本实用新型专利技术涉及一种薄片型金属构件平整度测试装置，属测试技术领域，其特征在于：测试平台置有多个接近传感器，所述接近传感器分别与对应的LED发光管、电源电连接，指示灯与各LED发光管之间相互串联连接，构成串联电路。本实用新型专利技术的积极效果在于：被测试的薄片型金属构件压放在测试平台上后，如平整度在允许范围之内，则测量点接近传感器会根据预设定的感应范围发出感应信号，与该接近传感器连接的LED发光管亮。相互串联的LED发光管全亮时指示灯就亮，表示整个金属构件平整度正常；只要有一个LED发光管不亮，表示相应的测量点平整度不合格，指示灯不亮。测试装置结构简单，使用方便快捷。（*该技术在2021年保护过期，可自由使用*）
【技术实现步骤摘要】
本技术涉及一种薄片型金属构件平整度测试装置，属平整度测试
技术介绍
检测物体接近程度的接近传感器，可与继电器或其他执行元件组成接近开关，以实现设备的自动控制和操作人员的安全保护等，在生产过程和日常生活中都有广泛应用。在使用薄片型金属构件加工多联式产品时，即用薄片型金属构件为模板，反复加工生产后续产品，金属构件薄片经反复使用后会有凹凸弯曲浪形不平整现象出现，导致影响后续产品的质量。通常用较长的直尺、或用千分表来检测金属构件薄片的平整度，但手工操作效率比较低，不适合工业大规模生产的需要。利用接近传感器建立一种快速、有效的检测出薄片型金属构件平整度测试装置，对于提高产品合格率和生产效率有着积极的意义。
技术实现思路
本技术的目的是提供一种快速、有效的检测薄片型金属构件平整度的测试装置。为达到上述目的，采用的技术方案是一种薄片型金属构件平整度测试装置，包括测试平台和接近传感器，其特征在于所述测试平台平台置有多个接近传感器，所述接近传感器分别与对应的LED发光管、电源电连接，指示灯与各LED发光管串联连接，构成串联电路。所述接近传感器与测试平台垂直同向嵌入式连接。所述接近传感器是电感式接近传感器。本技术的积极效果在于结构简单，使用方便。被测试的薄片型金属构件压放在测试平台上后，如平整度在允许范围之内，则测量点接近传感器根据预先设定的感应范围发出感应信号，与该接近传感器连接的LED发光管亮。相互串联的各LED发光管全亮时指示灯亮，表示平整度正常；只要有一个LED发光管不亮，显示相应的测量点平整度不合格。附图说明以下依照附图说明和实施例，对本技术作进一步说明。图1为本技术结构示意图；图2为图1的A向结构示意图；图3为接近传感器、LED发光管、指示灯连接电路示意图。图中，1 一测试平台；2 —接近传感器；3 - LED发光管；4 一指示灯。具体实施方式图1和图2为本技术结构示意图，由图可见，一种薄片型金属构件平整度测试装置，包括测试平台1和接近传感器2，其特征在于所述测试平台1置有多个接近传感器 2，图1所示接近传感器2数量为12个，按测量点需要布置。图3为接近传感器2、LED发光管3、指示灯4连接电路示意图，图示接近传感器2数量以4个为例，所述接近传感器2分别与对应的LED发光管3、电源电连接，指示灯4与各LED发光管3之间相互串联连接，构成串联电路。所述接近传感器2与测试平台1垂直同向嵌入式连接。所述接近传感器2采用市售仅对金属构件敏感的电感式接近传感器。使用时，要求被测试的金属构件外形尺寸略小于测试平台1表面外形尺寸，接近传感器2预置于平整度各测量点相应位置，预先调试好接近传感器的感应范围，当要求被测试的金属构件放在测试平台1上，测试平台1四周布置的接近传感器2，感应到接近物体时LED发光管3导通发光，指示灯4与各LED发光管3串联连接，当与金属间隔感应件相对应的LED发光管3全部点亮后，串联连接在回路上的指示灯亮表示平整度正常。只要有一个LED发光管3不亮，就显示相应的测量点平整度不合格。本测试装置的优点在于检测准确度高，检测速度快，对于提高后续产品的合格率和生产效率有着积极的意义。权利要求1.一种薄片型金属构件平整度测试装置，包括测试平台和接近传感器，其特征在于 所述测试平台置有多个接近传感器，所述接近传感器分别与对应的LED发光管、电源电连接；指示灯与各LED发光管之间相互串联连接，构成串联电路。2.根据权利要求1所述一种薄片型金属构件平整度测试装置，其特征在于所述接近传感器与测试平台垂直同向嵌入式连接。3.根据权利要求1所述一种薄片型金属构件平整度测试装置，其特征在于所述接近传感器是电感式接近传感器。专利摘要本技术涉及一种薄片型金属构件平整度测试装置，属测试
，其特征在于测试平台置有多个接近传感器，所述接近传感器分别与对应的LED发光管、电源电连接，指示灯与各LED发光管之间相互串联连接，构成串联电路。本技术的积极效果在于被测试的薄片型金属构件压放在测试平台上后，如平整度在允许范围之内，则测量点接近传感器会根据预设定的感应范围发出感应信号，与该接近传感器连接的LED发光管亮。相互串联的LED发光管全亮时指示灯就亮，表示整个金属构件平整度正常；只要有一个LED发光管不亮，表示相应的测量点平整度不合格，指示灯不亮。测试装置结构简单，使用方便快捷。文档编号G01B7/34GK202092598SQ20112020075公开日2011年12月28日 申请日期2011年6月15日 优先权日2011年6月15日专利技术者上村真也, 卞方勇, 小泉泰秀, 赵志明, 陆静 申请人:上海京瓷电子有限公司本文档来自技高网...
【技术保护点】
１．一种薄片型金属构件平整度测试装置，包括测试平台和接近传感器，其特征在于：所述测试平台置有多个接近传感器，所述接近传感器分别与对应的ＬＥＤ发光管、电源电连接；指示灯与各ＬＥＤ发光管之间相互串联连接，构成串联电路。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：陆静，上村真也，小泉泰秀，卞方勇，赵志明，
申请(专利权)人：上海京瓷电子有限公司，
类型：实用新型
国别省市：31
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