光学扫描装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及光学扫描装置。提供了一种光学扫描装置，包括：偏转器，使用第一偏转表面和第二偏转表面偏转光束以在主扫描方向上扫描第一扫描表面和第二扫描表面；第一成像光学系统和第二成像光学系统，将经偏转的光束引导至第一扫描表面和第二扫描表面；以及入射光学系统，允许光束在副扫描部分中斜向地进入第一偏转表面，其中，第一成像光学系统包括第一光学元件，第一光学元件在包括光轴的副扫描部分中具有比出射表面的曲率半径的绝对值小的入射表面的曲率半径的绝对值，并且第一光学元件的入射表面在包括光轴的副扫描部分中朝着与包括偏转器的主扫描部分分离的方向反射进入入射表面的光束。

Optical scanning device

The invention relates to an optical scanning device. The present invention provides an optical scanning device includes: a deflector, using the first surface and the second surface deflection deflection deflection beam to scan the first scanning surface and second scanning surface in the main scanning direction; the first and second optical imaging system of optical imaging systems, the deflection of the beam is guided to the first scanning surface and second scanning surface and the incident; the optical system allows the light beam in a sub scanning part obliquely into the first deflection surface, the first imaging optical system includes a first optical element, a first optical element in the optical axis of the scanning part including side scan has a radius of curvature of the surface radiation than the absolute value of the small incident surface radius of curvature of the absolute value, and the first optical element in the optical axis of the incident surface including the sub scanning part towards and including the separation of the main part of the scanning. A beam of light reflected into an incident surface.

