光记录介质制造技术

提供了一种光记录介质，包括：三个再现层，其中，在以再现光照射的表面一侧上的三个再现层的反射率R1、R2和R3等于或者大于5％，且其中，任意从反射率R1、R2和R3中选出的两个反射率之间的差值delta R的绝对值等于或者小于7％。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】相关申请的交叉引用本申请要求于2013年4月1日提交的日本优先权专利申请JP2013-076277的权益，在这里将其整个内容通过引用合并于此。
本技术涉及光记录介质。特别地，本技术涉及提供有多个再现层的光记录介质。
技术介绍
光盘(CD)、数字多用途盘(DVD)等已经主导了迄今为止的光记录介质的市场。但是，随着近年来高清晰度电视的普及和由个人计算机(PC)处理的数据的快速增长，已经需要光记录介质的容量的进一步提高。为了响应于这种需要，已经出现了与模糊激光(blurlaser)兼容的高容量光记录介质，比如蓝光盘(BD)(注册商标)，且新的高容量光记录介质的市场已经启动。已经广泛地采用了提供多个记录层以进一步增加比如DVD和BD之类的高密度光记录介质中的记录容量的技术。特别地，提供有三个或更多记录层的多层光记录介质的开发近年来已在进步。但是，如果提供多个记录层，则由于层间散射光而导致信号特性恶化。具体来说，如果提供三个或更多记录层，来自除了意图从中读取信息信号的记录层之外的其他部分的散射光增加，因此信号特性特别显著地恶化。为此原因，已经为现有技术中的多层光记录介质寻找了有效地抑制散射光的影响并增强信号特性的技术。专利文献1和2公开了通过设置信息记录层之间的间隔物的厚度以满足预定关系，来除去由散射光所引起的多次反射的影响的技术。引文列表专利文献日本未审查专利申请公开No.2006-59433日本未审查专利申请公开No.2011-198410
技术实现思路
专利技术所要解决的技术问题期望提供能够抑制由于层间散射光导致的信号特性恶化的光记录介质。解决技术问题的手段根据本技术的实施例，提供了光记录介质，包括：三个再现层，其中，在受到再现光照射的表面一侧上的所述三个再现层的反射率R1、R2和R3等于或者大于5％，且其中，从所述反射率R1、R2和R3中选出的任意两个反射率之间的差值deltaR的绝对值等于或者小于7％。根据本技术，因为在受到再现光照射的表面一侧上的三个再现层的反射率R1、R2和R3等于或者大于5％，所以可以抑制由于反射率的恶化导致的信号特性的恶化。另外，因为从反射率R1、R2和R3中选出的任意两个反射率之间的差值deltaR的绝对值等于或者小于7％，所以可以抑制由于来自具有高反射率的再现层的散射光对于由具有低反射率的再现层反射的光造成的影响而导致的信号特性的恶化。根据本技术，反射率R1、R2和R3是当具有405nm的波长的光垂直地入射到三个再现层的表面时的反射率。根据本技术，再现层是包括提供有多个凹陷部分和凸起部分的平面的层，从而预先记录信息信号。通过以光照射提供有凹陷部分和凸起部分的凹凸表面，读取信息信号。根据本技术，优选地在衬底上提供三个再现层，且在三个再现层上提供覆盖层。不特别限制覆盖层的厚度，且覆盖层包括衬底、薄片、涂层等。对于高密度信息记录介质，考虑到具有高NA的物镜的使用而优选采用比如薄片或者涂层之类的薄光透射层作为覆盖层，以及采用其中通过从光透射层一侧以光照射信息记录介质来再现信息信号的构造。在这种情况下，也可以采用不透明衬底。根据信息记录介质的格式，覆盖层侧和衬底侧上的至少一个表面被适当地设置为用于再现信息信号的光入射表面。本专利技术的有益效果根据本技术，可以如上所述地抑制由于层间散射光导致的信号特性的恶化。附图说明图1A是示出了根据本技术实施例的光记录介质的外观的实例的透视图。图1B是示出了根据本技术的实施例的光记录介质的构造的实例的截面图。图2是示出了参考例1-1到1-7中的光记录介质的反射率和信号特性的评估结果的图。图3是示出了在实例2-1到2-4和比较例2-1到2-3中光记录介质的反射率和信号特性的差异的评估结果的图。