一种简易三极管特性测量系统技术方案

本实用新型专利技术涉及一种简易三极管特性测量系统。该系统包括第一微控制器、第二微控制器、电压采样电路、数控电源、数控频率源、频率测量电路和显示输出电路，所述第一微控制器与数控电源连接，所述数控电源与待测三极管连接，待测三极管通过电压采样电路再与第一微控制器连接，第一微控制器与所述显示输出电路连接；所述第二微控制器与数控频率源连接，所述数控频率源通过频率测量电路与待测三极管连接，所述频率测量电路通过第二微控制器与显示输出电路连接。本实用新型专利技术提供的三极管特性测量系统具有性能可靠、抗干扰能力强、功耗低、性价比高等优点，可应用于实验室、工厂对晶体三极管的质量性能检测。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种简易三极管特性测量系统。
技术介绍
市场上存在多种三极管特性测量图示仪，用于观察及测量晶体管各种输入输出特性，其性能较好、精度较高，一般采用模拟电路制作，制作复杂，而且价格昂贵。部分小型的三极管特性图示仪采用数字电路制作，价格低廉，但测量精度较低，而且测量的参数种类较少，一般只能测量输出特性。因此需要一种制作相对简单且成本较低，使用也很方便，并且能够对包括频率特性的特性简易测量的三极管特性测量系统。
技术实现思路
本技术目的在于解决上述问题，提供了一种测量精度较高、测量参数较齐全，且成本较低的三极管特性测量系统。本技术通过以下技术方案实现一种简易三极管特性测量系统，与待测三极管连接，该系统包括第一微控制器、第二微控制器、电压采样电路、数控电源、数控频率源、频率测量电路和显示输出电路，所述第一微控制器与数控电源连接，所述数控电源与待测三极管连接，待测三极管通过电压采样电路再与第一微控制器连接，第一微控制器与所述显示输出电路连接；所述第二微控制器与数控频率源连接，所述数控频率源通过频率测量电路与待测三极管连接，所述频率测量电路通过第二微控制器与显示输出电路连接。所述的简易三本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种简易三极管特性测量系统，与待测三极管连接，其特征在于，该系统包括第一微控制器、第二微控制器、电压采样电路、数控电源、数控频率源、频率测量电路和显示输出电路，所述第一微控制器与数控电源连接，所述数控电源与待测三极管连接，待测三极管通过电压采样电路再与第一微控制器连接，第一微控制器与所述显示输出电路连接；所述第二微控制器与数控频率源连接，所述数控频率源通过频率测量电路与待测三极管连接，所述频率测量电路通过第二微控制器与显示输出电路连接。

【技术特征摘要】
1.一种简易三极管特性测量系统，与待测三极管连接，其特征在于，该系统包括第一微控制器、第二微控制器、电压采样电路、数控电源、数控频率源、频率测量电路和显示输出电路，所述第一微控制器与数控电源连接，所述数控电源与待测三极管连接，待测三极管通过电压采样电路再与第一微控制器连接，第一微控制器与所述显示输出电路连接；所述第二微控制器与数控频率源连接，所述数控频率源通过频率测量电路与待测三极管连接，所述频率测量电路通过第二微控制器与显示输出电路连接。2.根据权利要求I所述的简易三极管特性测量系统，其特征在于，所述第一、第二微控制器均采用89S52单片机。3.根据...

【专利技术属性】
技术研发人员：张银胜，单慧琳，周杰，李家强，
申请(专利权)人：南京信息工程大学，
类型：实用新型
国别省市：