本发明专利技术提供一种多层光记录介质，能够抑制层间串扰和共焦串扰，并使多层光记录介质的设计简洁化。一种多层光记录介质(10)，隔着中间层层积至少3层以上的记录再现层，该记录再现层能够通过照射光来再现信息，中间层的膜厚具有两种以下，除了距光入射面最远的记录再现层之外的剩余的所有的记再现层的光学常数彼此实质上相同。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及层积多个记录再现层的多层光记录介质，其中，该记录再现层能够通过照射光来再现信息。
技术介绍
在光记录介质的领域中，借助激光光源的短波长化和光学系统的高NA化，来提高记录密度。例如在Blu-ray Disc (BD 蓝光盘)规格的光记录介质中，能够使激光的波长为 405nm，开口数为0. 85，进行每1层25GB容量的记录再现。但是，利用这些光源和光学系统的努力达到极限，为了使记录容量进一步增大，谋求沿光轴方向多重记录信息的体积记录。 例如，在Blu-ray Disc(BD)规格的光记录介质中，提出了具有8层记录再现层(参照非专利文献1)或具有6层记录再现层(参照非专利文献幻的多层光记录介质。在多层光记录介质中，在对记录再现层的信息进行再现时，其他记录再现层的信号漏入或因其他记录再现层的影响产生的噪声(noise)漏入即所谓的串扰成为问题。该串扰会导致伺服信号和记录信号的恶化。该串扰包括层间串扰和共焦串扰(confocal crosstalk)这两类。层间串扰是指， 由与再现中的记录再现层相邻的记录再现层反射后的光漏入到再现光中而产生的现象。因此，在具有两层以上的记录再现层的多层光记录介质中必定成为问题。若增大层间距离，则该层间串扰会变小。共焦串扰是在具有3层以上的记录再现层的多层光记录介质中特有的现象，共焦串扰是指，在由再现中的记录再现层仅反射了一次的本来的再现光与由其他记录再现层反射了多次的杂散光(stray light)之间，彼此的光程一致而产生的现象。关于共焦串扰的产生原理，使用图11 图14进行说明。在如图11所示那样的多层光记录介质40中，为了进行再现或记录而会聚在LO记录再现层40d上的光束70因记录再现层的半透过性而分支成多个光束。在图12中示出如下现象从用于LO记录再现层40d 的记录再现的光束分支出的光束71由Ll记录再现层40c反射，并在L2记录再现层40b上聚焦，该反射光再次由Ll记录再现层40c反射而被检测出。在图13中示出如下现象从用于LO记录再现层40d的记录再现的光束分支出的光束72由L2记录再现层40b反射，并在光入射面40z上聚焦，该反射光再次由L2记录再现层40b反射而被检测出。在图14中示出如下现象从用于LO记录再现层40d的记录再现的光束分支出的光束73没有在其他记录再现层上聚焦，但依次由Ll记录再现层40c、L3 记录再现层40a、L2记录再现层40b反射而被检测出。与光束70进行比较，作为杂散光的光束71 73的光量小，但由于以相等的光程和相等的光束直径入射到光检测器，所以由干涉产生的影响大，由光检测器接受到的光量因微小的层间厚度的变化而显著变动，难以检测稳定的信号。另一方面，关于杂散光，反射的次数越多，因成为各记录再现层的反射率之积，而光量越减少，因此，在实际应用上考虑三次的多面反射的杂散光即可。在这些图11 图14所示的现象中，例如，若设定Tl = T2，则光束70和光束71的光程与光束直径相一致，同时入射到光检测器(光电检测器)而被检测。同样，若设定T1+T2 =T3+TC，则光束70和光束72的光程和光束直径相一致，另外，若设定T3 = Tl，则光束70 和光束73的光程和光束直径相一致。因此，为了避免共焦串扰，通常采用使所有的层间距离不同的方法。非专利文献1 I. Ichimura et. al.，Appl. Opt.，45，1794-1803 (2006)非专利文献2 :K. Mishima et. al. , Proc. of SPIE, 6282,628201 (2006)从上述说明可知，若要为了避免层间串扰而扩大层间距离，则难以在有限的厚度中增加记录再现层的叠层数。