透明导电膜湿法蚀刻液组合物制造技术

技术编号:6784562 阅读:383 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术提供一种透明导电膜湿法蚀刻液组合物。该透明导电膜湿法蚀刻液组合物包含(1)0.5-10wt%的草酸;(2)0.1-50wt%的乙酸;(3)0.01-10wt%的铵盐;(4)0.001-10wt%的表面活性剂;(5)余量水。该蚀刻液组合物蚀刻速率均匀稳定,无残留,不腐蚀配线。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及透明导电膜湿法蚀刻液组合物,尤其涉及一种可在等离子显示器 (PDP),液晶显示器(LCD),有机发光二极管显示器(OLED)等中用作像素电极的透明导电膜如氧化铟锌(ITO)或氧化铟锌(IZO)图样化的湿法蚀刻液。
技术介绍
由于透明导电膜如氧化铟锌(ITO)具有多种独特的性质,如低电阻率、高可见光透过率、膜层硬度强且对基底附着力大、优良的化学稳定性等,因而,已经广泛地应用于 LCD、PDP、OLED等平面显示领域。目前,ITO蚀刻方法主要为湿法蚀刻,采用各种无机酸/盐或有机酸的水溶液组合物。常用的无机酸有盐酸、硫酸、磷酸、硝酸、碘酸、氢溴酸,有机酸有草酸、乙酸、柠檬酸。其中,盐酸+硝酸体系,蚀刻反应剧烈,生产中无法精确控制;另外,盐酸、硝酸的挥发造成体系组分含量不恒定,以及对环境的污染。磷酸体系,蚀刻后有残渣。三氯化铁体系,蚀刻速率快,但是侧蚀量也大,且对环境污染大。碘酸或氢溴酸体系,虽然蚀刻性好,但易游离出卤素单质或挥发,不稳定且毒性大。草酸体系,蚀刻速率慢,需要较高温度条件,且低温时易析出草酸晶体。
技术实现思路
为了解决现有技术的不足,本专利技术提供一种改良的透明导电膜湿法蚀刻液组合物,该蚀刻液组合物蚀刻速率均勻稳定,无残留,不腐蚀配线,不含易挥发物质。本专利技术的技术方案如下一种透明导电膜湿法蚀刻液组合物,该蚀刻液组合物为草酸和乙酸的水溶液,其中草酸含量为0. 5-10wt%;乙酸含量为0. l-50wt%。这里所讲的酸的含量均是指其有效成分占蚀刻液组合物的质量分数。本专利技术的蚀刻液组合物若还含有0. 01-10wt%铵盐,效果较佳。上述的铵盐优选硫酸铵、硫酸氢胺、硝酸铵、碳酸铵、碳酸氢铵、氯化铵、溴化铵、甲酸铵、乙酸铵、丙酸铵、草酸铵、苯甲酸铵中的一种或两种。实际上,一般常用的铵盐均能够应用于本专利技术。本专利技术的蚀刻液组合物若还含有0. 001-10wt%表面活性剂,与上述草酸、乙酸配合使用,效果较佳;或者蚀刻液组合物若还含有0.001-10wt%表面活性剂,与上述草酸、乙酸、铵盐配合使用,效果更佳。上述的表面活性剂优选阳离子型、阴离子型、非离子型、Gemini型和两性表面活性剂中的一种或两种。上述蚀刻液组合物中,草酸含量为l-7wt% ;乙酸含量为l-30wt% ;铵盐含量为 0. l-8wt% ;表面活性剂含量为0. 01-10wt% ;余量为水;此种配比效果较佳。上述的表面活性剂优选Gemini型表面活性剂。此时的蚀刻液组合物配比也采用草酸含量为l-7wt% ;乙酸含量为l-30wt% ;铵盐含量为0. I-Swt % ;表面活性剂含量为 0. 01-10wt% ;余量为水;则效果更佳。本专利技术的蚀刻液组合物的最佳配比为草酸含量为;乙酸含量为 5-20wt% ;铵盐含量为0. 5-5wt% ;表面活性剂含量为0. l-5wt% ;余量为水。经验证,以本专利技术的上述基础配方0. 5_10wt%草酸、0. 1_50衬%乙酸为基本方案制得的透明导电膜湿法蚀刻液组合物,能够用于等离子显示器(PDP)、液晶显示器(LCD)、 有机发光二极管显示器(OLED)透明导电膜氧化铟锡(ITO)或氧化铟锌(IZO)图样化的湿法蚀刻。本专利技术具有稳定的蚀刻能力,蚀刻后无残渣,同时对铝、钼等金属配线无腐蚀,不含易挥发物质,不污染环境。具体实施例方式本专利技术提供如下透明导电膜湿法蚀刻液组合物,其含有(1)0.草酸;(2) 0. l-50wt % 的乙酸;(3)余量水。本专利技术中,草酸起均勻蚀刻的作用。草酸的含量为0.5-10wt%,优选l-7wt%,更优选.