LED器件寿命检测方法及检测电路及该检测电路的应用技术

本发明专利技术提供了一种LED器件寿命检测方法包括以下步骤：建立LED器件在正常工作电流下的光通量变化趋势及LED器件在测试电流的电压变化趋势的曲线图，得出两者的线性关系；提供老化电流至被测试LED器件，当老化时间到，切换至测试电流；此时，检测并记录被测试LED器件两端的电压值；然后，将测试电流重新切换至老化电流，在不同的时间点重复检测；提供多个测试电流重复检测；根据检测到的电压值画出LED器件的电压变化趋势的曲线图；推导出被测试LED器件的光通量变化趋势的曲线图，评估出被测试LED器件的寿命。本发明专利技术检测周期短，节省人工成本，在检测过程中减少人为因素对老化检测结果的影响，增加检测的精确度。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及LED
，具体的说是一种采用电参数测试LED器件寿命的方法及检测电路及该检测电路的应用。
技术介绍
LED (Light Emitting Diode)是一种固态半导体器件,可将电能转换为光能。具有耗电量小、聚光效果好、反应速度快、可控性强、能承受高冲击力、使用寿命长、环保等优点。LED正逐步替代传统光源，成为第四代光源。LED器件的生产与研发，其使用寿命的评估是实际生产过程中一道不可避免的工序。目前，行业内实行的LED寿命测试，以时间-光通量的变化为主要参考指标。S卩，在特定的环境试验箱中，持续或间隔对LED产品通入老化电流(即LED产品正常工作电流，一般为20mA 1000mA)，随着时间推移，LED产品的光通量会逐渐下降，当LED产品的光通量下降到初始值的70%所对应的时间，定义为LED产品的寿命。由于LED产品的理论寿命很长，完整的实时测量在生产中无法应用；因此，行业内也制订了一些加速寿命测试的方案，如北美照明协会针对LED产品的测试方法标准LM80和TM-21，通过3000 6000小时的LED产品光通量变化来推测LED产品使用寿命。检测时间较长，而到本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种LED器件寿命检测方法，其特征在于，包括以下步骤：a、建立LED器件在正常工作电流下的光通量变化趋势及LED器件在测试电流的电压变化趋势的曲线图，根据该曲线图得出LED器件在正常工作电流下的光通量变化趋势及LED器件在测试电流的电压变化趋势的线性关系；b、提供一老化电流至被测试LED器件，使被测试LED器件持续点亮老化；当老化时间到，将老化电流切换至测试电流；此时，检测并记录被测试LED器件两端的电压值，完成一次老化？测试周期；然后，将测试电流重新切换至老化电流，在不同的时间点重复上述检测动作；c、提供多个不同电流值的测试电流重复上述b步骤，对应的检测并记录被测试LED器件两端的电压值；d...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：王冬雷，庄灿阳，
申请(专利权)人：蚌埠德豪光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：