感应加热烹调器制造技术

本发明专利技术的目的在于提供一种能够大幅降低加热时产生的加热容器的沸溢的误检测，并且可靠性高的感应加热烹调器。感应加热烹调器具有沸溢检测部，该沸溢检测部在静电电容检测部检测到的静电电容相对于基准值的变化量比输出降低阈值大的情况下，将逆变器的加热输出降低至预先设定的值，其中，在检测到的静电电容相对于基准值的变化量变为大于输出降低阈值之后的沸溢判定期间内，当检测到的静电电容的变化率为预定变化率以上时，停止加热动作，或者将加热输出降低至比第2设定值低的第3设定值，当检测到的静电电容的变化率低于预定变化率时，将加热输出维持在第2设定值。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及感应加热烹调器，特别涉及具有在加热烹调时检测来自锅等加热容器的沸溢的沸溢检测功能的感应加热烹调器。
技术介绍
在以往的感应加热烹调器中，例如像日本特开2008-159494号公报(专利文献I)中记载的那样，在加热线圈的外周设置多个电极，根据这些电极的静电电容的变化来进行沸溢检测。图5是示出专利文献I中记载的以往的感应加热烹调器的结构的图。图6是示出专利文献I中记载的用于进行沸溢检测的电极的静电电容变化的图。·如图5所示，以往的感应加热烹调器具有驱动电路102，该驱动电路102从交流电源101输入低频电力并向加热线圈104供给高频电力，以对加热容器(未图示)进行感应加热。此外，小圆盘状的多个电极103同心圆状地分散配置在加热线圈104的外周。分散配置的各电极103与静电电容测定电路106连接。通过静电电容测定电路106来检测各电极103与静电电容测定电路106之间的静电电容。以下将该静电电容简称为“各电极103的静电电容”。各电极103的静电电容取决于各电极103的周围的电介质(例如，顶板等)和导电体(例如，金属制的加热容器、加热线圈104等)的配置。在这样构成的以往的感应加热烹调器中，当从隔着顶板(topplate)载置在加热线圈104上方的锅等加热容器的周缘部分沸溢出液体时，在某个电极103的上方或附近存在沸溢的液体。当存在这样的沸溢的液体时，某个电极103的静电电容增加。通过检测这样的静电电容的增加，来检测沸溢。在某个电极103的上方或附近发生了沸溢时，电极103与加热容器或加热线圈104之间夹杂有水分，加热线圈104和电极103的静电电容急剧增加。因此，如上所述，通过检测电极103的静电电容，能够检测到沸溢。在以往的感应加热烹调器中，当检测到电极103的静电电容急剧增加时(参照图6)，控制电路105判断为沸溢，停止驱动电路102的动作，或降低流过加热线圈104的高频电流。现有技术文献专利文献专利文献I :日本特开2008-159494号公报
技术实现思路
专利技术要解决的问题如上所述，使用分散配置于加热线圈104的外周的电极103，通过检测其静电电容，能够检测到沸溢，但是，问题在于电极103的静电电容变化不仅仅是因为沸溢才产生的现象。例如，当使用者将潮湿的抹布等含有水分的物品载置到电极103附近的顶板上时，电极103所检测的静电电容也会大幅变化。此外，在使用者将加热容器的位置挪动的情况下，电极103所检测的静电电容也会发生变化。即使在这样的并非沸溢的情况下，以往的感应加热烹调器也会判断为沸溢，从而停止驱动电路102的动作，或降低加热线圈104的电流，对使用者来说这种烹调器的使用性不好。在感应加热烹调器中，构成为设置了表面光滑没有凹凸的顶板作为烹调面，能够容易地擦拭因沸溢等产生的污垢。但是，当发生沸溢而置之不理时，在发生了大量沸溢的情况下，存在顶板上表面或感应加热烹调器周围被短时间严重弄脏这样的问题。此外，即便在沸溢少的情况下，如果长时间持续沸溢，也同样存在被严重弄脏这样的问题。因此，在发生了沸溢的情况下，马上通知使用者，或者停止或降低加热动作是非常重要的。然而，在并非沸溢的情况下检测为沸溢并停止或降低加热动作会违背使用者的意愿而中断烹调，在这种误检测的频度较高的情况下，使用性不好，成为比较严重的问题。