一种LED元件测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种LED元件测试装置，涉及测试装置领域，所述LED元件测试装置包括调节杆、第一滑块及第二滑块，其中，所述第一滑块及所述第二滑块设置在所述调节杆上，所述第一滑块和第二滑块相对的侧面分别设置导电电极，每一导电电极连接一导线。本实用新型专利技术中，通过此LED元件测试装置进行测试，方便，快捷，省时省力，能够有效的避免由于焊接造成的样品损坏，并且接触电阻保持稳定，使得LED的测试结果更加可信准确。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及测试装置领域，特别涉及一种LED (发光二极管)元件测试装置。
技术介绍
半导体LED是一种重要的光电子器件，它在科学研究和工农业生产中均有非常广泛的应用。发光二极管虽小，但要准确测量它的各项光和辐射参数并非一件易事。现有的测试方法，是将单颗LED灯的两极进行导线的焊接。图Ia为现有技术LED灯及焊接测试示意图，图Ib为LED元件I的侧视图，由于LED元件I本身尺寸限制，将导线焊接在LED电极2上较为困难，经常容易损坏LED本身，对LED样品造成了浪费；另外一方面由于LED元件I本身电阻较小，焊接方法造成的焊接电阻对其影响较大，在进行LED测试时，造成测试数据准确度不高。
技术实现思路
(一)解决的技术问题针对上述缺点，本技术为了解决现有技术中由于焊接造成的LED样品损坏及焊接电阻的影响，提供了一种LED元件测试装置。(二)技术方案为解决上述技术问题，本技术具体采用如下方案进行本技术提供一种LED元件测试装置，所述LED元件测试装置包括调节杆、第一滑块及第二滑块，其中，所述第一滑块及所述第二滑块设置在所述调节杆上，所述第一滑块和第二滑块相对的侧面分别设置导电电极，每一导电电极连接本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种LED元件测试装置，其特征在于，所述LED元件测试装置包括调节杆、第一滑块及第二滑块，其中，所述第一滑块及所述第二滑块设置在所述调节杆上，所述第一滑块和第二滑块相对的侧面分别设置导电电极，每一导电电极连接一导线。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：肖光辉，尹大根，
申请(专利权)人：京东方科技集团股份有限公司，北京京东方显示技术有限公司，
类型：实用新型
国别省市：