测试座连接板制造技术

本发明专利技术公开了一种测试座连接板，通过对应测试座的每一引脚设置一个三相拨线开关，测试座的每一引脚可以实现选择连接到接地信号、供电信号或外部测试信号，从而能够根据产品测试的需要在硬件上改变测试座的引脚的信号状态，提供丰富而稳定的信号资源。此外，采用本发明专利技术提供的测试座连接板，由于信号资源丰富而稳定，对于封装形式相同的产品进行测试时就不需要制作大量的测试板，成品测试复用率高，从而节约测试的硬件成本投入。而且，由于信号资源丰富而稳定，可以大大减少新产品测试的准备时间。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及集成电路测试领域，特别涉及一种测试座连接板。
技术介绍
集成电路产品的测试通常需要使用对应的测试机台(tester)和测试板(DUT板)， 例如用于功能测试(function test, FT)的测试板等。FT测试是检验集成电路产品的功 能是否完好的必不可少的一个环节。通常测试板上连接有用于放置待测试芯片的测试座 (socket)，测试机台提供的外部测试信号通过测试板送到测试座的引脚，进而对待测试芯 片进行测试。现有技术存在如下几方面的缺点对不同类型的集成电路产品的测试，需要制作 不同的测试板焊接不同的测试座。目前使用的测试板和测试座之间是一对一的连接方式， 这限制了测试板的应用。而且，对于高集成度的芯片，其信号管脚复杂，一方面测试机台本 身能够提供的信号资源有限，另一方面用软件方法实现会导致信号噪声的增大，进而影响 整个测试。此外，为了实现多种信号源，通常在测试板上焊接跳线，这会严重损伤测试板，不 利于长期使用。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种测试座连接板，能够在硬件上改变测试座的引脚的信 号状态，提供丰富而稳定的信号资源。本专利技术提供一种测试座连接板，其连接测试座和测试板，其中，所述测试座连接板 包括基底，其具有接地端、供电端以及针脚，所述针脚用于连接测试板；多个三相拨线开 关，设置于所述基底上，每个所述三相拨线开关对应所述测试座的一个引脚，选择性地将所 述测试座的引脚连接到所述接地端、供电端或对应的针脚。优选的，所述测试座连接板以焊接、插装或贴装的方式连接所述测试座。优选的，所述三相拨线开关包括底座以及沿所述底座移动的活动帽，所述底座的 两侧分别形成有第一金属弹片和三个第二金属弹片，所述第一金属弹片与所述测试座的一 个引脚连接，所述三个第二金属弹片分别与所述接地端、供电端、对应的针脚连接，所述活 动帽的内侧形成有第三金属弹片，所述第三金属弹片选择性地将所述第一金属弹片与所述 三个第二金属弹片中的一个连接。优选的，所述底座的材料为硅、树脂或聚酰亚胺中的一种。优选的，所述第一金属弹片、所述第二金属弹片以及所述第三金属弹片的材料为 金、铜、锡、铅、银、钨、镍、钽、铬中的一种。优选的，所述活动帽的材料为硅、树脂或聚酰亚胺中的一种。优选的，所述基底的材料为硅、树脂或聚酰亚胺中的一种。优选的，所述接地端、所述供电端以及所述针脚的材料为金、铜、锡、铅、银、钨、镍、 钽、铬中的一种。与现有技术相比，本专利技术提供的一种测试座连接板，通过对应测试座的每一引脚 设置一个三相拨线开关，测试座的每一引脚可以实现选择连接到接地信号、供电信号或外 部测试信号，从而能够根据产品测试的需要在硬件上改变测试座的引脚的信号状态，提供 丰富而稳定的信号资源。此外，采用本专利技术提供的测试座连接板，由于信号资源丰富而稳 定，对于封装形式相同的产品进行测试时就不需要制作大量的测试板，成品测试复用率高， 从而节约测试的硬件成本投入。而且，由于信号资源丰富而稳定，可以大大减少新产品测试 的准备时间。附图说明图1为连接有测试座的本专利技术的测试座连接板的正视图；图2为连接有测试座的本专利技术的测试座连接板的侧视图；图3为本专利技术的测试座连接板的实施例中三相拨线开关的结构示意图；图4为图3所示的三相拨线开关中底座的被遮挡的一侧的示意图；图5为图3所示的三相拨线开关的活动帽的结构示意图；图6为本专利技术的连接有测试座的测试座连接板的实施例中表层电路的连接示意 图；图7为本专利技术的连接有测试座的测试座连接板的实施例中背层电路的连接示意 图。