测试装置、程序和记录介质制造方法及图纸

一种对被测试设备进行测试测试装置，包括：通过与被测试设备交换信号，对被测试设备进行测试的多个测试模块，和对多个测试模块进行控制的控制部；各个测试模块具有：测试部，与被测试设备交换信号；自我诊断部，根据被赋予的诊断数据，诊断测试部的操作；控制部向设定相同的诊断数据的自我诊断部并行提供诊断数据，向设定不同的诊断数据的自我诊断部依次提供诊断数据。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及对被测试设备进行测试的测试装置、使测试装置运行的程序、和记录 了程序的记录介质。本专利技术尤其涉及用多个测试模块对被测试设备进行测试的测试装置。
技术介绍
现有技术中已知用多个测试模块对半导体电路等被测试设备进行测试的测试装 置(例如参照专利文献1)。这些测试模块在输入输出接口中具有互换性。测试装置具有以 可更换为其他测试模块的方式保持各测试模块的多个插槽。通过这样的结构，测试装置用 多种测试模块对被测试设备进行测试。另外，测试装置具有判断这些测试模块是否能够正常运行的诊断功能。例如，考虑 回送各个测试模块的输出信号，输入到该测试模块中进行测定的测试，或者输入到其他的 测试模块中进行测定的测试等。在可更换地保持各测试模块的测试装置中，在各插槽中插入的测试模块是不确定 的。另外，每种测试模块应当实行的诊断内容不同。因此，测试装置参照表示在各个插槽中 插入什么样的测试模块的构成文档来进行与各个测试模块相对应的诊断。图7是多个测试模块的诊断操作的示意图。图7中的测试装置从测试模块A诊断 到测试模块F。测试装置的CPU根据构成文档判定对于测试模块A应当进行什么样的诊断。 另外，CPU将与判定后的诊断内容相对应的诊断数据设定在测试模块A中(处理102)。测试装置的CPU对测试模块A设定了诊断数据之后，向测试模块A提供应当进行 自我诊断的命令(处理104)。另外，测试装置的CPU在测试模块A中的自我诊断结束了之 后，对自我诊断结果进行解析(处理106)。CPU通过对于每个测试模块依次执行这样的处 理102 处理106，使全部的测试模块执行自我诊断的处理。专利文献1 专利公开2006-317256号公报专利技术的内容但是，在上述的自我诊断的处理中，由于依次进行各测试模块的自我诊断，所以直 到全部测试模块的自我诊断结束为止经过了一定的时间。在测试装置中设置多个测试模块 时，该问题尤其变得明显。于是，本专利技术的目的是提供能够解决上述问题的测试装置、程序和记录介质。该目 的是通过请求的范围中独立权利要求所记载的特征的组合来实现的，另外从属权利要求规 定了本专利技术的更有利的具体例子。为了解决上述问题，本专利技术的第1方式中，提供对被测试设备进行测试的测试装 置，包括多个测试模块，通过与被测试设备交换信号，对被测试设备进行测试；和控制部， 对多个测试模块进行控制，各个测试模块具有测试部，与被测试设备交换信号；自我诊断 部，根据被赋予的诊断数据，诊断测试部的操作；控制部向设定相同的诊断数据的自我诊断 部并行提供诊断数据，向设定不同的诊断数据的自我诊断部依次提供诊断数据。本专利技术的第2方式中，提供使对被测试设备进行测试的测试装置运行的程序，使测试装置起到通过与被测试设备交换信号而对被测试设备进行测试的多个测试模块和对 多个测试模块进行控制的控制部的作用，使各个测试模块起到与被测试设备交换信号的 测试部和根据被赋予的诊断数据来诊断测试部的操作的自我诊断部的作用；使控制部向设 定相同的诊断数据的自我诊断部并行提供诊断数据，向设定不同的诊断数据的自我诊断部 依次提供诊断数据。本专利技术的第3方式提供记录了上述程序的记录介质。另外，上述本专利技术的概要没有列举本专利技术的全部必要特征。另外，这些特征组的子 组合也构成专利技术。附图说明图1是表示一个实施方式涉及的测试装置100的结构示意图。图2是表示测试模块40的功能构成示意图。图3是说明在诊断多个测试模块40的情况下的测试装置100的动作示意图。图4是表示控制部20的功能构成示意图。图5是说明在诊断多个测试模块40的情况下的测试装置100的其他动作示意图。图6是表示计算机1900的结构示意图。图7是说明多个测试模块的诊断操作的图。