【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于半导体薄膜材料
,涉及一种超低开启电场和超高场增强因子 的外延碳薄膜材料及其制备方法。
技术介绍
场致电子发射(场发射)薄膜材料由于在场发射平板显示器、电子源等诸多高性 能真空微电子器件上具有广阔的应用前景,引起了人们广泛的关注与研究兴趣。场发射材 料性能最重要的两个品质因素是电流密度与阈值电压。因为大电流密度意味着高亮度,低 阈值电压就意味着低功耗。场发射阴极就结构而言,可分为尖端型与薄膜型。最初场发射 冷阴极结构基于降低阈值电压的考虑使用尖端型结构,主要是利用尖端局域场强增加的特 性(几何场增强)降低其阈值电压。当前比较成熟的尖端场发射冷阴极主要有金属微尖阵 列场发射阴极、硅尖锥阵列场发射阴极、纳米碳管阵列场发射阴极等。但尖端型技术难度 大、工艺复杂,成本相对过高,例如,碳纳米管(开启电场约为1.79V/ym,场增强因子为 1200);碳纳米锥(开启电场约为7V/μ m);碳纳米棒(开启电场约为llV/μπι)等,作为阴极 发射材料受到广泛关注。但是目前,这些材料的场发射性能的极限开启电场约为1.5V/ym 左右,场增强因子也仅限于12 ...
【技术保护点】
1.一种在碳化硅基底上外延生长冷阴极场发射材料的方法,制备过程包括以下步骤:(1)先将SiC基底进行氢蚀预处理,以消除表面缺陷和损伤层,直到晶片表面台阶达原子级平整度;(2)将氢蚀后的SiC基底置于高温炉真空腔的石墨坩埚中;(3)调节高温炉真空腔中的真空度高于10-3Pa,并同时升温到1000~2000℃之间;(4)向高温炉中供氢氩混合气,气体流速控制在10sccm~10000sccm之间,通过抽放气来控制工作压力在10-3Pa~10atm之间;(5)控制生长时间和工作压力或控制抽放气的次数或频率,以控制纳米条带的长度;或者通过调节各个参数控制纳米条带的长宽比和条带密度;( ...
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:陈小龙,黄青松,王刚,王文军,王皖燕,郭丽伟,林菁菁,贾玉萍,李康,彭同华,
申请(专利权)人:中国科学院物理研究所,
类型:发明
国别省市:11
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