本实用新型专利技术公开了一种自动测量批量晶体振荡器温度特性的测试系统，其包括恒温温箱、频率测试设备、控制装置以及外部控制设备，所述控制装置设置有一级控制电路，所述恒温温箱内设置有用于控制所述恒温温箱内部环境的恒温温箱控制表头及若干设置有待测晶振节点的测试板，每个所述测试板上还设置有二级控制电路，所述二级控制电路与所述一级控制电路相连，所述一级控制电路与所述外部控制设备相连。本实用新型专利技术的测试系统可以对批量晶体振荡器进行温度特性方面的测试，全程自动化进行，减少了人工参与程度，大大的提高了测试效率，保证了测试的准确度。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）
【技术实现步骤摘要】
本技术涉及晶体振荡器的测试技术，更具体地涉及ー种自动測量批量晶体振荡器温度特性的测 试系统。
技术介绍
目前的恒温温箱，有些型号有温度点程序设定，可以在某个温度点设定保温时间长度，当保温时间完成后，自动进入下一个设置温度点。对于少量的晶振样品温度特性测试，现有的测试方式一般是采用人エ测试，温箱运行也人工控制，晶振的频率也是人工测试，效率低下，也容易出错。对于批量的晶振温度特性测试，由于晶振的数量是变化的，由于测试所需要的时间长度不固定，因此恒温温箱的保温时间长度也不能固定，然而现有技术没有将测试情况实时反映到恒温温箱表头上，两者脱节，不能实现自动化测试，因此也同样存在效率低下，容易出错等缺陷。鉴于此，有必要提供一种高效率、高准确度的自动测量批量晶体振荡器温度特性的测试系统。
技术实现思路
本技术的目的是提供自动测量批量晶体振荡器温度特性的测试系统以提高测试效率和测试结果的准确度。为了实现上述目的，本技术所采用的技术方案为提供一种自动測量批量晶体振荡器温度特性的测试系统，其包括放置有批量待测晶体振荡器的恒温温箱、用于测试晶体振荡器晶振频率的频率测试设备、与所述恒温温箱和频率测试设备相连以控制所述恒温温箱和频率测试设备的控制装置以及与所述控制装置相连以控制所述控制装置的外部控制设备，所述控制装置设置有ー级控制电路，所述恒温温箱内设置有用于控制所述恒温温箱内部环境的恒温温箱控制表头及若干设置有待测晶振节点的测试板，每个所述测试板上还设置有ニ级控制电路，所述ニ级控制电路与所述ー级控制电路相连。其进ー步技术方案为所述ー级控制电路包括ー级总控单片机、信号驱动电路、TTL/485信号转换电路、第一和第二 RS232/TTL电平转换装置、第一和第二八选一通道开关及若干开关Kl K8，所述开关Kl K8均受控于所述ー级总控单片机，所述ー级总控单片机的信号输入端通过开关Kl和第一 RS232/TTL电平转换装置连接至所述外部控制设备，通过开关K3和所述第一八选一通道开关连接至所述ニ级控制电路的输出端，通过开关K7和所述TTL/485信号转换电路连接至所述恒温温箱控制表头，通过开关K6和第二 RS232/TTL电平转换装置连接至所述频率测试设备，所述ー级总控单片机的信号输出端通过开关K4和所述第一 RS232/TTL电平转换装置连接至所述外部控制设备，通过开关K2和所述信号驱动电路连接至所述ニ级控制电路的输入端，通过开关K8和所述TTL/485信号转换电路连接至所述恒温温箱控制表头，作为所述第二八选一通道开关的地址片选信号以控制下级各路频率有选择地输入至所述频率测试设备。其进ー步技术方案为所述ニ级控制电路包括ニ级总控单片机、地址驱动电路、地址片选电路、与非门、第一和第二三八译码装置以及第三和第四八选一通道开关，所述ニ级总控单片机受控于来自所述一级控制电路的TTL信号，所述ニ级总控单片机的输出端与所述地址片选电路相连，所述地址片选电路的输出端同时与所述地址驱动电路、第一三八译码装置以及第三八选一通道开关相连，所述第一三八译码装置的输出端同时与所述第二三八译码装置和第四八选一通道开关相连，所述第二三八译码装置的输出端连接至所述与非门的ー输入端，所述与非门的另一输入端与被测晶体振荡器相连，所述与非门的输出端通过所述第四八选一通道开关与所述第三八选一通道开关相连，所述地址驱动电路的输出端连接至所述第二三八译码装置和第四八选一通道开关。其进ー步技术方案为所述ー级总控单片机为带有EEPROM的单片机，该EEPROM内存储有用于指定所述ー级总控单片机所管辖晶体振荡器范围的ID编码。其进ー步技术方案为所述第一和第二 RS232/TTL电平转换装置均采用 MAX232CPE芯片来实现。