当含量小于0. 5wt%时,蚀刻速率小,蚀刻效果差;当含量大于10wt%时,得不到更好的蚀刻效果,且易结晶析出。本专利技术中,乙酸起促进蚀刻速率、调节蚀刻速率平稳、浸润板面的作用。乙酸的含量为0. l-50wt%,优选l-30wt%,更优选5-20wt% .当含量小于0. Iwt %时,起不到促进蚀刻速率、调节蚀刻速率平稳、浸润板面的作用;当含量大于50wt%时,得不到更好的促进蚀刻速率、调节蚀刻速率平稳、浸润板面的的效果。本专利技术中,还可以添加铵盐。铵盐起辅助调节蚀刻速率平稳的作用。铵盐的含量为0. Ol-IOwt %,优选0. l-8wt %,更优选0. 5-5wt % ·当含量小于0. Olwt %时,起不到辅助调节蚀刻速率作用;当含量大于10wt%时,得不到更好的辅助调节蚀刻速率的效果。作为具体例,可以选自铵盐选自硫酸铵、硫酸氢胺、硝酸铵、碳酸铵、碳酸氢铵、氯化铵、溴化铵、 甲酸铵、乙酸铵、丙酸铵、草酸铵、苯甲酸铵中的1种或2种。本专利技术中,还可以添加表面活性剂。表面活性剂的含量为0. OOl-IOwt %,优选 0. Ol-IOwt %,更优选0. l-5wt% ·当含量小于0. OOlwt %时,起不到润湿作用;当含量大于 10wt%时,得不到更好的润湿的效果,并引起体系泡沫增多。表面活性剂可以选自阳离子型、阴离子型、非离子型、Gemini型和两性表面活性剂中的1种或2种。由于Gemini型表面活性剂和单链单头基表面括性剂相比较,具有高表面活性和优良的润湿性,所以为优选。 具体例可以选自硫酸酯盐型、磺酸盐型、羧酸盐型、季铵盐型Gemini型表面活性剂中的1种或2种。本专利技术中的水优选超纯水。下面详细说明本专利技术的实施例。所述实施例用于对本专利技术进行进一步说明,但本专利技术并不限于以下实施例。一、蚀刻液制备室温搅拌条件下,在超纯水中加入乙酸、草酸,搅拌至完全溶解均勻,过滤,得到所需蚀刻液组合物。二、蚀刻效果本实验所用表面电阻8-10 Ω,膜厚约150nm的ITO玻璃基板。对玻璃基板进行清洗,烘干处理。保持蚀刻液温度为45°C,将处理过的玻璃基板浸入蚀刻液中5分钟。取出清洗,烘干后,显微镜观察。蚀刻效果250倍显微镜观察蚀刻5分钟后的玻璃基板是否有残渣。不同组分含量的蚀刻液实施例和比较例的蚀刻效果如表1所示。A 示无残渣,B 几处残渣,C 少量残渣,D 较多残渣。表1不同浓度蚀刻液的蚀刻效果(45°C,5min.)权利要求1.一种透明导电膜湿法蚀刻液组合物,其特征在于该蚀刻液组合物为草酸和乙酸的水溶液,其中草酸含量为0. 5-10wt% ;乙酸含量为0. l-50Wt%。2.根据权利要求1所述的透明导电膜湿法蚀刻液组合物,其特征在于该蚀刻液组合物还含有0. Ol-IOwt %铵盐。3.根据权利要求2所述的透明导电膜湿法蚀刻液组合物,其特征在于所述的铵盐选自硫酸铵、硫酸氢胺、硝酸铵、碳酸铵、碳酸氢铵、氯化铵、溴化铵、甲酸铵、乙酸铵、丙酸铵、 草酸铵、苯甲酸铵中的一种或两种。4.根据权利要求1至3任一所述的透明导电膜湿法蚀刻液组合物,其特征在于该蚀刻液组合物还含有0. 001-IOwt %表面活性剂。5.根据权利要求4所述的透明导电膜湿法蚀刻液组合物,其特征在于所述的表面活性剂选自阳离子型、阴离子型、非离子型、Gemini型和两性表面活性剂中的一种或两种。6.根据权利要求5所述的透明导电膜湿法蚀刻液组合物,其特征在于所述的表面活性剂为Gemini型表面活性剂。7.根据权利要求5所述的透明导电膜湿法蚀刻液组合物,其特征在于该蚀刻液组合物中,草酸含量为l-7wt% ;乙酸含量为本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种透明导电膜湿法蚀刻液组合物,其特征在于:该蚀刻液组合物为草酸和乙酸的水溶液,其中草酸含量为0.5-10wt%;乙酸含量为0.1-50wt%。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:张军常积东李承孝
申请(专利权)人:西安东旺精细化学有限公司
类型:发明
国别省市:87

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