用于光学地扫描和测量周围环境的方法技术

一种用于光学地扫描和测量激光扫描器（１０）的周围环境的方法，该激光扫描器（１０）包括：测量头（１２），该测量头（１２）具有光发射器（１７）和光接收器（２１）；反射镜（１６），该反射镜（１６）可相对于测量头（１２）绕第一轴线（Ａ）旋转；基座（１４），测量头（１２）可相对于该基座（１４）绕第二轴线（Ｂ）旋转；控制和评估单元（２２）；以及中心（Ｃ１０），该中心（Ｃ１０）对于扫描定义激光扫描器（１０）的静止坐标系和该扫描的中心，其中，光发射器（１７）发射出发射光束（１８），反射镜（１６）在测量头（１２）的旋转期间将发射光束（１８）反射到周围环境中且进行若干次完整的回转，光接收器（２１）接收经由反射镜（１６）的接收光束，其中接收光束被激光扫描器（１０）的周围环境中的目标物（Ｏ）反射或者被散射，且对于扫描的多个测量点（Ｘ），控制和评估单元（２２）至少确定中心（Ｃ１０）到目标物（Ｏ）的距离（ｄ），测量头（１２）进行多于半圈的回转用于扫描，其中，至少一些测量点（Ｘ）被双重确定。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种具有权利要求1的通用术语的特征的方法。
技术介绍
借助于诸如例如从DE 20 2006 005 643 Ul已知的装置——该装置被设计为激光扫描器——可以执行一种在介绍中提到的类型的方法。由于该激光扫描器的故障(damage) 或其他误差源，扫描变得不正确。
技术实现思路
本专利技术的目的是改进
技术介绍
中提到的类型的方法。根据本专利技术、借助于一种包括权利要求1的特征的方法实现该目的。从属权利要求涉及有利的配置。通过将测量头转动大于必需的半圈，至少一些测量点被双重确定。然后利用激光扫描器的不同的机械布置——指向空间中的相同的点的水平和垂直的角的另外的组合——两次确定这样的点。尽管仍然是同一激光扫描器，两种不同的布置导致两次不同的扫描，即就像由两个不同的激光扫描器产生的两次不同的扫描。然而，两次不同的扫描以定义的方式相关联。可以将从双重确定的测量点获得的附加信息用于误差校正。由此可以校正测量点的坐标，即优先地是它们的角坐标。可用的双重测量点越多，校正可以进行得越好。取决于误差的类型，进一步用于没有双重测量点的后续扫描的激光扫描器的单次校准是足够的。 然而，也可以校正动本文档来自技高网...

【技术保护点】
１．一种用于光学地扫描和测量激光扫描器（１０）的周围环境的方法，所述激光扫描器（１０）包括：测量头（１２），所述测量头（１２）具有光发射器（１７）和光接收器（２１）；反射镜（１６），所述反射镜（１６）可相对于所述测量头（１２）绕第一轴线（Ａ）旋转；基座（１４），所述测量头（１２）可相对于所述基座（１４）绕第二轴线（Ｂ）旋转；控制和评估单元（２２）；以及中心（Ｃ１０），所述中心（Ｃ１０）对于扫描，定义所述激光扫描器（１０）的静止坐标系和所述扫描的中心，其中，所述光发射器（１７）发射出发射光束（１８），，所述反射镜（１６）在所述测量头（１２）的旋转期间将发射光束（１８）反射到周围环境中且进行若干次...

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：于尔根·吉廷格，
申请(专利权)人：法罗技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：US