指示体检测装置及指示体检测方法制造方法及图纸

技术编号:6687204 阅读:254 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
一种指示体检测装置及指示体检测方法,在导体图形上能够更高速地检测指示体。指示体检测装置检测位于由导体图形构成的传感器部上的指示体,所述导体图形由配置在第一方向上的多个导体和配置在与第一方向交叉的第二方向上的多个导体构成。具备:代码供给电路,生成代码相互不同的多个代码串,向构成导体图形的配置在第一方向上的多个导体分别供给预定的代码串;相关值运算用代码供给电路,用于供给与多个代码串分别对应的相关值运算用代码;以及相关运算电路,用于对配置在第二方向上的各导体上产生的信号和相关值运算用代码进行相关运算,根据通过相关运算电路求出的相关运算结果检测位于导体图形上的指示体。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种,更具体地讲,涉及能够高速 地检测多个指示体的。
技术介绍
以往,作为在触摸屏等中使用的手指、专用笔等指示体的位置检测的方式,例如提 出了电阻膜方式、静电耦合方式(静电电容方式)等各种传感器方式。其中,近年来积极进 行静电耦合方式的指示体检测装置的开发。静电耦合方式有表面型(Surface Capacitive Type)和投影型(Projected Capacitive Type)这两种方式。表面型例如应用于ATM (Automated Teller Machine:自动 柜员机)等,投影型例如应用于移动电话等中。其中,两种方式都是检测传感器电极与指示 体(例如手指、静电笔等)之间的静电耦合状态的变化,检测指示体的位置。投影型静电耦合方式的指示体检测装置例如在玻璃等透明基板、透明薄膜上以预 定的图形形成有电极,其检测指示体靠近时的指示体与电极的静电耦合状态的变化。以往, 关于这种方式的指示体检测装置,提出了用于优化其结构的各种技术(例如参照专利文献 1至3)。其中,在专利文献1中,记载有将使用了正交扩频码的代码分割复用方式应用于多 用户触摸系统中的技术。在专利文献2中记载有使用了伪随机信号的坐标输入装置。并且, 在专利文献3中记载有在静电电容型坐标装置中使用的笔。以往,提出了从投影型静电耦合方式发展而来的被称作交叉点静电耦合方式的指 示体检测装置,在这里,参照附图简单说明交叉点静电耦合方式的指示体检测装置的动作。 图75(a)及图75(b)分别表示交叉点静电耦合方式的指示体检测装置中的传感器部的简要 结构和输出信号波形。通常,传感器部900具备由多个发送导体902构成的发送导体组901和由多个接 收导体904构成的接收导体组903。其中,在发送导体组901和接收导体组903之间形成 有绝缘层。发送导体902是向预定方向(图75(a)中的X方向)延伸的具有预定形状的导 体,多个发送导体902相互分离预定间隔而并列配置。并且,接收导体904是向与发送导体 902的延伸方向交叉的方向(图75(a)中的Y方向)延伸的具有预定形状的导体,多个接收 导体904相互分离预定间隔而并列配置。在使用了这种结构的传感器部900的指示体检测装置中,例如向预定的发送导体 902供给预定的信号,在每个交叉点检测供给有该预定的信号的发送导体902和接收导体 904之间的交叉点(下面称作交叉点)流动的电流的变化。在这里,在该传感器部900上放 置手指等指示体910的位置,发送导体902上流动的电流的一部分经由指示体910分流,从 而流入接收导体904的电流发生变化。因此,通过检测供给有信号的发送导体902和电流 发生变化的接收导体904之间的交叉点,可检测出指示体910的位置。并且,在交叉点静电 耦合方式的指示体检测装置中,由于在传感器部900上形成的多个交叉点分别检测电流变 化,因而可同时检测多个指示体。在这里,进一步具体说明交叉点静电耦合方式的位置检测原理。例如,现在考虑如 图75(a)所示地向发送导体Y6供给预定的信号,检测指示体910(例如手指)在发送导体Y6 上的指示位置的例子。首先,在向发送导体Y6供给信号的状态下,通过差动放大器905检 测流流过接收导体&及)(2的电流之差。接着,预定时间之后,将与差动放大器905连接的 接收导体切换为\及&,检测流过两个接收导体\及\之间的电流差。反复该动作直到 接收导体Xm为止。并且,求出发送导体Y6与接收导体的各交叉点的位置的差动放大器905的输出信 号的电平变化。图75(b)表示其特性。图75(b)的特性的横轴表示接收导体& Xm按时 间依次被选择并与差动放大器905连接而输出的检测信号。