根据本技术的实施方式的传感器装置包括传感器头和测量单元。传感器头包括第一探头和第二探头，第一探头包括用于发射的第一天线部，第二探头包括用于接收的第二天线部，第二探头与第一探头相距特定距离并面对第一探头。测量单元包括信号生成部，信号生成部生成测量信号，测量信号包括关于第一天线部与第二天线部之间的介质中的电磁波传播特性的信息。
【技术实现步骤摘要】
本技术涉及用于测量诸如土壤的介质中的水分含量的传感器装置、水分含量测量装置、水分含量测量方法、信息处理装置和信息处理方法。
技术介绍
1、已知有时域反射法(tdr)作为用于测量介质中的水分含量的方法。这种方法包括沿着嵌入在介质中的金属探头发射电磁波，并且从基于电磁波的反射响应而测量的相对介电常数来计算介质中的水分含量(例如，参见专利文献1)。
2、引用列表
3、专利文献
4、专利文献1：日本专利申请特开平第h10-90201号公报
技术实现思路
1、专利技术所要解决的技术问题
2、然而，存在以下问题，其中，由于tdr使用介质中的探头附近的电磁波传播特性来测量相对介电常数，在探头附近产生的间隙对测量具有很大影响，并且因此不可能正确地测量相对介电常数。
3、鉴于上述情况，本技术的目的是提供能够改善介质的相对介电常数测量或介质中的水分含量测量的精度的传感器装置、水分含量测量装置、水分含量测量方法、信息处理装置和信息处理方法。
>4、解决技术问题的本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种传感器装置，具有：
2.根据权利要求1所述的传感器装置，其中
3.根据权利要求2所述的传感器装置，其中
4.根据权利要求2所述的传感器装置，其中
5.根据权利要求4所述的传感器装置，其中
6.根据权利要求1所述的传感器装置，其中
7.根据权利要求6所述的传感器装置，其中
8.根据权利要求1所述的传感器装置，其中
9.根据权利要求1所述的传感器装置，其中
10.根据权利要求1所述的传感器装置，其中
11.根据权利要求1所述的传感器装置，其中p>
12.一种...
【技术特征摘要】
1.一种传感器装置，具有：
2.根据权利要求1所述的传感器装置，其中
3.根据权利要求2所述的传感器装置，其中
4.根据权利要求2所述的传感器装置，其中
5.根据权利要求4所述的传感器装置，其中
6.根据权利要求1所述的传感器装置，其中
7.根据权利要求6所述的传感器装置，其中
8.根据权利要求1所述的传感器装置，其中
9.根据权利要求1所述的传感器装置，其中
10.根据权利要求1所述的传感器装置，其中
11.根据权利要求1所述的...
【专利技术属性】
技术研发人员：山田笃，吉満匡平，三田宏幸，饭田幸生，小林诚司，广井聡幸，
申请(专利权)人：索尼公司，
类型：发明
国别省市：
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