一种表面覆膜的单晶硅片制造技术

技术编号:8149908 阅读:275 留言:0更新日期:2012-12-28 21:17
本实用新型专利技术涉及一种表面覆膜的单晶硅片,该单晶硅片包括硅片本体,硅片本体包括吸光面与背面;其中,所述的吸光面上覆有一层氮化硅膜;由于表面附有一层氮化硅膜,增加了单晶硅片对光的吸收,从而提高转换效率。(*该技术在2022年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种表面覆膜的单晶硅片
技术介绍
随着太阳能电池市场的快速成长,单晶硅在对光的吸收过程中,有一部分光会因为单晶硅本身的反光使得光被反射出去,从而使得对光的利用率较低。
技术实现思路
本技术的目的在于克服现有技术的缺陷,提供一种对光利用率高的表面覆膜的单晶硅片。 为实现上述目的,本技术为一种表面覆膜的单晶硅片,该单晶硅片包括硅片本体,硅片本体包括吸光面与背面;其中,所述的吸光面上覆有一层氮化硅膜。其中,所述的氮化娃膜的厚度为73nnT77nm。采用在吸光面上覆一层氮化硅膜,尤其是这层氮化硅膜的厚度在73nnT77nm之间,使得这层氮化硅膜呈深蓝色,对光的折射率在I. 9-2. I之间;减少对光的反射,增加了单晶娃片对光的吸收,从而提闻了转换效率。附图说明图I是本技术实施例产品的侧视图。具体实施方式请参阅图1,一种表面覆膜的单晶硅片,该单晶硅片包括硅片本体1,硅片本体的一面为吸光面2与另一面为背面,吸光面2上覆有I层厚度在73nnT77nm之间的氮化硅膜3。采用在吸光面上覆一层氮化硅膜,尤其是这层氮化硅膜的厚度在73nnT77nm之间,使得这层氮化硅膜呈深蓝色,对光的折射率在I. 9-2. I之间;减少对光的反射,增加电池片对光的吸收,从而提闻转换效率。权利要求1.一种表面覆膜的单晶硅片,该单晶硅片包括硅片本体,硅片本体包括吸光面与背面;其特征在于所述的吸光面上覆有一层氮化硅膜。2.根据权利要求I所述的一种表面覆膜的单晶硅片,其特征在于所述的氮化硅膜的厚度为 73nnT77nm。专利摘要本技术涉及一种表面覆膜的单晶硅片,该单晶硅片包括硅片本体,硅片本体包括吸光面与背面;其中,所述的吸光面上覆有一层氮化硅膜;由于表面附有一层氮化硅膜,增加了单晶硅片对光的吸收,从而提高转换效率。文档编号H01L31/0216GK202633324SQ20122019092公开日2012年12月26日 申请日期2012年5月2日 优先权日2012年5月2日专利技术者周日发 申请人:浙江奥博新能源有限公司本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种表面覆膜的单晶硅片,该单晶硅片包括硅片本体,硅片本体包括吸光面与背面;其特征在于:所述的吸光面上覆有一层氮化硅膜。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:周日发
申请(专利权)人:浙江奥博新能源有限公司
类型:实用新型
国别省市:

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