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光记录介质和光记录介质的制造方法技术

技术编号:8629661 阅读:235 留言:0更新日期:2013-04-26 18:39
本发明专利技术涉及光记录介质和光记录介质的制造方法,其能使合适的回放信号从光记录介质中属于条码形记录区域(BCA)的区域获取。从轨迹线方向看交替的高反射率区域和低反射率区域分别以连续状态在轨迹节距方向形成条码形反射图案,由此提供利用反射图案记录信息的记录区域(BCA)。在BCA中,低反射率区域由多行凹坑构成。另外,高反射率区域和低反射率区域形成为满足公式S+M/2≤0.6H,其中,从高反射率区域的反射束获取的回放信号的信号电平表示为“H”,从低反射率区域的反射束获取的回放信号的信号电平表示为“S”,从低反射率区域的反射束获取的回放信号的调制度表示为“M”。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及诸如光盘的光记录介质及其制造方法。更特别地,本专利技术涉及一种光记录介质上的条码形图案中记录有信息的区域。引用列表专利文献专利文献1:日本专利申请公开号2005-51805
技术介绍
已知诸如蓝光光盘(注册商标)和DVD (数字通用光盘)的光盘在光盘内周侧的预定区域内设有条码形记录区域。其称为BCA (Burst Cutting Area, 二进制位组截断区)。该BCA具有形成具有不同反射率的区域的径向图案,使BCA成为不需要跟踪便可读取信息的区域。另外,特别地,在制造成大体积的光盘中,BCA用作可附着有光盘的特有信息,例如,关于序列号的信息的区域。在常规BCA中,光盘在制造步骤之后完整,随后,由BCA记录装置将每个光盘的序列号、光盘信息等脱机写入信号区域的进一步内周(例如,半径为21至22_的区域),从而对其进行管理。BCA为高反射率区域和低反射率区域在从轨迹线方向扫描时交替出现的图案,信息可根据每个区域的反射光的级别读取。为了形成低反射率区域,BCA记录装置输出高功率激光,以通过烧去反射膜而形成该区域。
技术实现思路
本专利技术要解决的问题如上所述,BCA记录每个光盘的独有信息,由此,信息被写入制造的每个光盘内,因此,要求每条生产线上有昂贵的专用BCA记录装置,存在增加制造成本的问题。另一方面,可能期望将相同的信息而不是每个光盘的独有信息记录到稍微复杂的光盘组的BCA中。例如,记录生产线的独有信息便是这种情况。本专利技术的一个目的在于提供一种适用于这种情况的BCA模式和光记录介质的制造方法。问题解决方案根据本专利技术的光记录介质,通过形成高反射率区域和低反射率区域而形成有条码形反射图案,从轨迹线方向看交替出现的高反射率区域和低反射率区域以分别在轨迹节距方向连续的状态形成,所述光记录介质包括利用反射图案记录信息的记录区域,其中,低反射率区域由凹坑列形成,高反射率区域和低反射率区域被形成为满足S+M/2 ( 0. 6H,其中,从高反射率区域的反射光获取的再现信号的信号电平表示为“H”,从低反射率区域的反射光获取的再现信号的信号电平表示为“S”,且从低反射率区域的反射光获取的再现信号的调制度表示为“M”。根据本专利技术的光记录介质通过形成高反射率区域和低反射率区域而形成有条码形反射图案,从轨迹线方向看交替出现的高反射率区域和低反射率区域以分别在轨迹节距方向连续的状态形成,所述光记录介质包括利用反射图案记录信息的记录区域,其中,记录区域利用NA为0. 85的光学系统发射的波长为405nm的激光进行再现,并且,在低反射率区域中,轨迹线方向的空间频率由1667条/mm或以上的凹坑列形成。