【技术实现步骤摘要】
本技术涉及晶体振荡器的测试技术，更具体地涉及ー种自动測量批量晶体振荡器老化率的测试系统。
技术介绍
在当前同类型晶振老化率测试系统中，一个测试架都必须配置一台测试计算机，当需要对多个测试架内的测试板进行节点(晶振)老化率测试时，则需要配备多台测试计算机并单独对每台计算机进行操作，该方式不仅浪费了计算机资源，増大测试成本而且也导致测试效率低下。鉴于此，有必要提供一种基于同一上位机而进行多级控制的可自动测量批量晶体振荡器老化率的测试系统以节约测试成本且提高测试效率
技术实现思路
本技术的目的是提供一种基于同一上位机而进行多级控制的自动测量批量晶体振荡器老化率的测试系统以节约测试成本且提高测试效率。为了实现上述目的，本技术所采用的技术方案为提供一种自动測量批量晶体振荡器老化率的测试系统，其包括外部控制设备、顶层控制电路、中间层控制电路及测试架，所述外部控制设备与所述顶层控制电路相连，所述顶层控制电路连接有至少ー个所述中间层控制电路，每个所述中间层控制电路连接有多个所述测试架，每个所述测试架上设置有一末层控制电路，每个所述末层控制电路连接有多个测试板，每个测试板上设置有多个待...
【技术保护点】
一种自动测量批量晶体振荡器老化率的测试系统，其特征在于：包括外部控制设备、顶层控制电路、中间层控制电路及测试架，所述外部控制设备与所述顶层控制电路相连，所述顶层控制电路连接有至少一个所述中间层控制电路，每个所述中间层控制电路连接有多个所述测试架，每个所述测试架上设置有一末层控制电路，每个所述末层控制电路连接有多个测试板，每个测试板上设置有多个待测晶振节点。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：彭军，
申请(专利权)人：广州市三才通讯科技有限公司，
类型：实用新型
国别省市：
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