一种电磁干扰测试用之电磁产生装置，用于测试电子装置内的各电子元件的电磁干扰。该装置包括一电源供应器及一探测器。电源供应器包括一电源输出端及一置地端。探测器包括一第一导磁部、一第二导磁部、一线圈。第一导磁部包括一第一连接端及一与第一连接端相对的第二连接端。第二导磁部焊接在第二连接端上。线圈绕设在第二导磁部上。该线圈包括一输入接头及一输出接头。输入接头与电源输出端相连接。输出接头与置地端相连接。本发明专利技术的电磁干扰测试用之电磁产生装置可实现单独测试各电子元件的电磁干扰。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及电子装置测试领域，尤其涉及一种电磁干扰测试用之电磁产生装置。
技术介绍
电磁兼容(Electro-Magnetic Compatibility, EMC)是指电子装置在各种电磁环境中仍能协调、有效地进行工作的能力。EMC设计的目的是使电子装置能抑制各种外来的干扰，使电子装置在特定的电磁环境中能够正常工作。因此，对电子装置进行抗电磁干扰测试显得尤为重要。现有的电磁干扰测试方法是将待测试的电子装置放置于ー磁场强度的磁场下，对整个待测试的电子装置的抗电磁干扰能力 进行测试，一旦会产生干扰就需对整个电子装置的电磁兼容性重新设计。因此，如何能快速地查找出电子装置内易受电磁干扰的小零件已成为业界研究的重要课题。
技术实现思路
鉴于以上内容，有必要提供ー种可单独对电子装置内的各电子元件进行电磁干扰测试的电磁干扰测试用之电磁产生装置。ー种电磁干扰测试用之电磁产生装置，用于测试电子装置内的各电子元件的电磁干扰。该装置包括一电源供应器及一探測器。电源供应器包括一电源输出端及一置地端。探測器包括一第一导磁部、一第二导磁部、ー线圈。第一导磁部包括一第一连接端及一与第一连接端相対的第二连接端。第二导磁部焊接在第二连接端上。线圈绕设在第二导磁部上。该线圈包括ー输入接头及ー输出接头。输入接头与电源输出端相连接。输出接头与置地端相连接。与现有技术相比，本专利技术的电磁干扰测试用之电磁产生装置可将电源供应器输出的电流通过探测器内的线圈转化为磁场，并通过探測器内的第二导磁部及第ー导磁部传导至待测试的电子装置内的各电子元件，因此，可实现单独测试各电子元件的电磁干扰。如此，一旦该电子装置受到电磁干扰，只需对该电子装置内产生电磁干扰的电子元件的位置进行重新设计，以满足电磁兼容性的设计要求，而无需对整个电子装置的电磁兼容性进行重新设计。附图说明图I是本专利技术电磁干扰测试用之电磁产生装置的示意图；图2是图I中的电磁干扰测试用之电磁产生装置的探測器的结构示意图；图3是本专利技术电磁干扰测试用之电磁产生装置的使用状态图。主要元件符号说明电磁干扰测试用之电磁产生装置100探测器10电源供应器20第一导磁部11第二导磁部12线圈13绝缘部14第一连接端111第二连接端112第三连接端121第四连接端122 输入接头131输出接头132收容部140开ロ142机箱21电源输入线22电压调节按钮23电源输出端24置地端25电压转换电路26电子元件200如下具体实施方式将结合上述附图进ー步说明本专利技术。具体实施例方式请ー并參阅图I与图2，本专利技术实施方式提供的电磁干扰测试用之电磁产生装置100，其用于测试电子装置内的电子元件的电磁干扰。该电磁干扰测试用之电磁产生装置100包括一探測器10及ー电源供应器20。本实施方式中，所述待测试的电子装置为电脑。所述探测器10为圆珠笔状，包括一第一导磁部11、一第二导磁部12、ー线圈13、及一绝缘部14。所述第一导磁部11由磁场系数接近4000的非导电性的导磁材料制成，如锰(Mn)、锌(Zn)、铆螺2号钢(ML2)中的至少ー种。所述第一导磁部11包括一第一连接端111及一与所述第一连接端111相対的第二连接端112。所述第一连接端111为ー锥状。所述第二导磁部12为ー纯铁棒，其磁场系数为4000。该第二导磁部12包括一第三连接端121及一与所述第三连接端121相対的第四连接端122。所述第三连接端121通过焊接的方式与所述第一导磁部11的第二连接端112相固接。所述线圈13绕设在所述第二导磁部12上且靠近所述第四连接端122。所述线圈13包括ー输入接头131及ー输出接头132。所述绝缘部14为ー内空柱状结构,包括一收容部140。所述绝缘部14的顶端开设有一与所述收容部140相连通的开ロ 142。