一种用于垂直发光二极管的测试分选装置制造方法及图纸

技术编号:7889723 阅读:198 留言:0更新日期:2012-10-22 22:37
一种用于垂直发光二极管的测试分选装置,涉及光电技术领域。本发明专利技术包括待测试盘、测试盘、分选盘和测试系统。其结构特点是,所述待测试盘、测试盘和分选盘都设为可旋转、水平移动及上下移动的圆盘。置于测试盘一侧的待测试盘上置有芯片,分选盘置于测试盘的另一侧。测试盘上表面一圈均布多个放置槽,各放置槽底部连接真空管。测试盘上方与测试位置的放置槽的对应处置有探头和探针,探头和探针分别与测试系统相连接。待测试盘和测试盘之间设有能旋转换位的测试吸嘴,分选盘和测试盘之间设有能旋转换位的分选吸嘴。本发明专利技术能自动实现对垂直结构LED芯片的测试和分选作业,具有操作简单、效率高的特点。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及光电
,特别是用于垂直发光二极管的测试分选装置
技术介绍
绿色环保的LED光源要用于照明领域,大功率、高效率是使其得以普及的关键要素。传统结构的LED芯片,也称正装结构LED,它的两个电极在同一面。另外一种垂直结构的LED芯片,它的上下电极分布在外延片的两个面。现有技术中对LED芯片的测试分选设备大部分是针对正装结构的。大致的方式是,将切割、裂解为单颗芯粒的正装结构LED芯片蓝宝石一面粘附于蓝膜上,用两个探针分别扎位于同一面的两个电极,测得其光电性,采用预先制定好的分类规则将这些不同 光电性能的芯片分成若干个类别,一个类别成为一个bin,然后输出一个分选文档。该文档包含的信息有芯片在蓝膜上的相对坐标、所属的bin以及其光电特性。将这个文档传输给分选设备,分选设备会根据这些信息,将一个个芯片分选到其所属的bin的蓝膜上去完成测试分选过程。垂直结构的LED芯片由于其电极位于芯片的两侧,采用传统的蓝膜上测试的方式是行不通的,因为蓝膜是绝缘体,粘附于蓝膜上的下电极无法连接至测试电源。而专用于垂直结构LED芯片的流水线作业形式的测试分选设备国内外还未见公开报道过。专利技本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于垂直发光二极管的测试分选装置,它包括待测试盘(102)、测试盘(104)、分选盘(110)和测试系统(108),其特征在于,所述待测试盘(102)、测试盘(104)和分选盘(110)都设为可旋转、水平移动及上下移动的圆盘,置于测试盘(104)一侧的待测试盘(102)上置有芯片(101),分选盘(110)置于测试盘(104)的另一侧,测试盘(104)上表面一圈均布多个放置槽(105),各放置槽(105)底部连接真空管,测试盘(104)上方与测试位置的放置槽(105)的对应处置有探头(107)和探针(106),探头(107)和探针(106)分别与测试系统(108)相连接,待测试盘(102)...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:刘颖
申请(专利权)人:同方光电科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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