本实用新型专利技术公开了一种自动测量批量微控晶振特性的测试系统，其包括恒温温箱、频率测试设备、控制装置以及外部控制设备，所述控制装置设置有一级控制电路，所述恒温温箱内设置有用于控制所述恒温温箱内部环境的恒温温箱控制表头及若干测试板，每个所述测试板上还设置有二级控制电路及若干微控晶振节点，所述二级控制电路包括二级总控单片机、连接待测晶振节点以选择被测晶振的第一选择电路以及连接各晶振节点通信口以采集被选中晶振的温度电压数据的第二选择电路。本实用新型专利技术的测试系统可自动完成所有温度点下恒温温箱中全部待测微控晶振的频率采集及温度电压数据对应表的数据采集，全程自动化进行，大大的提高了测试效率及产品的出厂合格率。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）
【技术实现步骤摘要】
本技术涉及晶体振荡器的测试技术，更具体地涉及一种自动测量批量微控晶振特性的测试系统。
技术介绍
目前的恒温温箱，有些型号有温度点程序设定，可以在某个温度点设定保温时间长度，当保温时间完成后，自动进入下一个设置温度点。对于少量的晶振样品温度特性测试，现有的测试方式一般是采用人工测试，温箱运行也人工控制，晶振的频率也是人工测试，效率低下，也容易出错。对于批量的晶振温度特性测试，由于晶振的数量是变化的，由于测试所需要的时间长度不固定，因此恒温温箱的保温时间长度也不能固定，然而现有技术 没有将测试情况实时反映到恒温温箱表头上，两者脱节，不能实现自动化测试，因此也同样存在效率低下，容易出错等缺陷。此外，生产制造微控微控晶振的关键工序是得到其温度电压对应表数据，获得此数据的途径需要通过与微控晶振进行信息交换，对于处于恒温温箱内的一批微控晶振，每一个都需要和外界进行信息交换，即进行多对一的通信模式才可实现。鉴于此，有必要提供一种可进行多对一通信模式的测试系统来自动完成所有温度点下恒温温箱中全部待测微控晶振的频率采集及温度电压数据对应表的采集，从而提高批量晶振的测试效率和出品合格率。
技术实现思路
本技术的目的是提供一种自动测量批量微控晶振特性的测试系统以提高测试效率和出品合格率的准确度。为了实现上述目的，本技术所采用的技术方案为包括外部控制设备、控制装置、恒温温箱以及频率测试设备，其中，所述控制装置内设一级控制电路，所述一级控制电路连接且受控于所述外部控制设备；所述恒温温箱内设若干测试板及一与所述一级控制电路相连以控制所述恒温温箱内部环境的恒温温箱控制表头，每个所述测试板上设置有二级控制电路及若干微控晶振节点，所述二级控制电路包括受控于所述一级控制电路的二级总控单片机、连接待测晶振节点以选择被测晶振的第一选择电路以及连接各晶振节点通信口以采集被选中晶振的温度电压数据的第二选择电路，所述第一选择电路和第二选择电路均与所述二级总控单片机相连且受控于所述二级总控单片机；所述频率测试设备与所述一级控制电路相连以对被选中晶振进行频率测试并将测试结果经由所述一级控制电路送至所述外部控制设备。其进一步技术方案为所述一级控制电路包括一级总控单片机、信号驱动电路、TTL/485信号转换电路、第一和第二 RS232/TTL电平转换装置、第一和第二八选一通道开关及若干开关ΚΓΚ8，所述开关ΚΓΚ8均受控于所述一级总控单片机，所述一级总控单片机的信号输入端通过开关Kl和第一 RS232/TTL电平转换装置连接至所述外部控制设备，通过开关K3和所述第一八选一通道开关连接至所述二级控制电路的输出端，通过开关Κ7和所述TTL/485信号转换电路连接至所述恒温温箱控制表头，通过开关Κ6和第二 RS232/TTL电平转换装置连接至所述频率测试设备，所述一级总控单片机的信号输出端通过开关Κ4和所述第一 RS232/TTL电平转换装置连接至所述外部控制设备，通过开关Κ2和所述信号驱动电路连接至所述二级控制电路的输入端，通过开关Κ8和所述TTL/485信号转换电路连接至所述恒温温箱控制表头，作为所述第二八选一通道开关的地址片选信号以控制下级各路频率有选择地输入至所述频率测试设备。其进一步技术方案为所述一级总控单片机为带有EEPROM的单片机，该EEPROM内存储有用于指定所述一级总控单片机所管辖微控晶振范围的ID编码。其进一步技术方案为所述第一和第二 RS232/TTL电平转换装置均采用MAX232CPE芯片来实现。