用于对场景进行光学扫描和测量的方法技术

技术编号:7126029 阅读:217 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术提供一种用于借助于激光扫描器(10)对场景进行光学扫描和测量的方法,该激光扫描器(10)对其设置有目标(T)的环境进行光学扫描和测量以用于进行具有特定的中心(C)的扫描,由此,具有不同的中心并且扫描同一场景的、相邻的两个扫描在测量点(X)的范围内重叠,使得一些目标被两个扫描中的任意扫描所扫描,由此,为了配准相邻的两个扫描,在第一步骤期间,在测量点中定位目标,在第二步骤期间,在相邻的两个扫描的被定位的目标寻找中对应关系的候选,以及,在第三步骤期间,对相邻的两个扫描进行测试配准,如果重叠范围内的测量点有充分的一致性,则验收该测试配准用于进行配准,从而识别目标。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种具有权利要求1的通用术语的特征的方法。
技术介绍
借助于诸如根据例如US 7,430,068 B2已知的激光扫描器,可以对激光扫描器的周围环境(surrounding)进行光学扫描和测量。为了扫描更大的场景,可能需要从不同的位置——即以不同的中心——进行若干次扫描。之前已放置的并且出现在两个相邻的扫描的重叠区域中的目标在这两个相邻的扫描中被用户定位并且被识别。
技术实现思路
本专利技术是基于对介绍中提及的类型的方法进行改进的目的的。这个目的是根据本专利技术、借助于包括权利要求1的特征的方法来实现的。从属权利要求涉及有利的配置。根据本专利技术的方法使得可以自动定位和识别目标,以便将场景的相邻、重叠的扫描配准(register)在一起。为了降低组合的可能性的数目,优选地,寻找如下相似的几何结构在这些相似的几何结构中内嵌(embed)有这些目标,且优选地,这些相似的几何结构是用若干个另外的目标(例如用三个最靠近的目标)来限定的,从而得到四边形。如果来自不同且相邻的扫描的两个目标被内嵌在相似的几何结构中,则找到了一对潜在的对应关系的候选(candidate of corre本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于借助于激光扫描器(10)对场景进行光学扫描和测量的方法,所述激光扫描器(10)对其设置有目标T1,T2,....的环境进行光学扫描和测量以用于进行显示出特定的中心Ci的扫描,由此,具有不同的中心C1,C2,...并且扫描同一场景的、相邻的两个扫描在测量点X的范围内重叠,使得一些目标T1,T2,....被所述两个扫描中的任意扫描所扫描,由此,为了配准所述相邻的两个扫描,在第一步骤中,在所述扫描的所述测量点X中定位所述目标T1,T2,...,以便随后对所述目标T1,T2,...进行识别,其特征在于,在第二步骤中,在所述相邻的两个扫描的被定位的目标T1,T2,...中寻找对应关系的候选,...

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员:马丁·奥西格
申请(专利权)人:法罗技术股份有限公司
类型:发明
国别省市:US

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