本专利技术的目的在于提供一种使用性好的感应加热烹调器，该感应加热烹调器能够降低加热时产生的加热容器的沸溢的误检测，并且能够高精度地检测沸溢的发生。用于解决问题的手段 在以下说明的本专利技术的感应加热烹调器中，括号内的标号、数值等是对后述实施方式中的要素标注的参照标号以及具体的值的例示，它们只是示出一例，不对本专利技术进行限定。本专利技术的第I方面的感应加热烹调器具有载置加热容器(I)的顶板(2);加热线圈(3)，其设置在所述顶板的下方，对所述加热容器(I)进行感应加热；逆变器(4)，其向所述加热线圈提供高频电流；电极(9)，其在所述加热线圈的周围附近，设置于所述顶板的背面；静电电容检测部(10)，其向所述电极提供高频信号，检测所述电极的静电电容；存储部(12)，其能够将检测到的静电电容作为基准值进行存储；控制部(8)，其进行控制，使得所述逆变器的加热输出成为所设定的第I设定值(例如，3kW以下)；以及沸溢检测部(11)，当所述电极的静电电容满足预定条件时，该沸溢检测部(11)执行把该静电电容作为基准值存储到所述存储部中的基准值更新处理，在所述电极的静电电容相对于所述基准值的变化量达到输出降低阈值(例如，14digit)以上后，该沸溢检测部(11)进行将所述逆变器的加热输出降低至预先设定的第2设定值(例如，O. 3kff)或者停止加热动作的输出抑制动作，所述沸溢检测部(11)构成为在包含所述电极的静电电容相对于所述基准值的变化量达到输出降低阈值(例如，14digit)以上的时刻在内的变化率检测期间(例如，I. 5秒)中，当检测到的静电电容的变化率为预定变化率(例如，145digit/秒)以上时，停止加热动作，或者将所述加热输出降低至比所述第2设定值低的第3设定值(例如，O. Ikff),当检测到的静电电容的变化率低于所述预定变化率时，将加热输出维持在所述第I设定值。这样构成的第I方面的感应加热烹调器能够大幅降低加热时产生的加热容器的沸溢的误检测。本专利技术的第2方面的感应加热烹调器是在上述第I方面中，所述沸溢检测部可以构成为在第I预定时间(检测期间；例如I秒)内对所述电极的静电电容进行多次检测，使用检测到的多个静电电容的平均值相对于基准值的变化量来计算变化率。本专利技术的第3方面的感应加热烹调器是在上述第I方面中，所述沸溢检测部(11)可以构成为在第I预定时间(检测期间；例如I秒)内检测到的静电电容相对于基准值的变化量低于比所述输出降低阈值小的基准值更新停止阈值(例如，3digit)的情况下，将在该第I预定时间内检测到的静电电容作为基准值进行更新并存储到所述存储部中，在所述第I预定时间(例如，I秒)内检测到的静电电容相对于基准值的变化量为所述基准值更新停止阈值以上的情况下，停止对所述存储部进行基准值的更新。本专利技术的第4方面的感应加热烹调器是在上述第I方面中，所述沸溢检测部可以构成为在第I预定时间(检测期间；例如I秒)内对所述电极的静电电容进行多次检测，在检测到的多个静电电容的平均值相对于基准值的变化量低于所述基准值更新停止阈值(例如，3digit)的情况下，把在该第I预定时间(例如，I秒)内检测到的多个静电电容的平均值存储到所述存储部中，以更新为新的基准值。本专利技术的第5方面的感应加热烹调器是在上述第I方面中，所述沸溢检测部可以构成为在第I预定时间(检测期间；例如I秒)内对所述电极的静电电容进行多次检测，在检测到的多个静电电容的平均值相对于基准值的变化量为所述基准值更新停止阈值(例如，3digit)以上的情况下，停止对所述存储部进行基准值的更新。 本专利技术的第6方面的感应加热烹调器是在上述第I至第5方面中，所述沸溢检测部可以构成为在从所述电极的静电电容相对于所述基准值的变化量达到输出降低阈值(例如，14digit)以上的时刻起，经过了预定的延迟时间后，进行所述输出抑制动作，并且，在所述延迟时间内判断为不是沸溢时本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：小笠原史太佳，武平高志，木下雅志，山本祐史，
申请(专利权)人：松下电器产业株式会社，
类型：
国别省市：