微致动器校正方法技术

一种微致动器校正方法，是设定参考反射面；物镜在微致动器中循轨方向移动数个校正位置，一一进行聚焦行程，并记录平移电压与聚焦电压；设定一校正位置的聚焦电压为基准聚焦电压，计算其它校正位置聚焦电压对基准聚焦电压的偏移量；利用各校正位置的偏移量及平移电压，适应出聚焦电压偏移曲线，取得聚焦电压的偏移量，以补偿聚焦方向的电压。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种，特别是涉及光驱光学读取头中，利用微致 动器移动物镜偏移误差的校正方法。
技术介绍
一般光学读取头是利用微致动器(Actuator)承载物镜，并控制供给电压大小所 形成相对的电磁力，在磁场中水平及垂直方向驱动物镜，使物镜投射的激光束，锁定聚 焦在光盘片，以读写光盘片。如图1所示，为现有技术的微致动器1，具有一基座2，四支弹性的金属线3分 别由基座2的两侧，延伸连接在承座4的两侧，支撑承座4在基座2中漂浮移动。承座 4中央承载投射激光束的物镜5，承座4四周缠绕水平电磁线圈6，前后则设有垂直电磁 线圈7。基座2延伸L型底板8，在底板8的两端分别设磁块9，使承座4介于两磁块9 的间。微致动器1利用控制适量电压至水平电磁线圈6及垂直电磁线圈7产生不同电磁 力，与两磁块9的磁力形成交互作用，驱动承座4抵抗四支金属线3的弹性，沿着聚焦方 向F上下移动，或沿着循轨方向T左右移动。如图2所示，为微致动器1驱动物镜5聚焦的示意图。现有技术的微致动器1 固定在光学读取头10中，并随着光学读取头10粗调移动至光盘片11的目标位置附近， 即由微致动器1利用电压产生电磁力，抵抗金属线3的弹性细微移动物镜5，进行目标位 置的定位及聚焦。由于金属线3的弹性与电压的电磁力大小有一定的比例关系，微致动 器1在循轨方向T，施加一定量的电压，将移动物镜5离开未受电压的中心相对比例的位 置，以控制物镜5在循轨方向T移动定位。对循轨方向T上每一位置，同样在聚焦方向 F供给一定量电压V，可使物镜5移动相同的高度H，以控制物镜5在聚焦方向F的焦点 移动，聚焦在光盘片D的数据层。然而，微致动器1常因制造组装的误差、金属线3材质不均、线圈缠绕质量不良 及电磁线圈间相互作用，尤其在磁场变化较大的周边区域，造成物镜5未依电压大小比 例移动，导致循轨方向T位置及聚焦高度误差h。在闭回路的聚焦控制，虽然可藉由零 穿越的聚焦误差，随时将循轨方向T上不同位置的焦点锁定在光盘片D的数据层。但是 在开回路中，尤其是在无法进行聚焦的标签面，并无法消除循轨方向T上不同位置所造 的聚焦高度误差h，导致微致动器移动物镜5精度不足，不能精确在循轨方向T不同位置 上将焦点聚焦在特定位置，不利于光学读取头越来越精密的读写的要求。因此，现有技 术微致动器在移动物镜的方法上，仍有校正的问题亟待解决
技术实现思路
本专利技术的目的在提供一种，藉由校正微致动器循轨方向T上 不同位置的聚焦电压，形成聚焦电压偏移曲线，以提高微致动器聚焦精度。本专利技术另一目的在提供一种，利用不同高度的参考反射面，校正微致动器不同的 聚焦高度，形成的聚焦电压偏移曲面，以提高微致动器聚焦方向的 移动精度。本专利技术再一目的在提供一种，利用校正出的聚焦电压偏移曲 线，直接补偿卷标面的聚焦电压电平，以改善标签打印正确性。为了达到前述专利技术的目的，本专利技术的，是设定参考反射面； 物镜在微致动器中循轨方向移动数个校正位置，一一进行聚焦行程，并记录平移电压与 聚焦电压；设定一校正位置的聚焦电压为基准聚焦电压，计算其它校正位置聚焦电压对 基准聚焦电压的偏移量；利用各校正位置的偏移量及平移电压，适应出聚焦电压偏移曲 线，根据该物镜在该微致动器中循轨方向移动的平移电压，内插或外插计算聚焦电压的 偏移量，补偿物镜在聚焦方向的电压。本专利技术的，校正打印卷标的聚焦电压时，是将卷标面对着物 镜，开始进行打印标签；根据卷标面的打印位置，由卷标面预先测试出的聚焦电压电平 曲线，计算相对的聚焦电压电平；根据微致动器移动物镜对正打印位置的平移电压，由 聚焦电压偏移曲线，计算打印位置的聚焦电压偏移量；将打印位置的聚焦电压电平减去 聚焦电压偏移量，补偿聚焦电压电平，以打印标签。