【技术实现步骤摘要】
本技术涉及一种半导体制造领域,尤其涉及一种校准模具。
技术介绍
目前,在半导体生产工艺车间内,一般采用晶圆盒传送晶圆。通常,现有的晶圆盒包括一面开口的盒体和盒盖,所述盒盖与盒体的开口处相配合,用于封闭所述盒体,所述盒体的内壁设有用于放置晶圆的若干槽,如图I所示,盒盖Iio上设有两排相对的固定件120即两排相对的外凸的卡条,所述两排固定件120和盒体内部的槽共同支撑并固定晶圆。晶圆盒在使用过程中,需要定期对盒盖110上的固定件120进行检修。现有的检测方法是维护人员用肉眼来判断固定件120是否发生变形或移位。如果固定件120发生变 形或移位,首先对其进行调整,若调整后能够复位的就继续使用,若调整后不能复位,就必须将盒盖上的整排固定件120更换。由于采用肉眼来判断固定件120,很大程度上依赖于维护人员的个人经验,容易出现误检。如果出现误检,在固定件120发生变形或移位情况下,晶圆不能被固定件120有效的固定,因此,在晶圆盒搬运过程中容易发生晶圆碰擦其他部件的现象,以致出现大量因碰擦产生的颗粒物质,这些颗粒物质会污染晶圆,导致晶圆良率下降。因此,如何提供一种能够精确校 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:沈祥江,
申请(专利权)人:中芯国际集成电路制造上海有限公司,
类型:实用新型
国别省市:
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。