附图标记说明10信息存储部，12总线布线，20控制部，22组提取部，24命令提供部，26诊断数据 提供部，40测试模块，42测试部，44自我诊断部，46设定存储器，100测试装置，200被测试 设备，1900计算机，2000CPU, 2010R0M, 2020RAM, 2030通信接口，2040硬盘驱动器，2050软盘 驱动器，2060CD-R0M驱动器，2070输入输出芯片，2075图形控制器，2080显示装置，2082主 机控制器，2084输入输出控制器，2090软盘，2095CD-R0M具体实施例方式以下，通过专利技术的实施方式说明本专利技术，不过，以下的实施方式并不限定权力范围 所涉及的专利技术，另外，在实施方式中说明的特征组合并非全部都是专利技术的解决手段所必须。图1是表示根据一个实施方式的测试装置100的结构示意图。测试装置100对半 导体电路等被测试设备200进行测试。测试装置100具有信息存储部10 ；总线布线12 ； 控制部20 ；和多个测试模块40。各个测试模块40插入到设置于测试装置100中的插槽中。插入到该插槽中的测 试模块40通过与被测试设备200交换信号，对被测试设备200进行测试。另外，各个测试模块40可以具有不同的功能。例如，某个测试模块40可以具有向 被测试模块200提供具有规定的逻辑图形的测试信号的功能，其他的测试模块40可以具有 向被测试设备200供给动作时钟、电源功率等的功能。测试装置100通过使这些多个测试 模块并行运行，对被测试设备200进行测试。再有，测试装置100可以对一个被测试设备200进行测试。在该情况下，各个测试 设备40与被测试设备200的对应插脚电连接。另外，测试装置100可以并行对多个被测试 设备200进行测试。在该情况下，各个测试模块40与对应的被测试设备200的对应插脚电 连接。控制部20具有CPU，通过总线布线12控制各个测试模块40。例如，控制部20可 以根据预先确定的测试程序控制各个测试模块40。信息存储部10存储表示在测试装置100的各个插槽中插入了具有什么样的功能 的测试模块40的模块信息。信息存储部10也可以记录对各个插槽插入的测试模块的识别 信息、表示对被测试设备200进行测试的情况下应当提供给该测试模块的控制数据等的信 息、和表示该测试模块的自我诊断中应当采用的诊断数据的信息等。再有，在每一次更换测试模块40时，可以由使用者等更新模块信息。另外，在更换 了测试模块40的情况下，测试装置100也可以检测该测试模块40的识别信息等，更新信息 存储部10所存储的模块信息。控制部20也可以在对被测试设备200进行测试的情况下，根据信息存储部10所 存储的模块信息，对各个插槽提供控制数据等。通过这样的操作，可以用多种测试模块40 对被测试设备200进行测试。另外，测试装置100具有诊断各测试模块40是否正常运行的功能。在进行测试模 块40的诊断时，控制部20根据信息存储部10所存储的模块信息，对各插槽的测试模块40 提供诊断中应当采用的诊断数据。通过这样的控制，能够执行多种测试模块40的自我诊 断。再有，诊断测试模块40的情况下，测试装置100也可以设置诊断用电路来代替被 测试设备200。诊断用电路具有例如将从各个测试模块40接收的信号输入到该测试模块 40或其他的测试模块40中的功能。图2是表示测试模块40的功能构成示意图。测试模块40具有测试部42 ；自我 诊断部44 ；和设定存储器46。测试部42通过与被本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测试装置，对被测试设备进行测试，其特征在于包括：　　多个测试模块，通过与所述被测试设备交换信号，对被测试设备进行测试；和　　控制部，对多个所述测试模块进行控制；　　各个所述测试模块具有：　　测试部，与所述被测试设备交换信号；　　自我诊断部，根据被赋予的诊断数据，诊断所述测试部的操作；　　所述控制部向设定相同的所述诊断数据的所述自我诊断部并行提供所述诊断数据，向设定不同的所述诊断数据的所述自我诊断部依次提供所述诊断数据。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

【专利技术属性】
技术研发人员：高桥公二，
申请(专利权)人：爱德万测试株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[]