其中,图75(b)中的虚线所示 的特性表示从差动放大器905输出的信号的电平变化,实线的特性表示差动放大器905的 输出信号的积分值的变化。如图75(a)所示,由于在发送导体\上与接收导体的交叉点附近放置有 指示体910(手指),因而流经该交叉点附近的电流发生变化。因此,如图75(b)所示,在发 送导体Y6上的与接收导体\及XM-5的交叉点附近所对应的位置上,差动放大器905的输出 信号发生变化,其积分值发生变化。根据该积分值的变化,可检测指示体910的位置。在现 有的指示体检测装置中,对各发送导体902进行切换而进行如上所述的检测。专利文献1 日本特开2003-22158号公报专利文献2 日本特开平9_22四47号公报专利文献3 日本特开平10-161795号公报在如上所述的现有的交叉点静电耦合方式的指示体检测装置中,对构成各交叉点 的各发送导体及接收导体进行信号的供给和接收处理,从而进行指示体的位置检测处理。 因而存在对全部交叉进行位置检测处理时该处理需要很长时间的问题。例如,在具有64个 发送导体和1 个接收导体的传感器部中,各交叉点的检测处理时间例如为256μ sec时, 全部交叉点(8192个)需要约kec的检测时间,不实用。
技术实现思路
鉴于上述问题,本专利技术的目的在于提供一种能够更高速地检测指示体的指示体检 测装置及指示体检测方法。本专利技术的一种指示体检测装置,用于检测位于导体图形上的指示体,导体图形由 配置在第一方向上的多个导体和配置在与第一方向交叉的第二方向上的多个导体构成,指 示体检测装置的特征在于,具备代码供给电路,用于生成代码相互不同的多个代码串,向 构成导体图形的配置在第一方向上的多个导体分别供给预定的代码串;相关值运算用代码 供给电路,用于供给与多个代码串分别对应的相关值运算用代码;以及相关运算电路,用于 对配置在第二方向上的各导体上产生的信号和相关值运算用代码进行相关运算,根据通过 相关运算电路求出的相关运算结果,检测位于导体图形上的指示体。此外,本专利技术的一种指示体检测方法,用于检测位于导体图形上的指示体,导体图 形由配置在第一方向上的多个导体和配置在与第一方向交叉的第二方向上的多个导体构 成,指示体检测方法的特征在于,包括代码供给步骤,生成代码相互不同的多个代码串,向 构成导体图形的配置在第一方向上的多个导体分别供给预定的代码串;相关值运算用代码供给步骤,用于供给与多个代码串分别对应的相关值运算用代码;以及相关运算处理步骤, 用于对配置第二方向上的各导体上产生的信号和相关值运算用代码进行相关运算,根据通 过相关运算处理步骤求出的相关运算结果,检测位于导体图形上的指示体。在本专利技术中,具备代码供给电路,用于生成代码相互不同的多个代码串,向构成 导体图形的配置在第一方向上的多个导体分别供给预定的代码串;相关值运算用代码供给 电路,用于供给与多个代码串分别对应的相关值运算用代码;以及相关运算电路,用于对配 置在第二方向上的各导体上产生的信号和相关值运算用代码进行相关运算,根据通过相关 运算电路求出的相关运算结果,检测位于导体图形上的指示体。因此,根据本专利技术,在交叉 点静电耦合方式的指示体检测装置中,能够更高速地同时检测多个指示体的存在及其指示 位置。附图说明图1是本专利技术的第一实施方式的指示体检测装置的简要框结构图。图2是第一实施方式的指示体检测装置的传感器部的简要剖视图。图3是第一实施方式的指示体检测装置的扩频码供给电本文档来自技高网
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【技术保护点】
1.一种指示体检测装置,用于检测位于导体图形上的指示体,上述导体图形由配置在第一方向上的多个导体和配置在与上述第一方向交叉的第二方向上的多个导体构成,上述指示体检测装置的特征在于,具备:代码供给电路,用于生成代码相互不同的多个代码串,向构成上述导体图形的配置在第一方向上的多个导体分别供给预定的代码串;相关值运算用代码供给电路,用于供给与上述多个代码串分别对应的相关值运算用代码;以及相关运算电路,用于对配置在上述第二方向上的各导体所产生的信号和上述相关值运算用代码进行相关运算,根据通过上述相关运算电路求出的相关运算结果检测位于上述导体图形上的指示体。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员:小田康雄杉山义久山本定雄
申请(专利权)人:株式会社和冠
类型:发明
国别省市:JP

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