一孔与第二孔同轴设置。优选的是,所述第一孔采用圆孔,其直径为9mm,所述第二孔的直径大于或等于4mm且小于或等于7mm ;套在所述刀具上的套环的外径大于7mm且小于9mm。进一步优选的是,所述第二孔的直径为7mm。本技术同时提供一种铣床,其采用测针装置,所述测针装置采用上述的测针>J-U ρ α装直。优选的是,所述铣床为卧式铣床。有益效果本技术所述测针装置中的固定基座上由于设置了第二孔,且待测刀具的针尖部分能够伸入第二孔中,即使出现压针现象,先行放置在第一孔中的另一刀具的针尖部分会因重力而下落至第二孔中,因而不会与安装在主轴上的待测刀具发生撞击,从而能够避免主轴发生损伤;由于套在待测刀具上的套环能够卡在所述第一孔与第二孔相交处的台阶位置上,当所述第二孔为通孔时,所述另一刀具不会直接下落至铣床的工作台面上而造成设备异常,如板卡短路,导轨磨损等;所述第二孔为非通孔时,所述另一刀具的刀尖部分不会直接与第二孔的底壁接触而对其针尖部分造成损坏。附图说明图I为现有技术中固定基座的王视图;图2为现有技术中固定基座的左视图;图3为现有技术中固定基座的俯视图;图4为本技术实施例I中固定基座的主视图;图5为本技术实施例I中固定基座的左视图;图6为本技术实施例I中固定基座的俯视图。图中1 —圆孔;2 —第二孔;3 —第一孔。具体实施方式为使本领域技术人员更好地理解本技术的技术方案,以下结合附图和具体实施方式对本技术测针装置以及采用所述测针装置的铣床作进一步详细描述。所述测针装置包括固定基座,所述固定基座上设置有第一孔,所述测针装置用于对伸入所述第一孔内的刀具进行检测,所述刀具上套有套环,所述刀具包括针尖部分和针柄部分,其中,所述固定基座上还设置有第二孔;所述第二孔设置在第一孔的下方并与第一孔连通,所述刀具的针尖部分能够伸入所述第二孔中且套在所述刀具上的套环能够卡在所述第一孔与第二孔相交处的台阶位置上。所述铣床采用上述的测针装置。实施例I : 本实施例中,所述测针装置包括光纤发射器、光纤接收器、光纤放大器、固定基座以及数据处理单元。其中,光纤发射器、光纤接收器、光纤放大器、数据处理单元的作用以及连接关系与现有技术相同,不再赘述。该测针装置主要用于对铣床中刀具的尺寸及磨损情况进行检测。如图4飞所示,所述固定基座上设置有第一孔3,通过设置在第一孔3内壁上的光纤发射器与光纤接收器可对伸入第一孔3内的刀具的尺寸及磨损情况进行检测。所述刀具包括针尖部分和针柄部分,所述刀具上套有套环,且套在所述刀具上的套环能够伸入第一孔3中。所述固定基座上还设置有第二孔2。所述第二孔2设置在第一孔下方并与第一孔3连通,所述刀具的针尖部分能够伸入所述第二孔2中且套在所述刀具上的套环能够卡在所述第一孔3与第二孔2相交处的台阶位置上。优选所述第二孔的长度大于套在所述刀具上的套环上靠近刀具针尖一端的端面至针尖顶端的距离。本实施例中,所述第二孔2为通孔。优选所述第二孔2采用圆孔,且与第一孔3同轴设置。当然,所述第二孔2和/或第一孔3可采用任意形状的孔,只需保证套在所述刀具上的套环能够伸入第一孔3中,且套在所述刀具上的套环能够卡在第一孔3与第二孔2相交处的台阶位置上即可。若第二孔2采用圆孔,则第二孔2的直径大于或等于所述刀具的针尖的直径且小于套在所述刀具上的套环的外径,以使得所述刀具的针尖部分能够落入第二孔2中且所述刀具能够通过套在其上的套环卡在第一孔3与第二孔2相交处的台阶位置上。需要说明的是,本技术只是对现有测针装置中的固定基座进行了改进,即只在第一孔3的下方开设了第二孔2,并未改变其他部件的结构或形状本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种测针装置,包括固定基座,所述固定基座上设置有第一孔,所述测针装置用于对伸入所述第一孔内的刀具进行检测,所述刀具上套有套环,所述刀具包括针尖部分和针柄部分,其特征在于,所述固定基座上还设置有第二孔;所述第二孔设置在第一孔的下方并与第一孔连通,所述刀具的针尖部分能够伸入所述第二孔中且套在所述刀具上的套环能够卡在所述第一孔与第二孔相交处的台阶位置上。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:董彦明,李晋峰,吴琳,孙万兴,喻大群,
申请(专利权)人:北大方正集团有限公司,珠海方正科技高密电子有限公司,
类型:实用新型
国别省市:
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。