本发明专利技术涉及碳化硅半导体装置。存在难以不增加工序数而制造抑制了特性不均的碳化硅半导体装置的问题。本发明专利技术的碳化硅半导体装置具备：作为第一导电型的碳化硅半导体衬底的Ｎ型ＳｉＣ衬底（１）和Ｎ型ＳｉＣ外延层（２）；多个凹陷部（１０），断续地形成在Ｎ型ＳｉＣ外延层（２）的表面；作为第二导电型的半导体层的Ｐ型区域（５），在多个凹陷部（１０）的各底面中形成于Ｎ型ＳｉＣ外延层（２）；以及肖特基电极（６），有选择地形成在Ｎ型ＳｉＣ外延层（２）的表面上，多个凹陷部（１０）的深度全部相等。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及碳化硅半导体装置，特别涉及具有使用了碳化硅的、JBS(Junction Barrier controlled Schottky diode，结势垒控制肖特基二极管)或 MPS(Merged P-i-N/ Schottky diode，肖特基P-i-N混合整流二极管)结构的碳化硅半导体装置。
技术介绍
在碳化硅半导体装置中使用的碳化硅，与硅相比绝缘击穿电场为大约10倍，此外 与硅相比具有大约宽3倍的能带隙。因此与现在使用的作为利用了硅的半导体装置的功率 元件相比，使用了碳化硅的功率元件具有低电阻、能够高温工作的特征。特别是在使用了碳 化硅的SBD(肖特基势垒二极管)、M0SFET，以相同的耐压的条件与现在使用的利用了硅的 pn 二极管、IGBT相比的情况下，工作时的损失小而被非常期待。特别是肖特基二极管的元 件结构简单，正积极地进行面向实用化的开发。肖特基二极管的课题是，在以高耐压化为目的的情况下，反偏压施加时的漏电流 增大，以及通电时的损失变大。作为其对策，提出了 JBS(Junction Barrier controlled Schottky diode，结势垒控制肖特基二极管)或 MPS(Merged P-i-N/Schottky diode，肖特 基P-i-N混合整流二极管)。这些结构的特征均是在肖特基电极下、电极端、电极周围部形 成有P型的区域。专利文献1 日本专利第3630594号专利文献2 日本专利第3551154号例如在专利文献1中，在肖特基电极下和电极端形成有深度、浓度不同的P型区 域。在该情况下，存在为了形成不同的P型区域必须进行2次离子注入的问题。此外在专 利文献2中，在肖特基电极下、电极端、周围部形成有相同深度、浓度的P型区域，但由于没 有形成掩模配置时的重合标记，所以存在重合时的偏移导致特性不均变大的问题。在现有的使用了碳化硅的JBS或MPS结构中，难以不增加工序数而制造抑制了上 述那样的特性不均的碳化硅半导体装置。
技术实现思路
本专利技术正是为了解决上述问题而完成的，其目的在于提供一种碳化硅半导体装 置，其能够不增加工序数而制造，并且抑制了特性不均。本专利技术的碳化硅半导体装置具备第一导电型的碳化硅半导体衬底；多个凹陷 部，断续地形成在上述碳化硅半导体衬底的表面；第二导电型的半导体层，在上述多个凹陷 部的各底面中形成于上述碳化硅半导体衬底；以及肖特基电极，有选择地形成在上述碳化 硅半导体衬底的上述表面上，上述多个凹陷部的深度全部相等。根据本专利技术的碳化硅半导体装置，通过具备第一导电型的碳化硅半导体衬底； 多个凹陷部，断续地形成在上述碳化硅半导体衬底的表面；第二导电型的半导体层，在上述 多个凹陷部的各底面中形成于上述碳化硅半导体衬底；以及肖特基电极，有选择地形成在上述碳化硅半导体衬底的上述表面上，上述多个凹陷部的深度全部相等，从而能够不增加 制造工序数，抑制特性不均。附图说明图1是表示实施方式1的碳化硅半导体装置及其制造方法的图。图2是表示实施方式1的碳化硅半导体装置及其制造方法的图。图3是表示实施方式2的碳化硅半导体装置及其制造方法的图。图4是表示实施方式3的碳化硅半导体装置及其制造方法的图。图5是表示实施方式4的碳化硅半导体装置及其制造方法的图。图6是表示实施方式5的碳化硅半导体装置及其制造方法的图。附图标记说明IN型SiC衬底2N型SiC外延层3掩模4定位标记5p型区域6肖特基电极7欧姆电极10凹陷部具体实施例方式<A.实施方式1><A-1.结构〉图1是表示本专利技术的实施方式1的碳化硅半导体装置及其制造方法的图。