试验装置、试验方法及计算机可读存储介质制造方法及图纸

[要解决的问题]在使成为检查对象的一对LED中的一个LED发光，并由另一个LED接收光，使用通过光电效应而输出的电流的电流值来检查LED的光学特性的方法中，无法一次检查多个LED的光学特性。[解决方案]一种试验装置，包含：电连接部，电连接于成为试验对象的多个发光元件各自的端子；光源部，对多个发光元件一起照射光；测定部，测定多个发光元件分别将被光源部照射的光进行光电转换并经由电连接部输出的光电信号；获取部，获取包含修正值的修正图，所述修正值是用来修正光源部对多个发光元件各自的位置照射的光的强度不均；及判定部，基于测定部的测定结果、及由获取部获取的修正图，判定多个发光元件各自是否良好。判定多个发光元件各自是否良好。判定多个发光元件各自是否良好。

【技术实现步骤摘要】
试验装置、试验方法及计算机可读存储介质


[0001]本专利技术涉及一种试验装置、试验方法及计算机可读存储介质。

技术介绍

[0002]已知有如下方法，即，使成为检查对象的一对LED(Light EmittingDiode，发光二极管)中的一个LED发光，并由另一个LED接收光，使用通过光电效应而输出的电流的电流值来检查LED的光学特性(例如，参考专利文献1、2)。[
技术介绍
文献][专利文献][专利文献1]日本专利特表2019
‑
507953号公报[专利文献2]日本专利特开2010
‑
230568号公报

