【技术实现步骤摘要】
本技术涉及晶体振荡器的测试技术，更具体地涉及一种自动测量批量微控晶振特性的测试系统。
技术介绍
目前的恒温温箱，有些型号有温度点程序设定，可以在某个温度点设定保温时间长度，当保温时间完成后，自动进入下一个设置温度点。对于少量的晶振样品温度特性测试，现有的测试方式一般是采用人工测试，温箱运行也人工控制，晶振的频率也是人工测试，效率低下，也容易出错。对于批量的晶振温度特性测试，由于晶振的数量是变化的，由于测试所需要的时间长度不固定，因此恒温温箱的保温时间长度也不能固定，然而现有技术 没有将测试情况实时反映到恒温温箱表头上，两者脱节，不能实现自动化测试，因此也同样存在效率低下，容易出错等缺陷。此外，生产制造微控微控晶振的关键工序是得到其温度电压对应表数据，获得此数据的途径需要通过与微控晶振进行信息交换，对于处于恒温温箱内的一批微控晶振，每一个都需要和外界进行信息交换，即进行多对一的通信模式才可实现。鉴于此，有必要提供一种可进行多对一通信模式的测试系统来自动完成所有温度点下恒温温箱中全部待测微控晶振的频率采集及温度电压数据对应表的采集，从而提高批量晶振的测试效率和出品合...
【技术保护点】
一种自动测量批量微控晶振特性的测试系统，包括外部控制设备、控制装置、恒温温箱以及频率测试设备，其特征在于：所述控制装置内设一级控制电路，所述一级控制电路连接且受控于所述外部控制设备；所述恒温温箱内设若干测试板及一与所述一级控制电路相连以控制所述恒温温箱内部环境的恒温温箱控制表头，每个所述测试板上设置有二级控制电路及若干微控晶振节点，所述二级控制电路包括受控于所述一级控制电路的二级总控单片机、连接待测晶振节点以选择被测晶振的第一选择电路以及连接各晶振节点通信口以采集被选中晶振的温度电压数据的第二选择电路，所述第一选择电路和第二选择电路均与所述二级总控单片机相连且受控于所述二级...
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：杨智锋，
申请(专利权)人：广州市三才通讯科技有限公司，
类型：实用新型
国别省市：
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