微致动器校正方法技术

一种微致动器校正方法，是设定参考反射面；物镜在微致动器中循轨方向移动数个校正位置，一一进行聚焦行程，并记录平移电压与聚焦电压；设定一校正位置的聚焦电压为基准聚焦电压，计算其它校正位置聚焦电压对基准聚焦电压的偏移量；利用各校正位置的偏移量及平移电压，适应出聚焦电压偏移曲线，取得聚焦电压的偏移量，以补偿聚焦方向的电压。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种，特别是涉及光驱光学读取头中，利用微致 动器移动物镜偏移误差的校正方法。
技术介绍
一般光学读取头是利用微致动器(Actuator)承载物镜，并控制供给电压大小所 形成相对的电磁力，在磁场中水平及垂直方向驱动物镜，使物镜投射的激光束，锁定聚 焦在光盘片，以读写光盘片。如图1所示，为现有技术的微致动器1，具有一基座2，四支弹性的金属线3分 别由基座2的两侧，延伸连接在承座4的两侧，支撑承座4在基座2中漂浮移动。承座 4中央承载投射激光束的物镜5，承座4四周缠绕水平电磁线圈6，前后则设有垂直电磁 线圈7。基座2延伸L型底板8，在底板8的两端分别设磁块9，使承座4介于两磁块9 的间。微致动器1利用控制适量电压至水平电磁线圈6及垂直电磁线圈7产生不同电磁 力，与两磁块9的磁力形成交互作用，驱动承座4抵抗四支金属线3的弹性，沿着聚焦方 向F上下移动，或沿着循轨方向T左右移动。如图2所示，为微致动器1驱动物镜5聚焦的示意图。现有技术的微致动器1 固定在光学读取头10中，并随着光学读取头10粗调移动至光盘片11的目标位置附近， 即由微致动器1利用电压产生电磁力，抵抗金属线3的弹本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种微致动器校正方法，包含步骤：（１）设定参考反射面，面对微致动器；（２）该微致动器的物镜在循轨方向移动数个校正位置，一一进行聚焦行程，并记录平移电压与聚焦电压；（３）设定一校正位置的聚焦电压为基准聚焦电压，计算其它校正位置聚焦电压对该基准聚焦电压的偏移量；以及（４）利用各校正位置的偏移量及平移电压，适应出聚焦电压偏移曲线。

【技术特征摘要】
1.一种微致动器校正方法，包含步骤(1)设定参考反射面，面对微致动器；(2)该微致动器的物镜在循轨方向移动数个校正位置，一一进行聚焦行程，并记录平 移电压与聚焦电压；(3)设定一校正位置的聚焦电压为基准聚焦电压，计算其它校正位置聚焦电压对该基 准聚焦电压的偏移量；以及(4)利用各校正位置的偏移量及平移电压，适应出聚焦电压偏移曲线。2.如权利要求1所述的微致动器校正方法，其中该参考反射面为光盘片的数据层。3.如权利要求1所述的微致动器校正方法，其中该物镜是在该微致动器中循轨方向的 移动范围内，移动数个校正位置。4.如权利要求3所述的微致动器校正方法，其中该校正位置包含该物镜位于该微致动 器中央的位置，且该基准聚焦电压以该物镜位于该微致动器中央，平移电压=0的聚焦 电压设定。5.如权利要求1所述的微致动器校正方法，其中该校正方法是在开回路下进行。6.如权利要求1所述的微致动器校正方法，其中该校正方法是在闭回路下进行。7.如权利要求1所述的微致动器校正方法，其中该聚焦电压偏移曲线，可根据该物镜 在该微致动器中循轨方向移动的平移电压，计算聚焦电压的偏移量，补偿物镜在聚焦方 向的电压。8.如权利要求7所述的微致动器校正方法，其中该物镜的聚焦电压偏移的偏移量，是 由该聚焦电压偏移曲线内插或外插取得。9.如权利要求1所述的微致动器校正方法，其中该微致动器校正打印卷标的聚焦电压 时，在步骤(4)后进一步包含步骤(4-1)将标签面对着该物镜，开始进行打印标签；(4-2)根据该卷标面的打印位置，由该卷标面的聚焦电压电平曲线，计算相对的聚焦 电压电平；(4-3)根据该微致动器移动该物镜对正该打印位置的平移电压，由该聚焦电压偏移曲 线，计算该打印位置的聚焦...

【专利技术属性】
技术研发人员：苏怡宾，郭起祥，
申请(专利权)人：广明光电股份有限公司，
类型：发明
国别省市：71[中国|台湾]