其进一步技术方案为所述第一选择电路包括地址驱动电路、地址片选电路、与非门、第一和第二三八译码装置以及第三和第四八选一通道开关，所述第二选择电路包括第五八选一通道开关及多个第六八选一通道开关，每个第六八选一通道开关将多个晶振节点通信口连接至所述第五八选一通道开关的其中一个通道，所述二级总控单片机受控于来自所述一级控制电路的TTL信号，所述二级总控单片机的输出端与所述地址片选电路和第五八选一通道开关相连，所述地址片选电路的输出端同时与所述地址驱动电路、第一三八译码装置以及第三八选一通道开关相连，所述第一三八译码装置的输出端同时与所述第二三八译码装置、第四八选一通道开关及各个第六八选一通道开关相连，所述第二三八译码装置的输出端连接至所述与非门的一输入端，所述与非门的另一输入端与被测微控晶振相连，所述与非门的输出端通过所述第四八选一通道开关与所述第三八选一通道开关相连，所述地址驱动电路的输出端连接至所述第二三八译码装置、第四八选一通道开关及各个第六八选一通道开关。其进一步技术方案为所述二级总控单片机为带有EEPROM的单片机，该EEPROM内存储有用于指定该二级总控单片机所管辖微控晶振范围的ID编码。其进一步技术方案为所述第一、第二、第三、第四、第五和第六八选一通道开关均采用CD74HC4051E芯片来实现。其进一步技术方案为所述信号驱动电路和地址驱动电路均采用74LS244芯片来实现。其进一步技术方案为所述第一和第二三八译码器均采用⑶74HC4051E芯片来实现。其进一步技术方案为所述一级控制电路连接有IXD显示屏以显示测试状态。与现有技术相比，本技术提供的测试系统设置有两级控制电路，所有待测试晶振均可看成一个个节点，其中，一级控制电路可根据外部控制设备(计算机)读取温箱状态或设置温箱操作等信息与温箱控制表头通信而完成恒温温箱内部环境的控制(例如设置温箱温度点、读取温箱当前温度、控制温箱开/关制冷等操作)，而二级控制电路通过两个选择电路来选择晶振进行频率测试或温度电压数据采集。基于此，可根据上位机的测试要求对某节点微控晶振进行设置电压、读取温度等操作，将此电压和温度数据转发至二级控制电路的单片机并依次传回上级电路，而被选中的晶振通过频率测试设备进行频率测试且其测试结果有选择的放行至上位机。由此可见，本测试系统可通过多对一的通信模式来自动完成所有温度点下恒温温箱中全部待测微控晶振的频率采集及温度电压数据对应表的采集，对批量微控晶振的特性进行全面测试，全程自动化进行，减少了人工参与程度，大大的提高了测试效率，保证了测试的精确度，从而提高出品合格率。通过以下的描述并结合附图，本技术将变得更加清晰，这些附图用于解释本技术的实施例。附图说明图I为本技术自动测量批量微控晶振特性的测试系统一实施例的系统框图。图2为图I所示自动测量批量微控晶振特性的测试系统中一 级控制电路的电路框图。图3为图I所示自动测量批量微控晶振特性的测试系统中二级控制电路的电路框图。图中各附图标记说明如下自动测量批量微控晶振特性的测试系统10恒温温箱11 恒温温箱控制表头111控制装置12 外部控制设备13一级控制电路 14 一级总控单片机141信号驱动电路 142 TTL/485信号转换电路143第一 RS232/TTLL电平转换电路144第二 RS232/TTLL电平转换电路145 第一八选一通道开关 146第二八选一通道开关 147 频率测试设备15LCD显示屏16 测试板17二级控制电路18 二级总控单片机 181第一选择电路182 地址片选电路1821地址驱动电路1822与非门1823第一三八译码装置 1824第二三八译码装置 1825本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种自动测量批量微控晶振特性的测试系统，包括外部控制设备、控制装置、恒温温箱以及频率测试设备，其特征在于：所述控制装置内设一级控制电路，所述一级控制电路连接且受控于所述外部控制设备；所述恒温温箱内设若干测试板及一与所述一级控制电路相连以控制所述恒温温箱内部环境的恒温温箱控制表头，每个所述测试板上设置有二级控制电路及若干微控晶振节点，所述二级控制电路包括受控于所述一级控制电路的二级总控单片机、连接待测晶振节点以选择被测晶振的第一选择电路以及连接各晶振节点通信口以采集被选中晶振的温度电压数据的第二选择电路，所述第一选择电路和第二选择电路均与所述二级总控单片机相连且受控于所述二级总控单片机；所述频率测试设备与所述一级控制电路相连以对被选中晶振进行频率测试并将测试结果经由所述一级控制电路送至所述外部控制设备。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：杨智锋，
申请(专利权)人：广州市三才通讯科技有限公司，
类型：实用新型
国别省市：
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