所述绝缘部14套设在所述第二导磁部12上且所述收容部140收容所述线圈13。所述线圈13的输入接头131及输出接头132均通过所述开ロ 142露出于所述绝缘部14外。所述电源供应器20包括一机箱21、ー电源输入线22、四个电压调节按钮23、ー电源输出端24、一置地端25及一电压转换电路26。所述电源输入线22、四个电压调节按钮23、电源输出端24、置地端25均设置在所述机箱21上。所述电压转换电路26设置在所述机箱21内且分别与所述电源输入线22、电源输出端24及电压调节按钮23相电性连接。所述电源输入线22用于接市电。所述电源输出端24与所述线圈13的输入接头131相连接。所述置地端25与所述线圈13的输出接头132相连接。所述四个电压调节按钮23用于调节所述电源输出端24输出不同的电压。本实施方式中，四个电压调节按钮23用于使电源输出端22分别输出3V、5V、10V、12V电压。具体地，当按压输出电压为5V的电压调节按钮23时，所述电压转换电路26将市电转化为5V并经所述电源输出端24输出至所述探测器10。可以理解的是，所述电源供应器20可以根据需求设置更多的电压调节按钮23，并不限于本实施方式。请ー并參阅图3，使用时，当需单独对电子元件，如电脑内的待测试的电子元件 200，进行电磁干扰测试时，首先，打开电脑，所述探测器10的第一导磁部11的第一连接端111对正所述待测试的电子元件200，按压所述电压调节按钮23，使电源供应器20输出5V电压至所述线圈13。根据安培定律载流导线所载有的电流会产生磁场。因此，环绕所述第二导磁部12的通电线圈13会产生ー磁场强度的磁场，并通过所述第二导磁部12及第一导磁部11的第一连接端111传导至所述待测试的电子元件200上。然后，观听所述电脑有无发出“哧哧哧”的声响，或者观看电脑屏幕有无显示雪花点等异常现象。当有异常现象发生时，则证明该待测试的电子元件200的电磁耐受度差，需对该电子元件200的位置进行重新设计，以满足电磁兼容性的设计要求。本专利技术的电磁干扰测试用之电磁产生装置可将电源供应器输出的电流通过探测器内的线圈转化为磁场，并通过探测器内的第二导磁部及第一导磁部传导至待测试的电子装置内的各电子元件，因此，可实现单独测试各电子元件的电磁干扰。如此，一旦该电子装置受到电磁干扰，只需对该电子装置内产生电磁干扰的电子元件的位置进行重新设计，以满足电磁兼容性的设计要求，而无需对整个电子装置的电磁兼容性进行重新设计。可以理解的是，对于本领域的普通技术人员来说，可以根据本专利技术的技术构思做出其它各种相应的改变与变形，而所有这些改变与变形都应属于本专利技术权利要求的保护范围。本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种电磁干扰测试用之电磁产生装置，用于测试电子装置内的各电子元件的电磁干扰，该电磁干扰测试用之电磁产生装置包括电源供应器，该电源供应器包括一电源输出端及一置地端，其特征在于所述电磁干扰测试用之电磁产生装置进ー步包括一探測器，所述探測器包括一第一导磁部、一第二导磁部、ー线圈，所述第一导磁部包括一第一连接端及一与所述第一连接端相対的第二连接端，所述第二导磁部焊接在所述第二连接端上，所述线圈绕设在所述第二导磁部上，该线圈包括ー输入接头及ー输出接头，所述输入接头与所述电源输出端相连接，所述输出接头与所述置地端相连接。2.如权利要求I所述的电磁干扰测试用之电磁产生装置，其特征在于所述第一导磁部由磁场系数接近4000的非导电性的导磁材料制成。3.如权利要求2所述的电磁干扰测试用之电磁产生装置，其特征在于所述第一导磁部为锰、锌、铆螺2号钢中的至少ー种材料制成。4.如权利要求I所述的电磁干扰测试用之电磁产生装置，其特征在于所述第二导磁部为纯铁棒。5.如权利要求4所述的电磁干扰测试用之电磁产生装置，其特征在于该第二导磁部包括一第三连接端及一与所述第三连接端相対的第四连接端，所述第三连接端通过焊接的方式与所述第一导磁部的第二连接...
【专利技术属性】
技术研发人员：王政松，
申请(专利权)人：鸿富锦精密工业深圳有限公司，鸿海精密工业股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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