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一种用于垂直发光二极管的测试分选装置，涉及光电技术领域。本发明包括待测试盘、测试盘、分选盘和测试系统。其结构特点是，所述待测试盘、测试盘和分选盘都设为可旋转、水平移动及上下移动的圆盘。置于测试盘一侧的待测试盘上置有芯片，分选盘置于测试盘的另...
该专利属于同方光电科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过同方光电科技有限公司授权不得商用。

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