功率器件高温反偏试验系统技术方案

本实用新型专利技术涉及一种实验室用功率器件可靠性评测装置，具体为功率器件高温反偏试验系统。其特征在于，包括烘箱、晶体管特性图示仪、被测器件插座板，晶体管特性图示仪既是反偏试验的电源，又是反偏试验结果的显示装置，被测器件插座板通过高温导线与晶体管特性图示仪电源输出端口连接，所述的被测试器件插座板至于烘箱内。本实用新型专利技术提供的小型高温反偏试验系统，体积小，操作方便，经济实惠。根据试验温度和时间，就能定性或定量评价产品性能指标。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术设计一种实验室用可靠性评测装置，具体为功率器件高温反偏试验装置。
技术介绍
现有用于测试晶体管的高温反偏试验装置由高温烘箱、偏置板、反偏电源及其控制、显示系统等部分组成。该装置包括电源、主控制系统、辅助控制系统、计算机、显示器、接插件、偏置板、恒温室，集中一起，设备体积庞大，价格昂贵，对于安装场所进门大小和高度有特殊要求，所以该装置使用条件受到很大制约。同时由于高温反偏性能是评估半导体功率器件可靠性的一项重要试验，所以无论产品制造方还是用户，工程师门都需要有一套研究开发使用的高温反偏试验系统。
技术实现思路
针对上述技术问题，本专利技术提供的高温反偏试验系统，体积小，尤其适用于实验室使用，具体的技术方案为功率器件高温反偏试验系统，包括烘箱、晶体管特性图示仪、被测器件插座板，被测器件插座板通过高温导线与晶体管特性图示仪电源输出端口连接，所述的被测试器件插座板至于烘箱内。晶体管特性图示仪既是反偏试验的电源，又是反偏试验结果的显示装置，被测器件插座板的底板为印刷线路板，印刷线路板上分布有高压线和接地线，线路板上连接有被测器件保护电阻和与被测器件匹配的插座。常温下或者高温下，当被测器件本文档来自技高网...

【技术保护点】
功率器件高温反偏试验系统，其特征在于，包括烘箱、晶体管特性图示仪、被测器件插座板，被测器件插座板通过高温导线与晶体管特性图示仪电源输出端口连接，所述的被测试器件插座板置于烘箱内。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：赵振华，
申请(专利权)人：无锡罗姆半导体科技有限公司，赵振华，
类型：实用新型
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