具体实施例方式为使本专利技术的目的、特征更明显易懂，下面结合附图对本专利技术的具体实施方式作 进一步的说明。本专利技术的核心思想在于，通过对应测试座的每一引脚设置一个三相拨线开关，测 试座的每一引脚可以实现选择连接到接地信号、供电信号或外部测试信号。请综合参考图1和图2，图1和图2分别为连接有测试座的本专利技术的测试座连接板 的正视图和侧视图。该测试座连接板连接测试座20和测试板(未图示)。其中，测试座连 接板能够以焊接、插装或贴装的方式连接测试座20。测试座连接板包括基底11和多个三相 拨线开关12。基底11具有接地端112、供电端113以及针脚111。针脚111用于连接测试 板，进而连接外部测试信号。三相拨线开关12设置于基底11上，每个三相拨线开关12对 应测试座20的一个引脚，选择性地将测试座20的引脚连接到接地端112、供电端113或对 应的针脚111。基底11的材料优选为硅、树脂或聚酰亚胺中的一种，接地端112、供电端113 以及针脚111的材料优选为金、铜、锡、铅、银、钨、镍、钽、铬中的一种。下面，结合图3至图5描述本实施例中采用的三相拨线开关的具体结构。其中，图 3显示了三相拨线开关的结构示意图，图4为图3所示的三相拨线开关中底座的被遮挡的 一侧的示意图，图5为图3所示的三相拨线开关的活动帽的结构示意图。如图3所示，三相 拨线开关12包括底座121以及沿所述底座121移动的活动帽122。从图3和图4可以看 出，底座121的两侧分别形成有三个第一金属弹片123、125、127和三个第二金属弹片124、 126、128。当然，在本专利技术的其它实施例中，第一金属弹片123、125、127还可以连成一体。 同时，如图5所示，活动帽122的内侧形成有第三金属弹片129，该第三金属弹片1 选择性地将第一金属弹片与三个第二金属弹片124、126、128中的一个连接。具体地，在本实施 例中，当活动帽122沿底座121移动到与第一金属弹片123和第二金属弹片IM对应的第 一位置时，第三金属弹片1 将导通第一金属弹片123和第二金属弹片124。类似的，当活 动帽122沿底座121移动到与第一金属弹片125和第二金属弹片1 对应的第二位置时， 第三金属弹片1 将导通第一金属弹片125和第二金属弹片126 ；当活动帽122沿底座121 移动到与第一金属弹片127和第二金属弹片1 对应的第三位置时，第三金属弹片1 将 导通第一金属弹片127和第二金属弹片128。优选的，底座121的材料为硅、树脂或聚酰亚 胺中的一种，第一金属弹片123、125、127和第二金属弹片124、126、128以及第三金属弹片 129的材料为金、铜、锡、铅、银、钨、镍、钽、铬中的一种，活动帽122的材料为硅、树脂或聚酰 亚胺中的一种。接下来，结合图6和图7描述本专利技术的连接有测试座的测试座连接板的实施例中 三相拨线开关的电路连接方式。其中，图6和图7分别为该测试座连接板的表层电路和背层 电路的连接示意图。如图6所示，三相拨线开关12的三个第一金属弹片123、125、127 (参照 图4)与测试座20的同一引脚连接。对应的，如图7所示，三相拨线开关12的三个第二金 属弹片124、126、128(参考图3)分别与供电端113、对应的针脚111、接地端112连接。当 然，在本专利技术的其它实施例中，也可以选择其它的连接对应关系。由此，综合参照图3至图7，以标出标号的三相拨线开关12为例，当把三相拨线开 关12的活动帽拨到左边时，第三金属弹片1 将导通第一金属弹片123和第二金属弹片 124，进而将测试座20的一引脚连接到供电端113，即连接到供电信号；当把三相拨线开关 1本文档来自技高网...

【技术保护点】
１．一种测试座连接板，其连接测试座和测试板，其特征在于，所述测试座连接板包括：基底，其具有接地端、供电端以及针脚，所述针脚用于连接测试板；多个三相拨线开关，设置于所述基底上，每个所述三相拨线开关对应连接所述测试座的一个引脚，选择性地将所述测试座的引脚连接到所述接地端、供电端或对应的针脚。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：谢君强，李刚，何俊明，
申请(专利权)人：中芯国际集成电路制造上海有限公司，
类型：发明
国别省市：31