光记录介质为盘形光记录介质,高反射率区域和低反射率区域分别在径向方向上呈放射状连续,并由此形成条码形反射图案,其中,径向方向为轨迹节距方向。在低反射率区域的凹坑列中,凹坑部分与平面部分的比例为50±5%。在低反射率区域的凹坑列中,轨迹节距方向上的相邻凹坑列互相重叠。高反射率区域为未形成凹坑列的镜面部分。高反射率区域由凹坑列或组形成,从凹坑列或组获得的再现信号电平高于低反射率区域中的凹坑列。本专利技术的制造方法为光记录介质的制造方法,光记录介质形成有具有高反射率区域和低反射率区域的记录区域,该制造方法包括原始盘制造步骤,基于记录信息制造具有不平坦图案的原始盘;压模制作步骤,制作转印有原始盘的不平坦图案的压模;衬底模制作步骤,制作转印有压模的不平坦图案的衬底;以及,光记录介质形成步骤,通过在衬底上形成预定层状结构而形成光记录介质。在原始盘制造步骤中,在原始盘上形成相当于包括高反射率区域和低反射率区域的记录区域的不平坦图案,以在光记录介质形成步骤中形成的光记录介质上形成记录区域。本专利技术的上述技术采用(例如)这种思想在诸如BCA的条码形记录区域中,低反射率区域由凹坑列形成。高反射率区域可以具有比低反射率区域中的凹坑列高的反射率。例如,低反射率区域由凹坑列形成时,凹坑列基于空间频率限制形成,以及基于高反射率区域和低反射率区域的每个再现信号电平与调制度之间的关系形成。由此,当低反射率区域由凹坑列形成时,可形成适当的记录区域(BCA)。专利技术效果根据本专利技术,低反射率区域并非通过烧去反射膜而形成,而是通过形成凹坑列而形成,因此,条码形记录区域可在(例如)母盘制造步骤的阶段形成。因此,其适于提高光记录介质的制造步骤的效率,并降低成本。进一步,根据高反射率区域和低反射率区域的每个再现信号电平、调制度以及空间频率限制,在低反射率区域中形成凹坑列时,可从记录区域获取高质量再现信号,可获得适当条码形记录区域。附图说明图1为示出根据本专利技术实施方式的BCA的说明图。图2为说明根据第一实施方式的BCA的低反射率区域和高反射率区域的说明图。图3为根据第一实施方式的BCA的示意性说明图。图4为示出常规BCA的示意性说明图。图5为常规BCA和本实施方式的再现信号波形的说明图。图6为示出信号的定义的说明图,用于解释第二实施方式。图7为示出空间频率为600,800的情况下的低反射率区域的再现电平和调制度的说明图。图8为示出空间频率为1000,1300的情况下的低反射率区域的再现电平和调制度的说明图。图9为示出空间频率为1667的情况下的低反射率区域的再现电平和调制度的说明图。图10为示出空间频率为2500,3000的情况下的低反射率区域的再现电平和调制度的说明图。图11为示出空间频率为3500,4000的情况下的低反射率区域的再现电平和调制度的说明图。图12为示出第三实施方式的BCA的示意性说明图。图13为示出根据第四实施方式的低反射率区域和高反射率区域的说明图。图14为示出根据第四实施方式的BCA的示意性说明图。图15为示出第四实施方式的BCA中的再现信号波形的说明图。图16为示出根据第四实施方式的表面密度的说明图。图17为示出第四实施方式 的改型的说明图。图18为示出该实施方式的光盘制造步骤的流程图。图19为示出该实施方式的光盘制造步骤的说明图。图20为示出该实施方式的光盘制造步骤的说明图。图21为根据该实施方式的原始盘制作装置的框图。具体实施例方式在下文中,本专利技术的实施方式将按以下顺序说明。〈1.实施方式概述〉<2.第一实施方式><3.第二实施方式>〈4 第三实施方式〉〈5 第四实施方式〉<6.光盘制造步骤〉〈1.实施方式概述〉下文将对该实施方式的光盘进行说明。该实施方式的光盘可实施为,例如,高密度光盘压片法的范围内的ROM型光盘,称为蓝光光盘,进一步,可实施为一次写入型光盘(BD-R)或可重写型光盘(BD-RE)。