一种用于测试硅微粉中磁性杂质含量的装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开一种用于测试硅微粉中磁性杂质含量的装置，包括一个容器及置入所述容器内的搅拌器，其特征在于，所述容器内安装有内置磁棒的金属套筒，所述金属套筒自容器进料口垂直插入，金属套筒的底部封闭，顶部敞口，所述磁棒自金属套筒的顶部敞口插入，所述磁棒为钕铁硼磁铁，所述金属套筒为不锈钢套筒；本实用新型专利技术利用强磁棒的磁场将硅微粉中的磁性杂质吸附到不锈钢套筒外壁，取出不锈钢套筒，收集附着的磁性杂质，经多次收集至无磁性杂质吸附，将收集到的磁性杂质烘干后称重，得出硅微粉中磁性杂质的含量。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术主要应用于非金属矿物粉料中磁性杂质含量的測定，特别应用于硅微粉中磁性杂质的測定。
技术介绍
环氧塑封料中采用的填料主要是硅微粉，硅微粉是ー种非磁性矿粉，具有纯度高、介电性能优异、热膨胀系数低、热导率高及价格低等特点，用硅微粉作填料可以降低环氧模塑料的热膨胀系数、吸水率和成型收缩率，同时提高耐热性、机械强度、介电性能和热导率。硅微粉在环氧塑封料中含量最高可达90%，因此硅微粉性能优劣对环氧模塑料品质有着十分重要的影响。无论是结晶硅微粉或者是熔融硅微粉中都会含有磁性杂质，磁性杂质含量过高会影响环氧塑封料的性能，进而影响到封装后集成电路的使用寿命，因此在使用前必须对硅微粉中磁性杂质的含量进行检測。现有的检测方法有两种，ー种通过对硅微粉进行成分分析，可以精确检测磁性杂质的含量，但测试设备昂贵，测试耗时较长。另ー种是通过測量硅微粉的电导率对磁性杂质含量进行估算，但结果不够直观，误差较大。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种用于定量测试硅微粉中磁性杂质含量的装置，该装置能够简单快捷地从硅微粉中分离出磁性杂质。一种用于测试硅微粉中磁性杂质含量的装置，包括ー个容器及置入所述容器内的搅拌器，其特征在于，所述容器内安装有内置磁棒的金属套筒。所述金属套筒自容器进料ロ垂直插入，金属套筒的底部封闭，顶部敞ロ，所述磁棒自金属套筒的顶部敞ロ插入。所述磁棒为钕铁硼磁鉄。所述金属套筒为不锈钢套筒。本技术的有益效果本技术利用强磁棒的磁场将硅微粉中的磁性杂质吸附到不锈钢套筒外壁，取出不锈钢套筒，收集附着的磁性杂质，经多次收集至无磁性杂质吸附，将收集到的磁性杂质烘干后称重，得出硅微粉中磁性杂质的含量。附图说明图I为本技术结构示意图。具体实施方式如图I所示，本技术所提供的一种用于测试硅微粉中磁性杂质含量的装置，包括容器I及置入容器I内的搅拌器2，自容器进料ロ垂直插入2-4根内置磁棒4的金属套筒3，金属套筒3在容器I内对称设置，金属套筒3的底部封闭，顶部敞ロ，金属套筒3通过支架5固定悬挂,所述磁棒4自金属套筒3的顶部敞ロ插入,所述磁棒4为钕铁硼磁铁,所述金属套筒3为不锈钢套筒。本技术使用方法称取一定量的待测硅微粉与蒸馏水混合，配制成悬浮液倒入容器I中，用搅拌器2搅拌使悬浮液保持旋流状态，悬浮液的液面低于金属套筒3的顶部，悬浮液中的硅微粉流过时，受强磁棒的磁力吸引，磁性杂质会附着在不锈钢套筒的外壁。每隔5分钟，取出不 锈钢套筒，抽出其中的强磁棒，用清水冲洗不锈钢套筒，将附着在外壁上的磁性杂质颗粒收集，多次收集至无磁性杂质吸附，然后烘干称重，即可得出硅微粉中磁性杂质的含量。上述实施例仅是本技术的较佳实施方式，详细说明了本技术的技术构思和实施要点，并非是对本技术的保护范围进行限制，凡根据本技术精神实质所作的任何简单修改及等效结构变换或修饰，均应涵盖在本技术的保护范围之内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于测试硅微粉中磁性杂质含量的装置，包括一个容器及置入所述容器内的搅拌器，其特征在于，所述容器内安装有内置磁棒的金属套筒。

【技术特征摘要】
1.一种用于测试硅微粉中磁性杂质含量的装置，包括一个容器及置入所述容器内的搅拌器，其特征在于，所述容器内安装有内置磁棒的金属套筒。2.根据权利要求I所述的一种用于测试硅微粉中磁性杂质含量的装置，其特征在于，所述磁棒为钕铁硼磁铁。3.根据权利要求I所述的...

【专利技术属性】
技术研发人员：曹宇，周建民，吴兵，王利，
申请(专利权)人：蚌埠中凯电子材料有限公司，
类型：实用新型
国别省市：