一种用于CCD探测器制冷装置的温度控制系统制造方法及图纸

技术编号:8129911 阅读:298 留言:0更新日期:2012-12-27 01:22
本发明专利技术公开了一种用于CCD探测器制冷装置的温度控制系统,包括温度传感器,实时地检测半导体制冷片的冷面的当前温度并输出温度指示信号;信号处理模块,对温度指示信号进行放大,并将放大后的温度指示信号进行模-数转换;控制模块,将半导体制冷片的冷面的当前温度与目标温度进行分析以得到开关控制信号;执行机构,选择性地将直流电源输出的直流电输送至半导体制冷片以调节半导体制冷片的冷面的温度位于预设温度区间内。本发明专利技术实现对CCD探测器制冷装置的温度的调节,使得CCD探测器制冷装置的温度控制在可控区间内的任一设定温度,从而减小了室内温度对制冷装置的温度的影响,提高了制冷装置的稳定性。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及CXD探测器
,特别涉及一种用于CXD探测器制冷装置的温度控制系统。
技术介绍
CCD(Charge-coupled Device)探测器技术是国际上DR(Digital Radiography,直接数字化X射线摄影系统)产品采用的主流技术之一,性能稳定且可靠。但是,CXD芯片在常温工作情况下暗电流噪声和读出噪声都很大,从而对最终图像成像结果造成影响。特别是在X射线环境下,本身照度很低,对于图像信噪比,噪声的影响 比可见光环境的影响更加恶劣。因此,需要利用制冷装置对C⑶探测器进行制冷。现今,通常采用半导体制冷片对CCD探测器进行制冷。然而,对于不同地区的使用用户,室内温度差异很大,不同的室内温度会导致半导体制冷片的冷面的温度不同,影响半导体制冷片的制冷效果,制冷效率低。
技术实现思路
本专利技术的目的旨在至少解决上述技术缺陷之一,特别提出一种用于CXD探测器制冷装置的温度控制系统,该温度控制系统可以将CCD探测器制冷装置的冷面的温度控制在可控区间内的任一设定温度,提高了制冷装置的稳定性。为达到上述目的,本专利技术的实施例提出一种用于CCD探测器制冷装置的温度控制系统本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于CCD探测器制冷装置的温度控制系统,所述CCD探测器制冷装置包括直流电源和半导体制冷片,所述直流电源向所述半导体制冷片通入直流电以利用所述半导体制冷片的冷面对CCD探测器进行冷却,其特征在于,所述温度控制系统用于对所述半导体制冷片的冷面的温度进行控制,所述温度控制系统包括:温度传感器,所述温度传感器与所述半导体制冷片的冷面相连,用于实时地检测所述半导体制冷片的冷面的当前温度并输出温度指示信号;信号处理模块,所述信号处理模块与所述温度传感器相连,用于对所述温度指示信号进行放大,并将放大后的温度指示信号进行模拟?数字转换以得到温度指示数字信号;控制模块,所述控制模块与所述信号处理模块相连,...

【技术特征摘要】
2011.06.25 CN 201120218643.51.一种用于CCD探测器制冷装置的温度控制系统,所述CCD探测器制冷装置包括直流电源和半导体制冷片,所述直流电源向所述半导体制冷片通入直流电以利用所述半导体制冷片的冷面对CCD探测器进行冷却,其特征在于,所述温度控制系统用于对所述半导体制冷片的冷面的温度进行控制,所述温度控制系统包括 温度传感器,所述温度传感器与所述半导体制冷片的冷面相连,用于实时地检测所述半导体制冷片的冷面的当前温度并输出温度指示信号; 信号处理模块,所述信号处理模块与所述温度传感器相连,用于对所述温度指示信号进行放大,并将放大后的温度指示信号进行模拟-数字转换以得到温度指示数字信号; 控制模块,所述控制模块与所述信号处理模块相连,用于根据所述温度指示数字信号读取所述半导体制冷片的冷面的当前温度,并将所述半导体制冷片的冷面的当前温度与目标温度进行分析以得到开关控制信号; 执行机构,所述执行机构位于所述直流电源和所述半导体制冷片之间,且所述执行机构与所述控制模块相连,用于在所述开关控制信号的驱动下选择性地将所述直流电源输出的直流电输送至所述半导体制冷片以调节所述半导体制冷片的冷面的温度位于预设温度区间内,其中所述预设温度区间为起始温度比所述目标温度降低第一预设温度,所述预设温度区间的结束温度比所述目标温度升高所述第一预设温度。2.如权利要求I所述的温度控制系统,其特征在于,所述第一预设温度为O.5摄氏度。3.如权利要求I所述的温度控制系统,其特征在于,所述执行机构选择性地将所述直流电源输出的直流电输送至所述半导体制冷片以调节所述半导...

【专利技术属性】
技术研发人员:刘军付彬
申请(专利权)人:北京中科美伦科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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