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本实用新型公开了一种自动测量批量晶体振荡器温度特性的测试系统，其包括恒温温箱、频率测试设备、控制装置以及外部控制设备，所述控制装置设置有一级控制电路，所述恒温温箱内设置有用于控制所述恒温温箱内部环境的恒温温箱控制表头及若干设置有待测晶振节点...
该专利属于广州市三才通讯科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过广州市三才通讯科技有限公司授权不得商用。

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