【技术实现步骤摘要】
光学扫描装置
本专利技术涉及光学扫描装置。光学扫描装置特别适合于诸如激光束打印机、数字复印机和多功能打印机之类的图像形成装置。
技术介绍
近年来，在实践上已经使用包括光学扫描装置的串联式彩色图像形成装置，光学扫描装置被配置为通过单个旋转多面镜来使从被布置为与各颜色对应的多个光源发射的多个光束偏转，并且被配置为使用被布置为与各光束对应的多个成像光学系统来扫描各感光鼓。在使用上面描述的这种光学扫描装置的情况下，在被配置为扫描与某种颜色对应的感光鼓的第一成像光学系统中所包括的成像透镜的表面上反射的闪烁光可能进入被配置为扫描与另一种颜色对应的感光鼓的第二成像光学系统。于是，与原本打算扫描的感光鼓不同的感光鼓可能被扫描。这可能引起诸如出现线条和浓度不均匀之类的图像劣化问题。为了解决这种问题，可以想到通过气相沉积来在成像透镜的表面上涂覆抗反射薄膜。被反射的闪烁光可以通过抗反射薄膜的涂覆而减少。然而，近年来，为了光学扫描装置的重量减轻和成本降低的目的，经常使用塑料透镜作为成像透镜，而通过气相沉积在这种塑料成像透镜的表面上涂覆抗反射薄膜难以实行。在日本专利申请公开No.2005-4050中，描述了在外壳中布置有遮光构件的光学扫描装置，其中遮光构件被配置为遮蔽被反射的闪烁光。利用遮光构件，由被配置为扫描与某种颜色对应的感光鼓的第一成像光学系统反射的闪烁光被防止到达与另一种颜色对应的感光鼓。然而，在日本专利申请公开No.2005-4050中所描述的光学扫描装置中，存在如下担忧：在成像透镜等被安装在与期望位置偏离的位置的情况下，被反射的闪烁光的光学路径可能变为通过遮光构件。为了防止被反射的闪烁光的这种通过，可以想到将遮光构件的开口设置得尽可能窄。然而，在这种情况下，用于扫描原本打算扫描的感光鼓的有效光束也可能被遮蔽。另外，在日本专利申请公开No.2009-192680中，描述了一种光学扫描装置，在该光学扫描装置中，具有正折光力的成像光学元件被布置在遮光构件与导致生成闪烁光的成像透镜的光学表面之间。于是，到达遮光构件的被反射的闪烁光被变换成会聚光束，由此减小由于成像透镜等的装配误差而导致的、被反射的闪烁光在遮光构件上的通过位置的改变。然而，当关注于一个成像光学系统时，布置了具有正折光力的两个成像光学元件，并因此增大了成像光学系统的副扫描倍率。结果，出现以下担忧：由于成像透镜等的装配误差而导致的成像性能劣化可能会恶化。因此，根据本专利技术，提供了即使当存在由于装配误差等导致的第一光学元件的位置改变时也能够防止在第一成像光学系统的第一光学元件上反射的闪烁光进入第二成像光学系统中的光学扫描装置。
技术实现思路
根据本专利技术的一个实施例，提供一种光学扫描装置，包括：偏转器，被配置为使用第一偏转表面和第二偏转表面偏转光束以在主扫描方向上扫描第一扫描表面和第二扫描表面；第一成像光学系统和第二成像光学系统，被配置为将由第一偏转表面和第二偏转表面偏转的光束引导至第一扫描表面和第二扫描表面；以及入射光学系统，被配置为允许光束在副扫描部分中斜向地进入第一偏转表面，其中，第一成像光学系统包括第一光学元件，第一光学元件在包括光轴的副扫描部分中具有比出射表面的曲率半径的绝对值小的入射表面的曲率半径的绝对值，并且第一光学元件的入射表面被配置为在包括光轴的副扫描部分中朝着与包括偏转器的主扫描部分分离的方向反射进入入射表面的光束。参照附图阅读对示例性实施例的以下描述，本专利技术的其他另外特征将变得清楚。附图说明图1是根据本专利技术的第一实施例的光学扫描装置的主扫描截面图。图2是根据第一实施例的光学扫描装置的成像光学系统的副扫描截面图。图3A是根据第一实施例的光学扫描装置的成像光学系统的一部分的副扫描截面图。图3B是根据第一实施例的光学扫描装置的成像光学系统的一部分的副扫描截面图。图4A是根据比较例1的第二成像透镜的副扫描截面图。图4B是根据比较例2的第二成像透镜的副扫描截面图。图5是用于例示在根据第一实施例的光学扫描装置的第二成像透镜中，在副扫描方向上从表面顶点进入第二成像透镜的光束的入射高度的变化Δz以及由于光束的入射高度的变化而导致的在光束的入射位置处第二成像透镜的光学表面的法线角的变化改变的视图。图6A是当第二成像透镜在副扫描方向上向下移位0.7mm时，根据第一实施例的光学扫描装置的成像光学系统的一部分的副扫描截面图。图6B是当第二成像透镜在副扫描方向上向下移位0.7mm时，根据第一实施例的光学扫描装置的成像光学系统的一部分的副扫描截面图。图7A是根据本专利技术的第二实施例的光学扫描装置的成像光学系统的一部分的副扫描截面图。图7B是根据第二实施例的光学扫描装置的成像光学系统的一部分的副扫描截面图。图8A是当第二成像透镜在副扫描方向上向下移位0.7mm时，根据第二实施例的光学扫描装置的成像光学系统的一部分的副扫描截面图。图8B是当第二成像透镜在副扫描方向上向下移位0.7mm时，根据第二实施例的光学扫描装置的成像光学系统的一部分的副扫描截面图。图9是用于示意性地例示根据本专利技术的实施例的包括光学扫描装置的彩色图像形成装置的相关部分的副扫描截面图。具体实施方式现在，参考附图描述根据本专利技术的实施例的光学扫描装置。注意，在一些情况下，下面所参考的附图可以按照与现实不同的比例绘制，以便帮助对本专利技术的理解。在下面的描述中，主扫描方向对应于与偏转器的旋转轴和成像光学系统的光轴垂直的方向，并且副扫描方向对应于与偏转器的旋转轴平行的方向。另外，主扫描部分对应于与副扫描方向垂直的部分，并且副扫描部分对应于与主扫描方向垂直的部分。[第一实施例]图1是根据本专利技术的第一实施例的光学扫描装置100的主扫描截面图。图2是根据第一实施例的光学扫描装置100的成像光学系统的副扫描截面图。应当注意，在图1中，反射镜M1、M2、M3、M'1、M'2和M'3对光学路径的反射被显现，并且每个反射镜被省略。光学扫描装置100包括：光源1A、1B、1C和1D，耦合透镜2A、2B、2C和2D，柱面透镜3A、3B、3C和3D，副扫描光阑(光圈)41，以及主扫描光阑42。另外，光学扫描装置100包括：偏转器5，第一成像透镜61和62，第二成像透镜(第一光学元件)7A、7B、7C和7D，防尘玻璃9A、9B、9C和9D，以及反射镜M1、M2、M3、M'1、M'2和M'3。在本实施例中，光源1A至1D、耦合透镜2A至2D、柱面透镜3A至3D、副扫描光阑41和主扫描光阑42构成入射光学系统。另外，在本实施例中，第一成像透镜61和62、第二成像透镜7A至7D、防尘玻璃9A至9D以及反射镜M1至M'3构成成像光学系统。光源1A和1B被布置为使得在所发射的光束与主扫描部分之间形成的角度分别取-2.7°和+2.7°的预定角度。该配置在下文中被描述为相对于偏转器5的第一反射表面51以-2.7°和+2.7°的预定角度斜向入射(副扫描斜向入射光学系统)。类似地，光源1C和1D被布置为使得在所发射的光束与主扫描部分之间形成的角度分别取-2.7°和+2.7°的预定角度。该配置在下文中被描述为相对于偏转器5的第二反射表面52以-2.7°和+2.7°的预定角度斜向入射。副扫描光阑41具有与光源对应的四个开口。另外，主扫描光阑42共具有两个开口，包本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光学扫描装置，其特征在于，该光学扫描装置包括：偏转器，被配置为使用第一偏转表面和第二偏转表面偏转光束以在主扫描方向上扫描第一扫描表面和第二扫描表面；第一成像光学系统和第二成像光学系统，被配置为将由第一偏转表面和第二偏转表面偏转的光束引导至第一扫描表面和第二扫描表面；以及入射光学系统，被配置为允许光束在副扫描部分中斜向地进入第一偏转表面，其中，第一成像光学系统包括第一光学元件，第一光学元件在包括光轴的副扫描部分中具有比出射表面的曲率半径的绝对值小的入射表面的曲率半径的绝对值，以及其中，第一光学元件的入射表面被配置为在包括光轴的副扫描部分中朝着与包括偏转器的主扫描部分分离的方向反射进入入射表面的光束。

