一种LCR测试仪制造技术

技术编号:7713881 阅读:194 留言:0更新日期:2012-08-25 12:36
一种LCR测试仪,包括处理器,所述的LCR测试仪还包括依次相互连接的信号源、标准电阻组、被测元件、差分电路、DA可控放大电路及AD采集电路,信号源的输入端与处理器的输出端连接,AD采集电路的输出端与处理器的输入端连接。LCR测试仪还包括与处理器的输出端相连的液晶显示电路及语音自动读数电路。标准电阻组的电阻之间为并联连接,标准电阻的阻值范围为10欧~1兆欧。被测元件包括电感、电容及电容。所述的处理器内部设置有自动切换量程电路及自动校准电路。本实用新型专利技术外观小巧,便于携带,价格便宜,采用四线制测量方案和阻抗比较法,具有自动校准功能,测量精密,并且无需手动切换量程;最终测量结果通过语音说出,方便实用。(*该技术在2022年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及ー种测试仪器,特别是涉及ー种LCR测试仪
技术介绍
电感、电容、电阻參数測量仪,不仅能自动判断元件性质,而且能将符号图形显示出来,并显示出其值。其还能测量9、0、2、14)、し8、0 、08、恥、1(8等參数,且显示出等效电路图形。目前主流的LCR测试仪因为采用的是数字电桥原理,因此机箱体积大,价格昂贵,很不方便使用,不能得广泛的普及,并且很多测试仪都是两线信号线引出测试,也没有校正功能,这样就会增加测量时的误差,还有就是测量结果都是液晶显示,很少具有语音自动读 数功能。
技术实现思路
本技术的目的在于克服现有技术的不足,提供ー种LCR测试仪,结构简单,夕卜观小巧便于携帯,且价格便宜,能对电感、电容和电阻进行全自动测量。为了达到上述目的,本技术采用的技术方案是ー种LCR测试仪,包括处理器,所述的LCR测试仪还包括依次相互连接的信号源、标准电阻组、被测元件、差分电路、DA可控放大电路及AD采集电路,信号源的输入端与处理器的输出端连接,AD采集电路的输出端与处理器的输入端连接。进ー步的,所述的LCR测试仪还包括与处理器的输出端相连的液晶显示电路及语音自动读数电路。进ー步的,所述的标准电阻组的电阻之间为并联连接,标准电阻的阻值范围为10欧 I兆欧,且分为六个量程。进ー步的,所述的被测元件包括电感、电容及电容。进ー步的,所述的测试仪的电阻的测试范围是O. 02欧 299兆欧,电容测试范围是IPF 999UF,电感测试范围是O. OOOlmH 999H。进ー步的,所述的处理器内部设置有自动切換量程电路及自动校准电路。进ー步的,所述的处理器还包括连接在处理器输入端的一温度传感器。与现有技术相比,本技术的有益效果是产品小巧,便于携带,价格便宜,采用四线制测量方案和阻抗比较法,具有自动校准功能,能对L、C、R进行精密測量,并且无需手动切换量程,全自动测量;本产品还装有ー个温度传感器,实时监测测试环境,反映不同环境下被测元件的參数;最终测量结果可通过语音说出,方便实用。附图说明图I为本技术的电路原理框图。具体实施方式下面结合实施例參照附图进行详细说明,以便对本技术的技术特征及优点进行更深入的诠释。本技术的原理框图如图I所示,ー种LCR测试仪,包括处理器,所述的LCR测试仪还包括依次相互连接的信号源、标准电阻组、被测元件、差分电路、DA可控放大电路及AD米集电路,信号源的输入端与处理器的输出端连接,AD米集电路的输出端与处理器的输入端连接。进ー步的,所述的LCR测试仪还包括与处理器的输出端相连的液晶显示电路及语音自动读数电路。所述的液晶为12864液晶,12864是128*64点阵液晶模块的点阵数简称,业界约定俗成的简称。 进ー步的,所述的标准电阻组的电阻之间为并联连接,标准电阻的阻值范围为10欧 I兆欧,且分为六个量程。进ー步的,所述的被测元件包括电感、电容及电容。进ー步的,所述的测试仪的电阻的测试范围是O. 02欧 299兆欧,电容测试范围是IPF 999UF,电感测试范围是O. OOOlmH 999H。进ー步的,所述的处理器内部设置有自动切換量程电路及自动校准电路。进ー步的,所述的处理器还包括连接在处理器输入端的一温度传感器。本技术利用阻抗比较法,通过标准电阻组的六个精密电阻和被测元件进行信号电压比,经过差分电路、DA可控放大电路,再通过十六位AD采集电路对信号进行采集,由单片机计算最终參数。六个已知电阻的范围是10欧 I兆欧,经过内部电路的调节,电阻的测试范围是O. 02 Ω 299ΜΩ,电容测试范围是IPF 999UF,电感测试范围是O. OOOlmH 999H,本技术的LCR测试仪能满足日常使用。由于内部使用的是阻抗比较法,因此所有的电路可以集成化,且做的外观比较小,降低了生产成本,能使LCR测试仪普及起来,尤其是普通的用户。本产品的自动量程切换是通过处理器单片机内部的控制反馈实现的,首先选择通过ー个标准电阻和被测元件进行比较,经过DA可控放大电路后,再经过AD采集信号返回单片机处理数据计算,从标准电阻组内选出和被测元件阻抗最相近的精密电阻再次进行比较,最后得出准确地參数。本技术使用AD9833 DDS信号发生芯片作为处理器信号的输出,能产生O 10MHZ的信号作为信号源,能提供可靠稳定的信号输出,确保了测量的准确度。为减少各电路连接之间测试线对测量的干扰,本产品采用了四线测试制,而且还具有自动校准エ能,尽可能地減少因为内部电路而造成的系统误差。本技术另外增加一温度传感器,实时监测测试环境,能使用户注意到环境对元器件的影响。本技术除了使用12864液晶显示数据,还增加了语音自动读数功能,使产品更加人性化,方便实用。上述实施例中提到的内容并非是对本技术的限定,在不脱离本技术的技术构思的前提下,任何显而易见的替换均在本技术的保护范围之内。本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.ー种LCR测试仪,包括处理器,其特征在于所述的LCR测试仪还包括依次相互连接的信号源、标准电阻组、被测元件、差分电路、DA可控放大电路及AD采集电路,信号源的输入端与处理器的输出端连接,AD采集电路的输出端与处理器的输入端连接。2.根据权利要求I所述的LCR测试仪,其特征在于所述的LCR测试仪还包括与处理器的输出端相连的液晶显示电路及语音自动读数电路。3.根据权利要求2所述的LCR测试仪,其特征在于所述的标准电阻组的电阻之间为并联连接,标准电阻的阻值范围为10欧 I兆欧,且分为六...

【专利技术属性】
技术研发人员:薛康佳杨雷余汝杰
申请(专利权)人:东莞理工学院
类型:实用新型
国别省市:

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