检查装置、检查方法以及记录介质制造方法及图纸

检查装置对层叠有片状的光学部件的被检查体进行检查，该检查装置具有：带电部，其使光学部件带电；以及检查部，其对光学部件带电的状态下的被检查体进行检查。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及检查装置、检查方法、程序以及记录介质。
技术介绍
以往，公知有对背光灯板等被检查体进行检查的检查装置(例如，参照专利文献1)。专利文献1的检查装置具有从正上方拍摄背光灯板的线传感器照相机和从斜上方拍摄背光灯板的2个线传感器照相机，构成为根据这些线传感器照相机的拍摄结果来检测不良。因此，与通过使1个线传感器照相机移动而变更线传感器照相机相对于背光灯板的角度，并拍摄背光灯板的情况相比，能够实现检查时间的缩短。现有技术文献专利文献专利文献1：日本特开2007-333449号公报
技术实现思路
专利技术要解决的课题这里，在层叠了片状的光学部件的被检查体中，容易在光学部件之间产生间隙。并且，在检查装置进行检查时，在光学部件之间产生了间隙的情况下，因该间隙而产生亮度不均，由此缺陷的判别变得困难，因此难以实现缺陷检测的精度提高。另外，在专利文献1的检查装置中也存在相同的问题。本专利技术是为了解决上述的课题而完成的，本专利技术的目的在于，提供能够实现缺陷检测的精度提高的检查装置、检查方法、程序以及记录介质。用于解决课题的手段本专利技术的检查装置对层叠有片状的光学部件的被检查体进行检查，该检查装置具有：带电部，其使光学部件带电；以及检查部，其对光学部件带电的状态下的被检查
体进行检查。通过以这种方式构成，在检查时，通过使光学部件相互吸附，能够减少光学部件间的间隙。由此，由于能够抑制因间隙引起的亮度不均，能够容易检测缺陷。其结果为，能够实现缺陷检测的精度提高。在上述检查装置中，也可以具有除电部，该除电部对由检查部检查后的被检查体进行除电。如果以这种方式构成，则在检查后，能够抑制灰尘等附着，并且抑制静电破坏的产生。在上述检查装置中，也可以具有保护被检查体的保护电路。如果以这种方式构成，则在检查时能够抑制被检查体破损。在上述检查装置中，检查部也可以包含：拍摄部，其拍摄被检查体；以及判定部，其根据拍摄部的拍摄结果来判定缺陷的有无。如果以这种方式构成，则能够根据拍摄结果来判定缺陷的有无。在上述检查装置中，被检查体也可以包含背光灯。如果以这种方式构成，则能够检查背光灯。本专利技术的检查方法，对层叠有片状的光学部件的被检查体进行检查，包含如下的工序：使光学部件带电；以及对光学部件带电的状态下的被检查体进行检查。通过以这种方式构成，在检查时，通过使光学部件相互吸附而能够减少光学部件间的间隙。由此，由于能够抑制因间隙引起的亮度不均，因此能够容易检测缺陷。其结果为，能够实现缺陷检测的精度提高。本专利技术的程序用于使计算机执行上述的检查方法。本专利技术的记录介质记录有用于使计算机执行上述的检查方法的程序。专利技术效果根据本专利技术的检查装置、检查方法、程序以及记录介质，能够实现缺陷检测的精度提高。附图说明图1是示出本专利技术的一实施方式的检查装置的概略结构的框图。图2是示出由检查装置检查的背光灯的一例的分解立体图。图3是示出图1的检查装置的保护电路的电路图。图4是示出将背光灯带电前的状态的示意图。图5是示出将背光灯带电的状态的示意图。图6是示出比较例的检查装置的检查结果的曲线图。图7是示出与本实施方式对应的实施例的检查装置的检查结果的曲线图。具体实施方式以下，参照附图对本专利技术的实施方式进行说明。首先，参照图1～图3对本专利技术的一实施方式的检查装置100的概略结构进行说明。检查装置100(参照图1)构成为检查背光灯200(参照图2)。具体而言，检查装置100构成为根据使背光灯200点亮时的亮度不均来判定在背光灯200的俯视观察的各位置处是否存在缺陷。另外，作为缺陷的原因的一例列举出灰尘等异物的侵入或者损伤等。这里，由检查装置100检查的背光灯200例如是从背面照明液晶的面光源装置。另外，背光灯200是本专利技术的“被检查体”的一例。如图2所示，该背光灯200具有：多个LED(发光二极管)201、导光板202、扩散片203、棱镜片204和205、收纳它们的框架206、以及设置于框架206的下表面侧的反射板207。