【技术特征摘要】
2015.11.06 JP 2015-2185751.一种光学扫描装置，其特征在于，该光学扫描装置包括：偏转器，被配置为使用第一偏转表面和第二偏转表面偏转光束以在主扫描方向上扫描第一扫描表面和第二扫描表面；第一成像光学系统和第二成像光学系统，被配置为将由第一偏转表面和第二偏转表面偏转的光束引导至第一扫描表面和第二扫描表面；以及入射光学系统，被配置为允许光束在副扫描部分中斜向地进入第一偏转表面，其中，第一成像光学系统包括第一光学元件，第一光学元件在包括光轴的副扫描部分中具有比出射表面的曲率半径的绝对值小的入射表面的曲率半径的绝对值，以及其中，第一光学元件的入射表面被配置为在包括光轴的副扫描部分中朝着与包括偏转器的主扫描部分分离的方向反射进入入射表面的光束。2.根据权利要求1所述的光学扫描装置，其中，第一光学元件的入射表面和出射表面在副扫描部分中具有正折光力。3.根据权利要求1所述的光学扫描装置，其中，在副扫描部分中，满足下面的条件：其中β表示光束相对于第一反射表面的入射角，并且Rz表示第一光学元件的入射表面的曲率半径的绝对值。4.根据权利要求1所述的光学扫描装置，其中，在副扫描部分中光束相对于第一偏转表面的入射角的绝对值为2度或更大。5.根据权利要求1所述的光学扫描装置，其中，在包括光轴的副扫描部分中，第一光学元件的入射表面倾斜以便朝着与包括偏转器的主扫描部分分离的方向反射进入入射表面的光束。6.根据权利要求1所述的光学扫描装置，其中，第一光学元件的入射表面和出射表面包括其中副扫描部分中的倾斜角在主扫描方向上被改变的表面。7.根据权利要求1所述的光学扫描装置，其中，在包括光轴...

【专利技术属性】
技术研发人员：黑川周一，
申请(专利权)人：佳能株式会社，
类型：发明
国别省市：日本,JP