技术实现思路

[专利技术要解决的问题][0003]然而，在所述方法中，必须使各LED依次发光来进行检查，无法一次检查多个LED的光学特性。[解决问题的手段][0004]本专利技术的一个方面提供一种试验装置。试验装置可包含电连接部，该电连接部电连接于成为试验对象的多个发光元件各自的端子。试验装置可包含光源部，该光源部对多个发光元件一起照射光。试验装置可包含测定部，该测定部测定由多个发光元件分别将被光源部照射的光进行光电转换并经由电连接部输出的光电信号。试验装置可包含获取部，该获取部获取包含修正值的修正图，该修正值是用来修正光源部对多个发光元件各自的位置照射的光的强度不均。试验装置可包含判定部，该判定部基于测定部的测定结果、及由获取部所获取的修正图，判定多个发光元件各自是否良好。
[0005]判定部可使用修正图中针对多个发光元件各自的位置的修正值，来修正测定部对多个发光元件分别进行测定所得的光电信号的测定值，并基于修正后的光电信号的测定值，判定多个发光元件各自是否良好。
[0006]判定部可将多个发光元件中的至少1个发光元件判定为不良，所述至少1个发光元件是利用修正图对所测得的光电信号进行修正所得的修正值处于正常范围外的发光元件。
[0007]判定部可使用如下范围作为正常范围，即，以利用修正图对多个发光元件各自所输出的光电信号进行修正所得的修正值所对应的统计量为基准的范围。
[0008]判定部可使用如下范围作为正常范围，即，测定部从发光元件群之中改变依次成为试验对象的多个发光元件的组，同时进行多次测定而获得测定结果，利用修正图对该测定结果中多个发光元件的组之间配置在相同位置的发光元件所输出的光电信号进行修正而获得修正值，以该修正值所对应的统计量为基准的范围。
[0009]试验装置可还包含第2测定部，该第2测定部测定光源部对多个发光元件各自的位
置照射的光的强度。试验装置可还包含生成部，该生成部基于第2测定部的第2测定结果生成修正图。
[0010]第2测定部可具有与多个发光元件数量相同的传感器。多个传感器可分别配置在与多个发光元件各自的位置相同的位置。
[0011]第2测定部可具有二维亮度计，该二维亮度计是用来一次测定对多个发光元件各自的位置照射的光的强度。
[0012]试验装置可还包含第2测定部，该第2测定部测定光源部对多个发光元件各自的位置照射的光中的一部分、即对若干发光元件的位置照射的光的强度。试验装置可还包含生成部，该生成部基于第2测定部的第2测定结果，插补对多个发光元件中除若干发光元件以外的其余发光元件的位置照射的光的强度，而生成修正图。
[0013]第2测定部可具有数量比多个发光元件少的传感器。多个传感器可分别配置在若干发光元件的位置。多个传感器可相互隔开预先规定的间隔。
[0014]第2测定部可具有二维亮度计，该二维亮度计是用来一次测定对若干发光元件的位置照射的光的强度。二维亮度计的像素数可比用来一次测定对多个发光元件各自的位置照射的光的强度的其它二维亮度计的像素数少。
[0015]试验装置可还包含第2测定部，该第2测定部通过沿着多个发光元件各自的位置依次移动，而依次测定光源部对多个发光元件各自的位置照射的光的强度。试验装置可还包含生成部，该生成部基于第2测定部的第2测定结果生成修正图。
[0016]试验装置可还包含校正部，该校正部利用均匀性已被校正的面光源，对第2测定部的多个传感器的测定值进行校准。
[0017]试验装置可还包含生成部，该生成部基于测定结果中多个发光元件的组之间配置在相同位置的发光元件所输出的光电信号的平均值而生成修正图，该测定结果是测定部从发光元件群之中改变依次成为试验对象的多个发光元件的组，同时进行多次测定而得。
[0018]本专利技术的一个方面提供一种试验方法。试验方法可包含如下电连接阶段，即，将电连接部电连接于成为试验对象的多个发光元件各自的端子。试验方法可包含如下照射阶段，即，对多个发光元件一起照射光。试验方法可包含如下测定阶段，即，测定多个发光元件分别将被照射的光进行光电转换并经由电连接部输出的光电信号。试验方法可包含如下获取阶段，即，获取包含修正值的修正图，所述修正值是用来修正对多个发光元件各自的位置照射的光的强度不均。试验方法可包含如下判定阶段，即，基于测定阶段的测定结果、及在获取阶段获取的修正图，判定多个发光元件各自是否良好。
[0019]本专利技术的一个方面提供一种试验装置。试验装置可包含电连接部，该电连接部电连接于成为试验对象的多个发光元件各自的端子。试验装置可包含光源部，该光源部对多个发光元件一起照射光。试验装置可包含测定部，该测定部测定多个发光元件分别将被光源部照射的光进行光电转换并经由电连接部输出的光电信号。试验装置可包含光源控制部，该光源控制部改变光源部所产生的光的强度。试验装置可包含判定部，该判定部基于在利用光源控制部改变强度时的测定部的测定结果，判定多个发光元件各自是否良好。
[0020]判定部可基于2个以上的不同强度各自之下的测定结果，计算多个发光元件各自的光电增益，将多个发光元件中光电增益处于正常范围外的至少1个发光元件判定为不良。
[0021]判定部可将在2个以上的不同强度下光电增益均处于正常范围外的至少1个发光
元件判定为不良。
[0022]判定部可将多个发光元件中的至少1个发光元件判定为不良，该至少1个发光元件是在2个以上的不同强度各自之下所测得的光电信号处于正常范围外的发光元件。
[0023]判定部可将在2个以上的不同强度下光电信号均处于正常范围外的至少1个发光元件判定为不良。
[0024]判定部可使用如下范围作为正常范围，即，以多个发光元件分别输出的光电信号所对应的统计量为基准的范围。
