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本实用新型公开了一种自动测量批量晶体振荡器老化率的测试系统，其包括外部控制设备、顶层控制电路、中间层控制电路及测试架，所述外部控制设备与所述顶层控制电路相连，所述顶层控制电路连接有至少一个所述中间层控制电路，每个所述中间层控制电路连接有多个...
该专利属于广州市三才通讯科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过广州市三才通讯科技有限公司授权不得商用。

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