主动元件阵列以及检测方法技术

本发明专利技术提供一种主动元件阵列以及检测方法，所述一种主动元件阵列包括多条扫描线、多条数据线、多个像素结构、一第一检测线路、一第二检测线路、一第三检测线路以及一第四检测线路。各像素结构电连接其中一条扫描线与其中一条数据线。第一检测线路电连接奇数条的扫描线。第二检测线路电连接第４ｎ＋１条的扫描线。在此，ｎ为０或正整数。第三检测线路电连接偶数条的扫描线。第四检测线路电连接第４ｎ＋２条的扫描线。本发明专利技术的主动元件阵列及检测方法可以有效地检测出线路中的缺陷，而有助于提升主动元件阵列的成品率。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术是有关于一种主动元件阵列及检测方法，且特别是有关于一种可有效检出 短路缺陷的主动元件阵列及检测方法。
技术介绍
一般而言，液晶显示面板包括一主动元件阵列基板、一对向基板及夹于两基板间 的液晶层。主动元件阵列基板在制造完成之后必须对其主动元件阵列进行检测，以确定主 动式液晶显示面板能正常地进行显示。目前，主动元件阵列的检测多着眼于像素结构能否正常的进行显示。若主动元件 阵列的其他线路出现缺陷，例如是短路或断路，往往会在液晶显示器或液晶显示面板组装 完成后才会进一步被检测出来。换言之，目前的检测方法中，主动元件阵列中某些传输线路上的缺陷是在液晶显 示面板组装完成后才被检测出来。因此，这样的缺陷若使得产品无法正常运作则整个液晶 显示面板必须报废，而浪费许多成本。特别是，在主动元件阵列的线路布局中，为了节省布 线面积，传输线路必须紧密地排列。此时，线路之间的短路缺陷更容易出现而液晶显示面板 的报废率以及成本的浪费也可能随之提升。
技术实现思路
本专利技术提供一种主动元件阵列，其检测线路设计可有效检测出线路间的缺陷。本专利技术提供一种检测方法，可有效检测出主动元件阵列中的短路缺陷。本专利技术提供一种主动元件阵列，其包括多条扫描线、多条数据线、多个像素结构、 一第一检测线路、一第二检测线路、一第三检测线路以及一第四检测线路。扫描线彼此平行 排列，以在扫描线的延伸方向上定义出相对的一第一区以及一第二区。数据线的延伸方向 与扫描线的延伸方向相交，且数据线位于第一区以及第二区之间。像素结构位于第一区以 及第二区之间，且各像素结构由其中一条扫描线与其中一条数据线驱动。第一检测线路位 于第一区，并电连接奇数条的扫描线。第二检测线路位于第一区，并电连接第如+1条的扫 描线，在此，η为0或正整数。第三检测线路位于第二区，并电连接偶数条的扫描线。第四 检测线路位于第二区，并电连接第如+2条的扫描线。本专利技术另提出一种检测方法，以检测如前所述的主动元件阵列。检测方法包括有 以下步骤。由第一检测线路输入第一检测信号于奇数条的扫描线中，并判断与奇数条的扫 描线连接的部分像素结构是否被点亮。由第二检测线路输入第二检测信号于第如+1条的 扫描线中，而与第如+3条的扫描线连接的部分像素结构被点亮时，视为缺陷产生。由第三 检测线路输入第三检测信号于偶数条的扫描线中，并判断与偶数条的扫描线连接的部分像 素结构是否被点亮。由第四检测线路输入第四检测信号于第如+2条的扫描线中，而与第 如+4条的扫描线连接的部分像素结构被点亮时，视为缺陷产生。基于上述，本专利技术的主动元件阵列及检测方法可以有效地检测出线路中的缺陷，而有助于提升主动元件阵列的成品率。附图说明图1所示为本专利技术的附图标号100:主动元件阵列120:数据线124:第二数据线检测132:主动元件140:第一检测线路144:第一检测垫150:第二检测线路154:第二检测垫160 第三检测线路164:第三检测垫170:第四检测线路174:第四检测垫180 第一传输线路com 共用线路Ge 第三检测信号Go 第一检测信号Rl 第一区SW:开关线路一实施例的主动元件阵列。 110:扫描线122 第一数据线检测线路 线路 130 像素结构 134 像素电极 142 第一检测线 146 第一检测开关 152 第二检测线 156 第二检测开关 162 第三检测线 166 第三检测开关 172 第四检测线 176 第四检测开关 190 第二传输线路 Cs 储存电容 Geh 第四检测信号 Goh 第二检测信号 R2 第二区具体实施例方式为让本专利技术的上述特征和优点能更明显易懂，下文特举实施例，并配合所附附图 作详细说明如下。图1所示为本专利技术的一实施例的主动元件阵列。请参照图1，主动元件阵列100包 括多条扫描线110、多条数据线120、多个像素结构130、一第一检测线路140、一第二检测线 路150、一第三检测线路160以及一第四检测线路170。扫描线110彼此平行排列，以在扫 描线110的延伸方向上定义出相对的一第一区Rl以及一第二区R2。换言之，第一区Rl与 第二区R2分别地位于扫描线110延伸方向上相对的两端。数据线120的延伸方向与扫描 线110的延伸方向相交，且数据线120位于第一区Rl以及第二区R2之间。像素结构130 也是位于第一区Rl以及第二区R2之间，且各像素结构130由其中一条扫描线110与其中 一条数据线120驱动。当主动元件阵列100应用于显示面板时，像素结构130是进行显示的主要元件。所 以，像素结构130所在区域例如为显示区(未标示)，而第一区Rl以及第二区R2则为不显 示画面的非显示区(未标示)。实际上，像素结构130例如包括有主动元件132以及像素电 极 134。第一检测线路140位于第一区R1，并电连接奇数条的扫描线110。第二检测线路 150位于第一区R1，并电连接第如+1条的扫描线110。第三检测线路160位于第二区R2， 并电连接偶数条的扫描线110。第四检测线路170位于第二区R2，并电连接第如+2条的扫 描线110。在此，η为0或正整数。在本实施例中，第一检测线路140与第三检测线路160例如由相似的构件所组成。 第一检测线路140包括一第一检测线142、一第一检测垫144以及多个第一检测开关146。 第一检测垫144位于第一检测线142的一端。第一检测开关146连接于奇数条的扫描线 110与第一检测线142之间，以使第一检测信号Go由第一检测垫144经由第一检测线142 以及第一检测开关146传送至奇数条的扫描线110。第三检测线路160则包括一第三检测线162、一第三检测垫164以及多个第三检测 开关166。第三检测线路160的各构件的连接关系与第一检测线路140相似，不过第三检 测线路160是与偶数条的扫描线110电连接。也就是说，第三检测信号Ge是由第三检测垫 164经由第三检测线162以及第三检测开关166传送至偶数条的扫描线110。在本实施例中，第一检测开关146与第三检测开关166可以控制第一检测信号Go 与第三检测信号Ge传送至对应的扫描线110与否。第一检测开关146与第三检测开关166 例如都是由多个晶体管元件所组成。当然，在其他的实施例中，第一检测开关146与第三检 测开关166也可以由其他可提供开关作用的元件所组成。另外，第二检测线路150与第四检测线路170则例如是相似的设计。详言之，第二 检测线路150包括一第二检测线152、一第二检测垫154以及多个第二检测开关156。第二 检测垫巧4位于第二检测线152的一端。第二检测开关156连接于第如+1条的扫描线110 与第二检测线152之间，以使第二检测信号Goh由第二检测垫巧4经由第二检测线152以 及第二检测开关156传送至第如+1条的扫描线110。相似地，第四检测线路170包括一第四检测线172、一第四检测垫174以及多个第 四检测开关176，且这些元件的连接关系近似于第二检测线路150的设计。不过，第四检测 线路170的设计使得第四检测信号Geh由第四检测垫174经由第四检测线172以及第四检 测开关176传送至第如+2条的扫描线110。在此，第二检测开关156以及第四检测开关176 例本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种主动元件阵列，其特征在于，所述主动元件阵列包括：多条扫描线，彼此平行排列，以在所述这些扫描线的延伸方向上定义出相对的一第一区以及一第二区；多条数据线，所述这些数据线的延伸方向与所述这些扫描线的延伸方向相交，且所述这些数据线位于所述第一区以及所述第二区之间；多个像素结构，位于所述第一区以及所述第二区之间，且各所述像素结构由其中一所述扫描线与其中一所述数据线驱动；一第一检测线路，位于所述第一区，并电连接奇数条的所述这些扫描线；一第二检测线路，位于所述第一区，并电连接第４ｎ＋１条的所述这些扫描线，其中ｎ为０或正整数；一第三检测线路，位于所述第二区，并电连接偶数条的所述这些扫描线；以及一第四检测线路，位于所述第二区，并电连接第４ｎ＋２条的所述这些扫描线。