在作为 第一导电型的碳化硅半导体衬底的N+型SiC衬底1上通过外延生长形成的N型SiC的N 型SiC外延层的表面中，形成有抗蚀剂或氧化膜等的掩模3(图1 (a))。通过使用该掩模3进行离子注入及干法蚀刻，从而在N型SiC外延层2的表面断 续地形成多个凹陷部10。进而对该凹陷部10注入离子，在多个凹陷部10的各底面形成作 为第二导电型的半导体层的P型区域5 (图1 (b))。此外，凹陷部10的一部分作为位置对准 标记的定位标记4而使用。最后，通过在N型SiC外延层2的表面上有选择地形成肖特基电极6，从而成为作 为使用了碳化硅的JBS或MPS的结构(图1 (C))。此外，在N型SiC衬底1的背面形成欧姆 电极7。该结构的特征是，各凹陷部10的深度相等，此外P型区域5的深度和浓度相等。使用同一掩模3，形成包含定位标记4的多个凹陷部10、肖特基电极6下的P型区 域5、肖特基电极6周围的P型区域5，因此，不会增加制造工序数。此外，形成的P型区域5 与在N型SiC外延层2的表面形成的情况相比形成在更深的区域，由此能够进一步缓和施 加在肖特基电极6的电场，能够抑制反偏压施加时的漏电流、通电时的损失。此外，通过如图2所示那样以使肖特基电极6端的位置成为凹陷部10的底面的方 式对其进行形成，从而肖特基电极6端形成于凹陷部10的底面的P型区域5上(图2 (b))，与在没有形成凹陷部10的N型SiC衬底1上形成的情况(图2(a))相比，缓和了电场，能 够减小反偏压施加时的漏电流。<A-2.效果〉根据本专利技术的实施方式1，在碳化硅半导体装置中，具备作为第一导电型的碳化 硅半导体衬底的N型SiC衬底1和N型SiC外延层2 ；在N型SiC外延层2的表面断续地 形成的多个凹陷部10 ；在多个凹陷部10的各底面中形成于N型SiC外延层2的、作为第二 导电型的半导体层的P型区域5 ；以及在N型SiC外延层2的表面上有选择地形成的肖特 基电极6，多个凹陷部10的深度全部相等，由此不增加制造工序数就能够抑制碳化硅半导 体装置的特性不均。此外，根据本专利技术的实施方式1，在碳化硅半导体装置中，肖特基电极6在作为半 导体层的P型区域5上具有端部，由此与在没有形成凹陷部10的N型SiC外延层2上形成 的情况相比，能够缓和电场，使反偏压施加时的漏电流变小。<B.实施方式2><B-1.结构 >图3是表示本专利技术的实施方式2的碳化硅半导体装置及其制造方法的图。在实施 方式1的碳化硅半导体装置的制造方法中，使用同一掩模3，如图3 (a)所示方式首先进行离 子注入，接着进行干法蚀刻(图3(b))。通过在相对于掩模3的SiC的选择比小(SiC的蚀 刻速度慢)的条件下进行干法蚀刻，从而凹陷部10的各侧面成为锥状。通过成为锥状，与各凹陷部10具有垂直的侧面(图3(d))的情况相比，施加到肖 特基电极6的电场被缓和(图3(c))，能够减小反偏压施加时的漏电流。此外由于仅在底面 形成有P型区域5，所以肖特基电极6的有效面积不减小，能够抑制P型区域5的形成导致 的通电时的损失增大。<B-2.效果〉根据本专利技术的实施方式2，在碳化硅半导体装置中，通过多个凹陷部10的各侧面 是锥状，从而与各凹陷部10具有垂直的侧面的情况相比，施加到肖特基电极6的电场被缓 和，能够减小反偏压施加时的漏电流。此外，通过仅在凹陷部10的底面形成P型区域5，从而肖特基电极6的有效面积不 减小，能够抑制通电时的损失增大。〈C.实施方式3><C-1.结构 >图4是表示实施方式3的碳化硅半本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种碳化硅半导体装置，具备：第一导电型的碳化硅半导体衬底；多个凹陷部，断续地形成在所述碳化硅半导体衬底的表面；第二导电型的半导体层，在所述多个凹陷部的各底面中形成于所述碳化硅半导体衬底；以及肖特基电极，有选择地形成在所述碳化硅半导体衬底的所述表面上，其中，所述多个凹陷部的深度全部相等。
【技术特征摘要】
...
【专利技术属性】
技术研发人员：樽井阳一郎，
申请(专利权)人：三菱电机株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[日本]
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。