一种电子电器组件干扰判断装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种电子电器组件干扰判断装置，包括控制箱和TEM小室，所述控制箱包括第一壳体，所述第一壳体前端设有监控终端，所述监控终端的下端设有控制终端，所述第一壳体的内腔底面设有信号发生器，所述信号发生器的上端设有连接板，所述连接板的左上角设有功率放大器，所述功率放大器的前端设有衰减器，实现测试板高度可调节功能，并实现了精准的测量电器组件抗干扰的性能。

Electronic electric appliance assembly interference judging device

The utility model discloses an electronic component interference judging device comprises a control box and TEM chamber, wherein the control box comprises a first casing and the first casing is arranged at the front end of the lower end of the monitoring terminal, monitoring terminal is provided with a control terminal, the first case of the cavity bottom surface is provided with a signal generator, an upper end of the signal the generator is provided with a connecting plate, the connecting plate of the upper left corner of a power amplifier, the power amplifier is provided with a front end of said attenuator, test plate height adjustment function, and implementation of performance measurement precision anti-interference electrical components.

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及
，具体为一种电子电器组件干扰判断装置。
技术介绍
现实生活中家用电器会产生很多电磁波，危害人们身体健康，而且家用电器各个组件产生的电磁波很多时候会互相干扰，影响电器组件之间的性能，甚至会使电器组件失去原有的作用，所以生产厂家会检测电器组件的抗电磁干扰性来生产电器，但是老式的测电磁组件抗干扰性的装置一般为固定测量，有的时候固定测量因为高度原因会出现使测量不准确的后果，而且因为测量高度也会引起测量室内的电磁波混乱问题导致测量不准确，为此我们提出了一种电子电器组件干扰判断装置。
技术实现思路
本技术在于提供一种电子电器组件干扰判断装置，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种电子电器组件干扰判断装置，包括控制箱和TEM小室，所述控制箱包括第一壳体，所述第一壳体前端设有监控终端，所述监控终端的下端设有控制终端，所述第一壳体的内腔底面设有信号发生器，所述信号发生器的上端设有连接板，所述连接板的左上角设有功率放大器，所述功率放大器的前端设有衰减器，所述TEM小室包括第二壳体，所述第二壳体的两端均设有同轴连头，所述第二壳体内腔中部设有芯板，所述芯板下端设有放置架，所述放置架的中部设有放置孔，所述放置孔的四角处设有场强探头，所述第二壳体下端设有放置架控制箱，所述放置架控制箱的上表面四角处贯穿有螺纹杆，所述螺纹杆的下端设有第一齿轮，所述第一齿轮外侧啮合有链条，所述链条中部啮合有第二齿轮，所述第二齿轮下端固定连接有电机。所述控制终端单向电连接在电机和信号发生器上，所述信号发生器单向电连接在功率放大器上，所述功率放大器单向电连接在衰减器上，所述衰减器单向电连接在ＴＥＭ小室上，所述监控终端分别与测试板和场强探头单向电连接。优选的，所述同轴连接头上设有电阻。优选的，所述放置架的四角处设有螺纹孔。优选的，所述放置架控制箱的外表面设有电磁波隔离层。与现有技术相比，本技术的有益效果是：一种电子电器组件干扰判断装置，通过放置架的使用实现了测试板稳定放置，并且通过螺纹孔、螺纹杆和电机间的配合，实现了测试板的高度可调节，并且通过场强探头的使用实现了测试场强均匀，避免了老式固定高度测量的不准确。附图说明图1为本技术结构示意图；图2为本技术ＴＥＭ小室结构示意图；图3为本技术放置架与放置架控制箱连接示意图；图4为本技术放置架控制箱结构示意图；图5为本技术电磁波发射元件连接示意图；图6为本技术监测用电子元件连接示意图。图中：1控制箱、2TEM小室、21第二壳体、22同轴连头、23芯板、24放置架、25放置孔、26场强探头、27放置架控制箱、28螺纹杆、29第一齿轮、291链条、292第二齿轮、293电机、3第一壳体、4监控终端、5控制终端、6信号发生器、7连接板、8功率放大器、9衰减器、10电阻、11螺纹孔，12电磁波隔离层。