一种检测二氧化锡电极砖中各成分含量的方法技术

一种检测二氧化锡电极砖中各成分含量的方法，上述方法用于对二氧化锡电极砖中的二氧化锡、氧化铜、氧化锑三种成分含量测定，关键在于包括以下步骤：检测之前要用分析纯四硼酸锂做溶剂加4N级二氧化锡、4N级氧化铜、4N级氧化锑熔制系列标准样品，建立标准工作曲线；再用分析纯四硼酸锂作为溶剂于白金坩埚内高温熔制待测二氧化锡电极砖粉末成荧光仪要求的样片，作为待测样品；最后将待测样品用工作曲线检测分析其二氧化锡电极砖成分。本发明专利技术利用分析纯四硼酸锂熔制标样和待测样品，利用荧光仪检测稳定快速的特点进行检测，一个样品整个过程为熔样（自动进行）、检测（仪器检测），时间在25min之内，可以排除化学滴定认为造成的误差，同时解放劳动力，提高科技含量。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种二氧化锡电极砖中各成分的理化分析方法，特别是一种高效、快 速、准确检测二氧化锡电极砖中二氧化锡、氧化铜、氧化锑成分含量的方法。
技术介绍
现研究表明：二氧化锡电极砖是常见玻璃生产的加热电极，要求耐玻璃液侵蚀，耐 高温（1500°C以上)、高温电阻率下要达到一定要求，二氧化锡电极砖在窑炉内一旦安装应 用不能更换，直到炉体寿命结束。其成分是决定以上物理化学性质的关键因素，合格与否直 接决定玻璃生产成败及玻璃基板的质量，故准确、快速检测二氧化锡电极砖成分对控制玻 璃基板质量稳定起着关键性的作用。 由于二氧化锡能耐强酸强碱，是一种非常稳定的物质，因而对其中杂质含量的 测定构成一定难度，而经过高温烧结的二氧化锡电极更是难以进行样品的前处理。目前， 测定二氧化锡电极中铜、锑等成分的方法有原子吸收光谱法、电感耦合等离子体原子发射 光谱法和分光光度法，但是这些方法都有各自弊端。 原子吸收光谱法、电感耦合等离子体原子发射光谱法和分光光度法都需要进行样 品前处理，样品前处理方法有碱熔融法、酸溶浸法，其中碱熔融法过程复杂繁琐；酸溶浸 法不易将二氧化锡电本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种检测二氧化锡电极砖中各成分含量的方法，上述方法用于对二氧化锡电极砖中的二氧化锡、氧化铜、氧化锑三种成分含量测定，其特征在于包括以下步骤：A、分别将4N级二氧化锡、4N级氧化铜、4N级氧化锑进行灼烧，然后降温、冷却，之后置于称量瓶中盖盖，待用；B、分别绘制二氧化锡、氧化铜、氧化锑含量的标准工作曲线：分别称取步骤A所得的4N级二氧化锡、4N级氧化铜、4N级氧化锑以作为溶质、分析纯四硼酸锂作为溶剂熔制系列标准样品、并利用荧光仪记录该系列标准样品所对应的荧光强度值，再分别以二氧化锡、氧化铜、氧化锑百分含量为横坐标、以荧光强度为纵坐标绘制各成分标准工作曲线；C、待测二氧化锡电极砖中各成分含量的确定：...

【技术特征摘要】
1. 一种检测二氧化锡电极砖中各成分含量的方法，上述方法用于对二氧化锡电极砖中 的二氧化锡、氧化铜、氧化锑三种成分含量测定，其特征在于包括以下步骤： A、 分别将4N级二氧化锡、4N级氧化铜、4N级氧化锑进行灼烧，然后降温、冷却，之后置 于称量瓶中盖盖，待用； B、 分别绘制二氧化锡、氧化铜、氧化锑含量的标准工作曲线： 分别称取步骤A所得的4N级二氧化锡、4N级氧化铜、4N级氧化锑以作为溶质、分析纯 四硼酸锂作为溶剂熔制系列标准样品、并利用荧光仪记录该系列标准样品所对应的荧光强 度值，再分别以二氧化锡、氧化铜、氧化锑百分含量为横坐标、以荧光强度为纵坐标绘制各 成分标准工作曲线； C、 待测二氧化锡电极砖中各成分含量的确定： 将待测二氧化锡电极砖粉末烘干，用烘干后的粉末为溶质、分析纯四硼酸锂作为溶剂 熔制待测样品，利用荧光仪检测待测样品的荧光强度值，然后再从步骤B建立的标准工作 曲线中查找该荧光强度值对应的二氧化锡、氧化铜、氧化锑的百分含量。2. 根据权利要求1所述的一种检测二氧化锡电极砖中各成分含量的方法，其特征在于 步骤A中分别取4N级二氧化锡、4N级氧化铜、4N级氧化锑置于盖盖的白金坩埚内，放入升 温至900-1000°C的马弗炉内灼烧0. 5-1. 5小时，然后取出冷却3-5min，转入干燥器内，再 冷却10-20min后转移至称量瓶内盖上瓶盖等待熔制系列标准样品。3. 根据权利要求1所述的一种检测二氧化锡电极砖中各成分含量的方法，其特征在于 步骤B中的标准工作曲线的二氧化锡百分含量的设计范围为97. 5-99. 99%，氧化铜百分含 量的设计范围为〇...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘泽文，张广涛，李俊锋，冯群志，安利营，王俊峰，
申请(专利权)人：东旭集团有限公司，
类型：发明
国别省市：河北;13