【技术特征摘要】
1.一种主动元件阵列，其特征在于，所述主动元件阵列包括多条扫描线，彼此平行排列，以在所述这些扫描线的延伸方向上定义出相对的一第一 区以及一第二区；多条数据线，所述这些数据线的延伸方向与所述这些扫描线的延伸方向相交，且所述 这些数据线位于所述第一区以及所述第二区之间；多个像素结构，位于所述第一区以及所述第二区之间，且各所述像素结构由其中一所 述扫描线与其中一所述数据线驱动；一第一检测线路，位于所述第一区，并电连接奇数条的所述这些扫描线； 一第二检测线路，位于所述第一区，并电连接第如+1条的所述这些扫描线，其中η为0 或正整数；一第三检测线路，位于所述第二区，并电连接偶数条的所述这些扫描线；以及 一第四检测线路，位于所述第二区，并电连接第如+2条的所述这些扫描线。2.如权利要求1所述的主动元件阵列，其特征在于，所述第一检测线路包括 一第一检测线；一第一检测垫，所述第一检测垫位于所述第一检测线的一端；以及 多个第一检测开关，连接于奇数条的所述这些扫描线与所述第一检测线之间。3.如权利要求2所述的主动元件阵列，其特征在于，所述这些第一检测开关为多个晶 体管元件。4.如权利要求1所述的主动元件阵列，其特征在于，所述第二检测线路包括 一第二检测线；一第二检测垫，所述第二检测垫位于所述第二检测线的一端；以及 多个第二检测开关，连接于第如+1条的所述这些扫描线与所述第二检测线之间。5.如权利要求4所述的主动元件阵列，其特征在于，所述这些第二检测开关为多个二 极管元件。6....

【专利技术属性】
技术研发人员：王志昌，张志铭，吴俊杰，
申请(专利权)人：胜华科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：71[中国|台湾]