具体实施方式下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。请参阅图1-6，本技术提供一种技术方案：一种电子电器组件干扰判断装置，包括控制箱1和TEM小室2，所述控制箱1包括第一壳体3，所述第一壳体3前端设有监控终端4，所述监控终端4的下端设有控制终端5，所述第一壳体3的内腔底面设有信号发生器6，所述信号发生器6的上端设有连接板7，所述连接板7的左上角设有功率放大器8，所述功率放大器8的前端设有衰减器9，实现产生电磁波；所述TEM小室2包括第二壳体21，所述第二壳体21的两端均设有同轴连头22，所述第二壳体21内腔中部设有芯板23，所述芯板23下端设有放置架24，所述放置架24的中部设有放置孔25，所述放置孔25的四角处设有场强探头26，所述第二壳体21的下端设有放置架控制箱27，所述放置架控制箱27的上表面四角处贯穿有螺纹杆28，所述螺纹杆28的下端设有第一齿轮29，所述第一齿轮29外侧啮合有链条291，所述链条291中部啮合有第二齿轮292，所述第二齿轮292下端固定连接有电机293，实现被测的测试板的可升降；所述控制终端5单向电连接在电机293和信号发生器6上，所述信号发生器6单向电连接在功率放大器8上，所述功率放大器8单向电连接在衰减器9上，所述衰减器9单向电连接在TEM小室2上，所述监控终端4分别与测试板和场强探头26单向电连接，实现了对检测电器元件抗干扰检测。具体而言，所述同轴连接头22上设有电阻10，实现增加TEM小室2的电磁波。具体而言，所述放置架24的四角处设有螺纹孔11，实现放置架24的可升降。具体而言，所述放置架控制箱27的外表面设有电磁波隔离层12，放置架控制箱27内产生电磁波影响TEM小室2内的测量。工作原理：本技术正在使用时将被测试的测试板放置在放置架24的放置孔25上，然后打开信号发生器6，开始产生电磁波，之后打开功率放大器8，将电磁波加强，然后打来衰减器9，使电磁波变为一种可测量频率的电磁波，之后将电磁波传入TEM小室2内，TEM小室2内芯板23将电磁波放大，同时通过控制终端4开启电机293，使螺纹杆28转动，来调节放置架24的高度，监控终端4同时监控四个场强探头26发来的数据，当场强探头26传来的数据相同时放置板24达到均匀电磁波内，同时通过监控终端4来监控被测的测试板的变化，同时通过信号发生器6来控制发出的电磁波的强弱，实现电子电器组件干扰判断。尽管已经示出和描述了本技术的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本技术的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本技术的范围由所附权利要求及其等同物限定。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电子电器组件干扰判断装置，包括控制箱（1）和TEM小室（2），所述控制箱（1）包括第一壳体（3），其特征在于：所述第一壳体（3）前端设有监控终端（4），所述监控终端（4）的下端设有控制终端（5），所述第一壳体（3）的内腔底面设有信号发生器（6），所述信号发生器（6）的上端设有连接板（7），所述连接板（7）的左上角设有功率放大器（8），所述功率放大器（8）的前端设有衰减器（9）；所述TEM小室（2）包括第二壳体（21），所述第二壳体（21）的两端均设有同轴连头（22），所述第二壳体（21）内腔中部设有芯板（23），所述芯板（23）的下端设有放置架（24），所述放置架（24）的中部设有放置孔（25），所述放置孔（25）的四角处设有场强探头（26），所述第二壳体（21）的下端设有放置架控制箱（27），所述放置架控制箱（27）的上表面四角处贯穿有螺纹杆（28），所述螺纹杆（28）的下端设有第一齿轮（29），所述第一齿轮（29）的外侧啮合有链条（291），所述链条（291）的中部啮合有第二齿轮（292），所述第二齿轮（292）下端固定连接有电机（293）；所述控制终端（5）单向电连接在电机（293）和信号发生器（6）上，所述信号发生器（6）单向电连接在功率放大器（8）上，所述功率放大器（8）单向电连接在衰减器（9）上，所述衰减器（9）单向电连接在TEM小室（2）上，所述监控终端（4）分别与测试板和场强探头（26）单向电连接。...

【技术特征摘要】
1.一种电子电器组件干扰判断装置，包括控制箱（1）和TEM小室（2），所述控制箱（1）包括第一壳体（3），其特征在于：所述第一壳体（3）前端设有监控终端（4），所述监控终端（4）的下端设有控制终端（5），所述第一壳体（3）的内腔底面设有信号发生器（6），所述信号发生器（6）的上端设有连接板（7），所述连接板（7）的左上角设有功率放大器（8），所述功率放大器（8）的前端设有衰减器（9）；所述TEM小室（2）包括第二壳体（21），所述第二壳体（21）的两端均设有同轴连头（22），所述第二壳体（21）内腔中部设有芯板（23），所述芯板（23）的下端设有放置架（24），所述放置架（24）的中部设有放置孔（25），所述放置孔（25）的四角处设有场强探头（26），所述第二壳体（21）的下端设有放置架控制箱（27），所述放置架控制箱（27）的上表面四角处贯穿有螺纹杆（28），所述螺纹杆（28）的...

【专利技术属性】
技术研发人员：陶水亮，
申请(专利权)人：陶水亮，
类型：新型
国别省市：广东;44