本实用新型专利技术涉及一种实验室用功率器件可靠性评测装置，具体为功率器件高温反偏试验系统。其特征在于，包括烘箱、晶体管特性图示仪、被测器件插座板，晶体管特性图示仪既是反偏试验的电源，又是反偏试验结果的显示装置，被测器件插座板通过高温导线与晶体管特性图示仪电源输出端口连接，所述的被测试器件插座板至于烘箱内。本实用新型专利技术提供的小型高温反偏试验系统，体积小，操作方便，经济实惠。根据试验温度和时间，就能定性或定量评价产品性能指标。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）
【技术实现步骤摘要】
本技术设计一种实验室用可靠性评测装置，具体为功率器件高温反偏试验装置。
技术介绍
现有用于测试晶体管的高温反偏试验装置由高温烘箱、偏置板、反偏电源及其控制、显示系统等部分组成。该装置包括电源、主控制系统、辅助控制系统、计算机、显示器、接插件、偏置板、恒温室，集中一起，设备体积庞大，价格昂贵，对于安装场所进门大小和高度有特殊要求，所以该装置使用条件受到很大制约。同时由于高温反偏性能是评估半导体功率器件可靠性的一项重要试验，所以无论产品制造方还是用户，工程师门都需要有一套研究开发使用的高温反偏试验系统。
技术实现思路
针对上述技术问题，本专利技术提供的高温反偏试验系统，体积小，尤其适用于实验室使用，具体的技术方案为功率器件高温反偏试验系统，包括烘箱、晶体管特性图示仪、被测器件插座板，被测器件插座板通过高温导线与晶体管特性图示仪电源输出端口连接，所述的被测试器件插座板至于烘箱内。晶体管特性图示仪既是反偏试验的电源，又是反偏试验结果的显示装置，被测器件插座板的底板为印刷线路板，印刷线路板上分布有高压线和接地线，线路板上连接有被测器件保护电阻和与被测器件匹配的插座。常温下或者高温下，当被测器件为肖特基二极管、快恢复二极管、双极晶体管、金属氧化物场效应晶体管和绝缘栅双极晶体管时，将被测器件插在被测器件插座板上，只要调节晶体管特性图示仪上输出电压为试验规定电压，晶体管特性图示仪显示屏就会显示被测器件的反向漏电流曲线。如果显示屏上显示的是直线，则表示被测器件合格，如果是曲线，则表明被测器件中存在失效的产品。常温下或者高温下，当被测器件为稳压集成电路时，将被测器件插在被测器件插座板上，只要调节晶体管特性图示仪上输出电压为试验规定电压，晶体管特性图示仪显示屏就会显示被测器件的稳压曲线，则表示被测器件合格，如果不是稳压曲线，则表明被测器件中存在失效的广品。本专利技术提供的小型高温功率器件反偏试验系统，体积小，操作方便，经济实惠。根据试验温度和时间，就能定性或定量评价产品性能指标。附图说明图1，本技术结构示意图；图2，本技术的被测器件插座板结构示意图。具体实施方式如图1，功率器件高温反偏试验系统，包括烘箱I、晶体管特性图示仪2、被测器件插座板3，被测器件插座板3通过高温导线4与晶体管特性图示仪2电源输出端口连接，如图2所示，所述的被测器件插座板3，底板为印刷线路板3-1，印刷线路板3-1上分布有高压线3-4和接地线3-5，线路上连接有保护电阻3-3和与被测器件匹配的插座3-2，所述的被测试器件插座板3至于带温度自动控制烘箱I内。试验时，所需要的500V至2000V的高压偏置电压由晶体管特性图示仪2上的高压输出端2-1提供，500V以下偏置电压由晶体管特性图示仪2上的集电极-发射极电压2-2提供，被测器件5按电极极性插入被测器件插座板3上，被测器件插座板3与晶体管特性图示仪2的偏置电源的连接使用高温导线4。常温下测试D13003这样的常用开关晶体管，将被测器件5插在被测器件插座板3上，只要调节晶体管特性图示仪2上输出电压为试验规定电压600V反偏电压时，反向漏电流应该小于10 μ A，晶体管特性图示仪显示屏2-3就会显示被测器件的反向漏电流曲线2-3-1直线。如果显示的是2-3-2那样曲线，说明该器件在规定的600V反偏电压下，漏电流已经严重超标(>> ΙΟμΑ)，则表明被测器件5中存在失效的产品，需要排查原因。常温下测试正常的情况下，再将带有被测器件5的被测器件插座板3放入烘箱I中，并将烘箱I温度升至140°C 160°C，晶体管特性图示上显示屏2-3的曲线就会发生变化。对于D13003这样的常用开关晶体管，产品规范是环境温度140°C时，600V反偏漏电流小于50 μ Α,实际只有Γ3 μ Α,所以即使在140°C烘箱中，只有一个产品时，由于一般晶体管特性图示议显示灵敏度在5 μ A以上，所以在显示屏2-3出现的曲线仍然如2-3-1那样的一根直线，但是如果有几十个到数百个产品并联反偏试验时，只要有一个产品反向漏电流增大或超标，在显示屏2-3出现的曲线，就不是如2-3-1那样的一根直线，而是出现2-3-2那样的曲线。说明被检测器件5中有不合格的产品。权利要求1.功率器件高温反偏试验系统，其特征在于，包括烘箱、晶体管特性图示仪、被测器件插座板，被测器件插座板通过高温导线与晶体管特性图示仪电源输出端口连接，所述的被测试器件插座板置于烘箱内。2.根据权利要求I所述的功率器件高温反偏试验系统，其特征在于，所述的被测器件插座板的底板为印刷线路板，印刷线路板上分布有高压线和接地线，线路板上连接有被测器件保护电阻和与被测器件匹配的插座。专利摘要本技术涉及一种实验室用功率器件可靠性评测装置，具体为功率器件高温反偏试验系统。其特征在于，包括烘箱、晶体管特性图示仪、被测器件插座板，晶体管特性图示仪既是反偏试验的电源，又是反偏试验结果的显示装置，被测器件插座板通过高温导线与晶体管特性图示仪电源输出端口连接，所述的被测试器件插座板至于烘箱内。本技术提供的小型高温反偏试验系统，体积小，操作方便，经济实惠。根据试验温度和时间，就能定性或定量评价产品性能指标。文档编号G01R31/26GK202631688SQ20122020968公开日2012年12月26日 申请日期2012年5月11日 优先权日2012年5月11日专利技术者赵振华 申请人:无锡罗姆半导体科技有限公司, 赵振华本文档来自技高网...
【技术保护点】
功率器件高温反偏试验系统，其特征在于，包括烘箱、晶体管特性图示仪、被测器件插座板，被测器件插座板通过高温导线与晶体管特性图示仪电源输出端口连接，所述的被测试器件插座板置于烘箱内。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：赵振华，
申请(专利权)人：无锡罗姆半导体科技有限公司，赵振华，
类型：实用新型
国别省市：
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