其进ー步技术方案为所述ニ级总控单片机为带有EEPROM的单片机，该EEPROM内存储有用于指定该ニ级总控单片机所管辖晶体振荡器范围的ID编码。其进ー步技术方案为所述第一、第二、第三和第四八选一通道开关均采用CD74HC4051E芯片来实现。其进ー步技术方案为所述信号驱动电路和地址驱动电路均采用74LS244芯片来实现。其进ー步技术方案为所述第一和第二三八译码器均采用⑶74HC4051E芯片来实现。其进ー步技术方案为所述ー级控制电路连接有IXD显示屏以显示测试状态。与现有技术相比，本技术提供的测试系统设置有两级控制电路，所有待测试晶振均可看成一个个节点，其中，ー级控制电路可根据外部控制设备(计算机)的选择节点信息转发至ニ级控制电路，根据上位机的读取温箱状态或设置温箱操作等信息与温箱控制表头通信而完成恒温温箱内部环境的控制(例如设置温箱温度点、读取温箱当前温度、控制温箱开/关制冷等操作)，控制频率测试设备选择性地对晶振频率进行测试并将测试信息有选择的放行至上位机。基于此，本测试系统可以对批量晶体振荡器进行温度特性方面的测试，全程自动化进行。自动控制温箱达到预定的温度点，在保温预定长的时间后，开始对各节点的晶振进行频率测试，本温度点各节点测试完毕后，控制温箱进入下ー个温度点，准备进行下ー轮测试。使用本系统，減少了人工參与程度，大大的提高了测试效率，保证了测试的精确度。通过以下的描述并结合附图，本技术将变得更加清晰，这些附图用于解释本技术的实施例。附图说明图I为本技术自动测量批量晶体振荡器温度特性的测试系统ー实施例的系统框图。图2为图I所示自动测量批量晶体振荡器温度特性的测试系统中ー级控制电路的电路框图。图3为图I所示自动测量批量晶体振荡器温度特性的测试系统中二级控制电路的电路框图。图中各附图标记说明如下自动测量批量晶体振荡器温度特性的测试系统10恒温温箱 11控制装置12外部控制设备 13—级控制电路14一级总控单片机 141信号驱动电路142TTL/485信号转换电路 143第一 RS232/TTLL电平转换电路144第二 RS232/TTLL电平转换电路145第一八选一通道开关146第二八选一通道开关 147频率测试设备15恒温温箱控制表头 16测试板17ニ级控制电路 18ニ级总控单片机181地址片选电路 182地址驱动电路183与非门 184第一三八译码装置185第二三八译码装置 186第三八选一通道开关187第四八选一通道开关 188晶振节点189具体实施方式下面将结合本技术实施例中的附图，对实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，附图中类似的组件标号代表类似的组件。显然，以下将描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。首先请參照图1，图I展示了本技术自动测量批量晶体振荡器温度特性的测试系统一实施例的系统框图。如图I所示，本实施例的测试系统10包括放置有批量待测晶体振荡器(图未示)的恒温温箱11、用于测试晶体振荡器晶振频率的频率测试设备15、与所述恒温温箱11及频率测试设备15相连以控制所述恒温温箱11及频率测试设备15的控制装置12以及与所述控制装置12相连以控制所述控制装置12的外部控制设备13，所述控制装置12设置有ー级控制电路14，所述恒温温箱11内设置有用于本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种自动测量批量晶体振荡器温度特性的测试系统，其特征在于：包括放置有批量待测晶体振荡器的恒温温箱、用于测试晶体振荡器晶振频率的频率测试设备、与所述恒温温箱和频率测试设备相连以控制所述恒温温箱和频率测试设备的控制装置以及与所述控制装置相连以控制所述控制装置的外部控制设备，所述控制装置设置有一级控制电路，所述恒温温箱内设置有用于控制所述恒温温箱内部环境的恒温温箱控制表头及若干设置有待测晶振节点的测试板，每个所述测试板上还设置有二级控制电路，所述二级控制电路与所述一级控制电路相连。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：佘国源，
申请(专利权)人：广州市三才通讯科技有限公司，
类型：实用新型
国别省市：
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