下文将对根据该实施方式的高密度光盘的物理参数的实例进行解释。该实例的光盘具有直径为120mm光盘厚度为1. 2mm的光盘尺寸。在外观方面,这些特征与⑶(压缩光盘)压片法的光盘和DVD (数字多用光盘)压片法的光盘相同。用于记录和再现的激光器采用所谓的蓝色激光(例如,波长\ =405nm),光学系统具有高NA (例如,NA=O. 85)。进一步,还达到窄轨迹节距(例如,轨迹节距=0. 32iim)和高线密度(例如,记录线密度0. 112 ii m/bit)。由此,直径为12cm的光盘的用户数据容量达到约23G至25GB (千兆本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2010.08.19 JP 2010-184371;2011.07.15 JP 2011-156271.一种光记录介质,通过形成高反射率区域和低反射率区域而形成有条码形反射图案,从轨迹线方向看交替出现的所述高反射率区域和所述低反射率区域以分别在轨迹节距方向连续的状态形成,所述光记录介质包括利用所述反射图案记录信息的记录区域, 其中,所述低反射率区域由凹坑列形成,以及 所述高反射率区域和所述低反射率区域被形成为满足S+M/2 ( 0. 6H,其中,从所述高反射率区域的反射光获取的再现信号的信号电平表示为“H”,从所述低反射率区域的反射光获取的再现信号的信号电平表示为“S”,且从所述低反射率区域的反射光获取的再现信号的调制度表示为“M”。2.根据权利要求1所述的光记录介质,其中,所述光记录介质为盘形光记录介质,所述高反射率区域和所述低反射率区域分别在径向方向上呈放射状连续形成,并由此形成条码形反射图案,所述径向方向为所述轨迹节距方向。3.根据权利要求1所述的光记录介质,其中,通过NA为0.85的光学系统发射的波长为405nm的激光进行再现,以及 在所述低反射率区域中,所述轨迹线方向的空间频率由1667条/mm或以上的凹坑列形成。4.根据权利要求3所述的光记录介质,其中,在所述低反射率区域的凹坑列中,凹坑部分与平面部分的比例为50±5%。5.根据权利要求3所述的光记录介质,其中,在所述低反射率区域的所述凹坑列中,所述轨迹节距方向上的相邻凹坑列互相重叠。6.根据权利要求1所述的光记录介质,其中,所述高反射率区域为未形成凹坑列的镜面部分。7.根据权利要求1所述的光记录介质,其中,所述高反射率区域由凹坑列或组形成,所述凹坑列或组获得的再现信号电平高于所述低反射率区域中的凹坑列。8.—种光记录介质,通过形成高反射率区域和低反射率区域而形成有条码形反射图案,从轨迹线方向看交替出现的所述高反射率区域和所述低反射率区域以分别在轨迹节距方向连续的状态形成,所述光记录介质包括利用所述反射图案记录信息的记录区域,其中,所述记录区域利用NA为0. 85的光学系统发射的波长为405nm的激光进行再现,以及 在所述低反射率区域中,所述轨迹线方向的空间频率由1667条/mm以上的凹坑列形成。9.根据权利要求8所述的光记录介质,其中,所述光记录介质为盘形光记录介质,以及 所述高反射率区域和所述低反射率区域以分别在径向方向上呈放射状连续形成,并由此形成条码形反射图案,其中,所述径向为所述轨迹节距方向。10.根据权利要求9所述的光记录介质,其中,所述高反射率区域和所述低反射率区域被形成为满足S+M/2 ( 0. 6H,其中,从所述高反射率区域的反射光获取的再现信号的信...

【专利技术属性】
技术研发人员:柏木俊行秋元义浩齐藤公博斋藤昭也
申请(专利权)人:索尼公司
类型:
国别省市:

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