另外，若要为了避免共焦串扰而一边使所有层间距离不同一边增加记录再现层的叠层数，则需要准备各种膜厚的中间层，所以结果产生层间距离变大的问题。其结果存在如下问题，即，距离光入射面最远的记录再现层远离开光入射面，对于倾斜等下的彗形象差产生不利作用。进而，有时在各记录再现层上必须形成凹槽(grrove)/平台(land)等的循迹控制用的凹凸。此时，由于需要利用压模在各中间层上形成凹凸，所以容易在中间层的膜厚上产生误差。因此，若要预先考虑该成膜误差的影响来使各中间层的膜厚不同，则需要将膜厚差设定得大，所以存在使多层光记录介质的厚度越来越大的问题。另外，为了容易进行记录再现装置侧的控制，在多层光记录介质中，通常使记录再现层的层积状态的反射率(即，在向所完成的多层光记录介质的各记录再现层照射光时， 根据入射光和反射光的比率求出的反射率)在各记录再现层间彼此一致，或者使记录时的激光功率的值在记录再现层间彼此接近。因此，需要使构成各记录再现层的膜材料、膜结构、膜厚等在各层最佳化，与此对应，在记录再现装置侧的记录条件(例如，记录策略和照射脉冲波形)也必须在各层最优化。不管怎样，在现有的思想下，越使记录再现层的叠层数增大，越担心多层光记录介质的制造侧和记录再现装置的设计侧双方的负担。
技术实现思路
本专利技术是鉴于上述问题而提出的，其目的在于提供一种多层光记录介质，在使记录再现层多层化时，能够抑制由串扰引起的信号品质的恶化，并能够使多层光记录介质的设计简洁化，进而，能够使记录再现装置侧的记录再现控制简略化。通过本专利技术人的潜心研究，上述目的通过以下的手段来实现。S卩，用于达成上述目的本专利技术为一种多层光记录介质，隔着中间层来层积至少3 层以上的记录再现层，该记录再现层能够通过照射光来再现信息，其特征在于，所述中间层的膜厚具有两种以下，除了距光入射面最远的所述记录再现层之外的剩余的所有的所述记再现层的光学常数彼此实质上相同。用于达成上述目的的多层光记录介质与上述专利技术相关，其特征在于，包括距所述光入射面最远的所述记录再现层在内的所有的所述记录再现层的光学常数彼此实质上相同。用于达成上述目的的多层光记录介质与上述专利技术相关，其特征在于，用于构成所述光学常数彼此实质上相同的所述记录再现层的材料组分以及膜厚实质上相同。用于达成上述目的的多层光记录介质与上述专利技术相关，其特征在于，隔着所述记录再现层交替层积有具有第一膜厚的第一中间层和具有比所述第一膜厚更厚的第二膜厚的第二中间层。用于达成上述目的的多层光记录介质与上述专利技术相关，其特征在于，所述第一膜厚大致为12 μ m,所述第二膜厚大致为16 μ m。根据本专利技术，在多层光记录介质中，能够抑制层间串扰和共焦串扰，并能够使多层光记录介质的设计简洁化。另外，也能够使记录再现装置侧的记录再现控制简洁化。附图说明图1是表示本专利技术第一实施方式的多层光记录介质和对该多层光记录介质进行记录再现的光读写头(optical pickup)的概略结构的图。图2是表示该多层光记录介质的层积结构的剖视图。图3是表示该多层光记录介质的反射率和吸收率的图表以及曲线图。图4是表示该多层光记录介质的膜厚结构的图。图5是表示向本专利技术的实施例的多层光记录介质照射再现光时的反射光的波形的图。图6是表示向本专利技术的比较例的多层光记录介质照射再现光时的反射光的波形的图。图7是用于说明本专利技术的多层光记录介质的基本概念的再现光的状态的图。图8是表示用于说明本专利技术的多层光记录介质的基本概念的杂散光的状态本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
...
【专利技术属性】
技术研发人员：菊川隆，井上素宏，小须田敦子，丑田智树，平田秀树，
申请(专利权)人：TDK股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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