另外，导光板202、扩散片203、棱镜片204和205是本专利技术的“光学部件”的一例。多个LED201设置于FPC(柔性印刷配线板)208，被配置为沿着导光板202的侧面隔着规定的间隔。导光板202构成为使从LED201射出的光进行面发光。在导光板202的上表面上层叠有扩散片203、棱镜片204和205。在棱镜片205的上表面的外缘部和框架206的上表面侧粘贴具有遮光性的双面带209。并且，在这样的背光灯200中，由于导光板202、扩散片203、棱镜片204和205是薄片状的部件，因此即使是良品，在导光板202与扩散片203之间、在扩散片203与棱镜片204之间、以及在棱镜片204与棱镜片205之间会产生间隙H(参照图4)。因此，在本实施方式的检查装置100中，构成为在减去间隙H的状态下检查背光灯200。具体而言，如图1所示，检查装置100具有带电部1、检查部2以及除电部3。带电部1是为了使背光灯200的导光板202、扩散片203、棱镜片204和205带电而设置的。该带电部1构成为使阴离子N(参照图4)产生并且向背光灯200的表面200a(参照图4)供给该阴离子N。检查部2构成为对导光板202、扩散片203、棱镜片204和205带电的状态下的背光灯200(参照图5)进行检查。该检查部2包含：拍摄背光灯200的拍摄部21；对由拍摄部21拍摄的图像数据进行处理的数据处理部22；以及根据由数据处理部22处理后的数据来判定缺陷的有无的判定部23。拍摄部21是例如区域传感器，具有对背光灯200的表面200a的整体进行拍摄的功能。数据处理部22构成为根据规定的算法对由拍摄部21得到的图像数据进行处理。判定部23构成为根据由数据处理部22处理后的数据来判定背光灯200的各位置处的亮度是否在规定范围内。并且，判定部23对于亮度在规定范围内的部分判定为不存在缺陷，对于亮度在规定范围外的部分判定为存在缺陷。除电部3是为了对由检查部2检查出的背光灯200进行除电而设置的。该除电部3构成为使阳离子和阴离子产生并且向背光灯200的表面200a供给该阳离子和阴离子。除电部3具有对吸附在背光灯200的表面200a上的阴离子N进行中和而去除的功能。并且，如图3所示，在检查装置100中设置有直流电源4和保护电路5。直流电源4是为了在检查时使背光灯200点亮而设置的。保护电路5配置在直流电源4与背光灯200之间，是为了抑制过电流流过背光灯200的LED201而设置的。具体而言，保护电路5包含齐纳二极管5a，该齐纳二极管5a的阳极与直流电源4的负极侧连接，齐纳二极管5a的阴极与直流电源4的正极侧连接。另外，在检查装置100中设置有用于控制检查装置100的计算机(省略图示)。该计算机具有记录介质，该记录介质记录了用于执行后述的检查方法的程序。即，检查装置100控制为通过利用计算机执行程序而利用计算机进行后述的检查方法。－检查方法－接着，参照图1～图5，对本实施方式的检查装置100的背光灯200的检查方法进行说明。首先，作为检查对象的背光灯200(参照图2)设置于分度盘等搬送装置(省略
图示)。并且，如图3所示，背光灯200经由保护电路5与直流电源4连接。然后，通过搬送装置将背光灯2本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种检查装置，其对层叠有片状的光学部件的被检查体进行检查，该检查装置的特征在于，该检查装置具有：带电部，其使所述光学部件带电；以及检查部，其对所述光学部件带电的状态下的所述被检查体进行检查。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2014.02.25 JP 2014-0338041.一种检查装置，其对层叠有片状的光学部件的被检查体进行检查，该检查装置的特征在于，该检查装置具有：带电部，其使所述光学部件带电；以及检查部，其对所述光学部件带电的状态下的所述被检查体进行检查。2.根据权利要求1所述的检查装置，其特征在于，该检查装置具有除电部，该除电部对由所述检查部检查后的所述被检查体进行除电。3.根据权利要求1或2所述的检查装置，其特征在于，该检查装置具有保护电路，该保护电路保护所述被检查体。4.根据权利要求1至3中的任...

【专利技术属性】
技术研发人员：近藤正敬，北岛功朗，稻叶丰，
申请(专利权)人：欧姆龙株式会社，
类型：发明
国别省市：日本;JP