[0025]判定部可使用如下范围作为正常范围，即，以测定结果中多个发光元件的组之间配置在相同位置的发光元件所输出的光电信号所对应的统计量为基准的范围，该测定结果是测定部从发光元件群之中改变依次成为试验对象的多个发光元件的组，同时进行多次测定而得。
[0026]本专利技术的一个方面提供一种试验方法。试验方法可包含如下电连接阶段，即，将电连接部电连接于成为试验对象的多个发光元件各自的端子。试验方法可包含如下照射阶段，即，对多个发光元件一起照射光。试验方法可包含如下测定阶段，即，测定多本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种试验装置，包含：电连接部，电连接于成为试验对象的多个发光元件各自的端子；光源部，对所述多个发光元件一起照射光；测定部，测定所述多个发光元件分别将被所述光源部照射的光进行光电转换并经由所述电连接部输出的光电信号；获取部，获取包含修正值的修正图，所述修正值是用来修正所述光源部对所述多个发光元件各自的位置照射的光的强度不均；及判定部，基于所述测定部的测定结果、及由所述获取部获取的所述修正图，判定所述多个发光元件各自是否良好。2.根据权利要求1所述的试验装置，其中所述判定部使用所述修正图中针对所述多个发光元件各自的位置的所述修正值，来修正所述测定部对所述多个发光元件分别进行测定所得的所述光电信号的测定值，且基于修正后的所述光电信号的测定值，判定所述多个发光元件各自是否良好。3.根据权利要求1或2所述的试验装置，其中所述判定部将所述多个发光元件中的至少1个发光元件判定为不良，所述至少1个发光元件是利用所述修正图对所测得的所述光电信号进行修正所得的修正值处于正常范围外的发光元件。4.根据权利要求3所述的试验装置，其中所述判定部使用如下范围作为所述正常范围，即，以利用所述修正图对所述多个发光元件各自所输出的所述光电信号进行修正所得的修正值所对应的统计量为基准的范围。5.根据权利要求3所述的试验装置，其中所述判定部使用如下范围作为所述正常范围，即，所述测定部自发光元件群之中改变依次成为试验对象的所述多个发光元件的组，同时进行多次测定而获得测定结果，利用所述修正图对所述测定结果中所述多个发光元件的组之间配置在相同位置的发光元件所输出的所述光电信号进行修正而获得修正值，以所述修正值所对应的统计量为基准的范围。6.根据权利要求1至5中任一项所述的试验装置，其还包含：第2测定部，测定所述光源部对所述多个发光元件各自的位置照射的光的强度；及生成部，基于所述第2测定部的第2测定结果，生成所述修正图。7.根据权利要求6所述的试验装置，其中所述第2测定部具有与所述多个发光元件数量相同的传感器，多个所述传感器分别配置在与所述多个发光元件各自的位置相同的位置。8.根据权利要求6所述的试验装置，其中所述第2测定部具有二维亮度计，所述二维亮度计是用来一次测定对所述多个发光元件各自的位置照射的光的强度。9.根据权利要求1至5中任一项所述的试验装置，其还包含：第2测定部，测定所述光源部对所述多个发光元件各自的位置照射的光中的一部分、即对若干发光元件的位置照射的光的强度；及生成部，基于所述第2测定部的第2测定结果，插补对所述多个发光元件中除所述若干
发光元件以外的其余发光元件的位置照射的光的强度，而生成所述修正图。10.根据权利要求9所述的试验装置，其中所述第2测定部具有数量比所述多个发光元件少的传感器，多个所述传感器分别配置在所述若干发光元件的位置，所述多个传感器相互隔开预先规定的间隔。11.根据权利要求9所述的试验装置，其中所述第2测定部具有二维亮度计，所述二维亮度计是用来一次测定对所述若干发光元件的位置照射的光的强度；且所述二维亮度计的像素数比用来一次测定对所述多个发光元件各自的位置照射的光的强度的其它二维亮度计的像素数少。12.根据权利要求1至5中任一项所述的试验装置，其还包含：第2测定部，通过沿着所述多个发光元件各自的位置依次移动，而依次测定所述光源部对所述多个发光元件各自的位置照射的光的强度；及生成部，基于所述第2测定部的第2测定结果，生成所述修正图。13.根据权利要求7或10所述的试验装置，其还包含校正部，所述校正部利用均匀性已被校正的面光源，对所述第2测定部的所述多个传感器的测定值进行校准。14.根据权利要求1至5中任一项所述的试验装置，其还包含生成部，所述生成部基于测定结果中所述多个发光元件的组之间配置在相同位置的发光元件所输出的所述光电信号的平均值，而生成所述修正图，所述测定结果是所述测定部从发光元件群之中改变依次成为试验对象的所述多个发光元件的组，同时进行多次测定而得。15.一种试验方法，包含：电连接阶段，将电连接部电连接于成为试验对象的多个发光元件各自的端子；照射阶段，对所述多个发光元件一起照射光；测定阶段，测定所述多个发光元件分别将被照射的光进行光电转换并经由所述电连接部输出的光电信号；获取阶段，获取包含修正值的修正图，所述修正值是用来修正对所述多个发光元件各自的位置照射的光的强度不均；及判定阶段，基于所述测定阶段的测定结果、及在所述获取阶段获取的所述修正图，判定所述多个发光元件各自是否良好。16.一种试验装置，包含：电连接部，电连接于成为试验对象的多个发光元件各自的端子；光源部，对所述多个发光元件一起照射光；测定部，测定所述多个发光元件分别将被所述光源部照射的光进行光电转换并经由所述电连接部输出的光电信号；光源控制部，改变所述光源部发出的所述光的强度；及判定部，基于利用所述光源控制部使所述强度改变时的所述测定部的测定结果，判定所述多个发光元件各自是否良好。17.根据权利要求16所述的试验装置，其中所述判定部
基于2个以上的不同的所述强度各自之下的所...

【专利技术属性】
技术研发人员：长谷川宏太郎，宫内康司，歌丸刚，
申请(专利权)人：爱德万测试株式会社，
类型：发明
国别省市：