一种测定氧化锡电极材料中杂质含量的方法技术

本发明专利技术公开了一种测定氧化锡电极材料中杂质含量的方法，该方法包括：将氧化锡电极加入作为熔剂的按特定比例混合的四硼酸锂和偏硼酸锂进行熔样，冷却后取出熔片，加入水和无机强酸将其溶解，得到待测液，然后采用电感耦合等离子体发射光谱仪测定待测液。采用本发明专利技术的方法可将高致密性的氧化锡电极材料完全溶解，制样简单，可以测定氧化锡电极中多种杂质元素，且测定结果准确，分析误差小。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及无机材料测试方法，具体地，涉及一种测定氧化锡电极材料中杂质含量的方法。
技术介绍
氧化锡电极是玻璃电熔用四大电极之一，在TFT玻璃窑炉广泛的作为电助熔材料使用，用于电加热玻璃液。通常所见掺杂形式有，Sb2O3-CuO-ZnO、Sb2O3-CuO、Sb2O3-V2O3、Sb2O3-CuO-MnO2、ZnO-Nb2O3等。不同的掺杂形式将直接影响着氧化锡电极的致密性、电阻特性和抗侵蚀能力。为此，必须对氧化锡电极的掺杂组分进行分析测定，以求得到性能优良的氧化锡电极，并对其质量进行监控，该分析测定在对产品具有高品质要求的TFT玻璃生产行业尤为必要。目前，对氧化锡电极中杂质元素含量的检测方法各不相同，一般采用火焰原子吸收光谱法、分光光度法或电感耦合等离子体原子发射光谱法。而采用这些方法首先要解决的问题是将试样制备成溶液。由于氧化锡电极材料具有较高的致密性和抗侵蚀能力，很难溶解，传统的溶解氧化锡的方法为加入强酸或强碱，但大量实验证据表明，传统的酸溶或碱溶法都不能充分的溶本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测定氧化锡电极材料中杂质含量的方法，其中，该方法包括以下步骤：(1)将氧化锡电极进行熔样，冷却后取出熔片，加入水和无机强酸将其溶解，得到待测液，其特征在于，在所述熔样的过程中还加入作为熔剂的四硼酸锂和偏硼酸锂，其中，所述氧化锡电极和熔剂的质量比为1：(5‑30)；(2)建立用于测定杂质含量的标准曲线，并依据标准曲线，采用电感耦合等离子体发射光谱仪测定步骤(1)所得的待测液。

【技术特征摘要】
1.一种测定氧化锡电极材料中杂质含量的方法，其中，该方法包括以
下步骤：
(1)将氧化锡电极进行熔样，冷却后取出熔片，加入水和无机强酸将
其溶解，得到待测液，其特征在于，在所述熔样的过程中还加入作为熔剂的
四硼酸锂和偏硼酸锂，其中，所述氧化锡电极和熔剂的质量比为1：(5-30)；
(2)建立用于测定杂质含量的标准曲线，并依据标准曲线，采用电感
耦合等离子体发射光谱仪测定步骤(1)所得的待测液。
2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述步骤(1)中的所述四硼酸
锂和偏硼酸锂的质量比为1：(2-10)。
3.根据权利要求2所述的方法，其中，所述四硼酸锂和偏硼酸锂的质
量比为1：(5-8)。
4.根据权利要求1所述的方法，其中，所述步骤(1)中的所述水和无
机强酸的质量比为(5-120)：1。
5.根据权利要求1所述的方法，其中，...

【专利技术属性】
技术研发人员：韩文梅，
申请(专利权)人：东旭科技集团有限公司，东旭集团有限公司，
类型：发明
国别省市：北京;11