图4是示出了实例3-1到3-3中光记录介质的加速测试之前和之后的信号特性评估结果的图。图5是示出了参考例4-1到4-6中样本的折射系数n和消光系数k的测量结果的图。图6A是示出了实例5-1到5-4中光记录介质的信号特性评估结果的图。图6B是示出了实例5-1到5-4中光记录介质的反射率评估结果的图。图7A是示出了参考例6-1中通过模拟获得的反射光谱的图。图7B是示出了参考例6-1中通过模拟获得的透射光谱的图。图8A是示出了参考例6-2中通过模拟获得的反射光谱的图。图8B是示出了参考例6-2中通过模拟获得的透射光谱的图。图9A是示出了实例7-1-1到7-1-3和7-2-1到7-2-3中光记录介质的信号特性评估结果的图。图9B是示出了实例7-1-1到7-1-3和7-2-1到7-2-3中光记录介质的不对称评估结果的图。具体实施方式将按以下次序描述本技术的实施例。1.光记录介质的构造2.光记录介质的光特性3.用于制造光记录介质的方法<1.光记录介质的构造>如图1A所示，根据本技术实施例的光记录介质10具有盘形状，在盘中心提供有开口(在下文中称为“中心孔”)。另外，光记录介质10的形状不限于该实例，可以是卡形状等。如图1B所示，根据本技术实施例的光记录介质10具有如下构造，其中在衬底11的表面上按以下次序层叠作为第一再现层的反射层L0、中间层S1、作为第二再现层的反射层L1、中间层S2、作为第三再现层的反射层L2和作为覆盖层的光透射层12。在下面的描述中，如果不特别地区分反射层L0到L2，则反射层L0到L2可被统称为反射层。根据本实施例的光记录介质10是所谓的多层再现专用光记录介质，且通过从光透射层12一侧的表面C以激光照射各个反射层L0到L2来再现信息信号。例如，通过例如由具有在等于或者大于0.84且等于或者小于0.86的范围内的数值孔径的物镜会聚具有等于或者大于400nm且等于或者小于410nm的范围内的波长的激光，并从光透射层12一侧以所会聚的激光照射各个反射层L0到L2，来再现信息信号。这种光记录介质10的实例包括多层再现专用蓝光盘(注册商标)。在下文中，为了使反射层L0到L2再现信息信号而受到激光照射的表面C将被称为光照射表面C。在下文中，将顺序地描述构成光记录介质10的衬底11、反射层L0到L2、中间层S1和S2和光透射层12。衬底衬底11例如具有盘形状，在盘中心提供有中心孔。衬底11的主表面是凹凸表面，在该凹凸表面上形成反射层L0的膜。该凹本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光记录介质，包括：三个再现层，其中，在受到再现光照射的表面一侧上的所述三个再现层的反射率R1、R2和R3等于或者大于5％，和其中，从所述反射率R1、R2和R3中选出的任意两个反射率之间的差值delta R的绝对值等于或者小于7％。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2013.04.01 JP 2013-0762771.一种光记录介质，包括：
三个再现层，
其中，在受到再现光照射的表面一侧上的所述三个再现层的反射率R1、
R2和R3等于或者大于5％，和
其中，从所述反射率R1、R2和R3中选出的任意两个反射率之间的差值
deltaR的绝对值等于或者小于7％。
2.根据权利要求1所述的光记录介质，
其中，所述三个再现层之中的位于与所述表面最接近的位置处的再现层包
含金属氧化物。
3.根据权利要求2所述的光记录介质，
其中，所述金属氧化物包含从包括W、Fe、Ti、In、Sn、Si和Zr的组中
选出一种或多种元素。
4.根据权利要求2所述的光记录介质，
其中，所述三个再现层之中的位于与所述表面最接近的位置处的再现层的
膜厚度在等于或者大于15nm且等于或者小于50nm的范围内。
5.根据权利要求1所述的光记录介质，
其中，在受到再现光照射的所述表面一侧上的所述三个再现层的所述反射
率R1、R2和R3...

【专利技术属性】
技术研发人员：高桥谦作，太田阳，小坂英宽，
申请(专利权)人：索尼公司，
类型：发明
国别省市：日本;JP