本专利技术另一实施例，设定数个不同高度的参考反射面，面对 微致动器；分别对该每一参考反射面，以微致动器的物镜在循轨方向移动数个校正位 置，一一进行聚焦行程，并记录平移电压与聚焦电压；设定一校正位置的聚焦电压为基 准聚焦电压，计算其它校正位置聚焦电压对基准聚焦电压的偏移量；以及利用各校正位 置不同高度参考反射面的偏移量及平移电压，适应出聚焦电压偏移曲面。附图说明图1为现有技术微致动器的立体图。图2为现有技术微致动器聚焦的示意图。图3为本专利技术微致动器进行校正的示意图。图4为本专利技术微致动器校正记录的坐标图。图5为本专利技术微致动器的聚焦电压偏移曲线。图6为本专利技术的流程图。图7为本专利技术对卷标面聚焦电压校正方法的示意图。图8为本专利技术对卷标面聚焦电压校正方法的流程图。图9为本专利技术对任一聚焦高度的比例补偿示意图。图10为本专利技术的聚焦电压偏移曲面。附图符号说明20光学读取头21微致动器22参考反射面23 物镜具体实施例方式有关本专利技术为实现上述目的，所采用的技术手段及其功效，兹举较佳实施例，并结合附图说明如下。请参考图3，图3为本专利技术微致动器进行校正的示意图。首先利用光学读取头20将微致动器21移动至一参考反射面22，使微致动器21面对平整的参考反射面22，参 考反射面22在聚焦方向F距离微致动器21预定高度K，且可以正常光盘片的数据层或卷 标层取代参考反射面22。在开回路下，分别供给不同平移电压Tv，让微致动器21驱动 物镜23在循轨方向T的移动范围内分散移动至数个校正位置。校正位置最佳包含平移电 压Τν = 0，即物镜23位于微致动器21中央的校正位置。在每一校正位置，进行聚焦行 程，供给聚焦电压Fv，在聚焦方向F上下移动物镜23，使物镜23激光束投射至参考反射 面22，达到最大的光总合讯号，作为确认聚焦在参考反射面22，并记录该校正位置的平 移电压Tv与聚焦电压Fv。如图4所示，为本专利技术微致动器的校正记录。将每一校正位置所记录的平移电 压Tv与聚焦电压Fv，列于坐标图。显示数个校正位置对相同高度的参考反射面，聚焦电 压Fv并不相同。设定一校正位置的聚焦电压为基准聚焦电压FvO，因物镜位于微致动器中 央，平移电压Τν = 0，电磁的交互作用最少的校正位置，最佳以其聚焦电压设为基准聚焦 电压FvO。计算出其它校正位置聚焦电压Fv对基准聚焦电压FvO的偏移聚焦电压Δ V。如图5所示，为本专利技术微致动器的聚焦电压偏移曲线。将计算出的各校正位置 的偏移聚焦电压Δ V及其平移电压Τν，列为图中的坐标图。即可利用数个校正位置的校 正数据，适应(Curve Fitting)出微致动器的聚焦电压偏移曲线G。因此，如参考反射面 在聚焦方向F距离微致动器的预定高度K，等于微致动器聚焦在光盘片的距离。则对于 微致动器在循轨方向T移动物镜的任何位置，即可利用其所移动物镜的平移电压Tv，由 聚焦电压偏移曲线G内插或外插，取得光盘片聚焦电压的偏移量，作为在聚焦方向F移 动物镜的电压补偿，以校正微致动器的聚焦移动误差。前述本专利技术微致动器校正的过程，虽以在开回路进行举例说明，但本专利技术校正 聚焦电压亦可在闭回路下执行。即微致动器可藉由闭回路的聚焦误差，将焦点锁在参考 反射面时，撷取包含平移电压Tv = O的数个校正位置的平移电压Tv及其相对应的聚焦电 压Fv。再依前述校正过程，同样可获得聚焦电压偏移曲线P。如图6所示，为本专利技术的流程。本专利技术利用聚焦电压偏移曲 线校正微致动器移动精度的详细步骤，说明如下首先在步骤R1，设定本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种微致动器校正方法，包含步骤：（１）设定参考反射面，面对微致动器；（２）该微致动器的物镜在循轨方向移动数个校正位置，一一进行聚焦行程，并记录平移电压与聚焦电压；（３）设定一校正位置的聚焦电压为基准聚焦电压，计算其它校正位置聚焦电压对该基准聚焦电压的偏移量；以及（４）利用各校正位置的偏移量及平移电压，适应出聚焦电压偏移曲线。

【技术特征摘要】
1.一种微致动器校正方法，包含步骤(1)设定参考反射面，面对微致动器；(2)该微致动器的物镜在循轨方向移动数个校正位置，一一进行聚焦行程，并记录平 移电压与聚焦电压；(3)设定一校正位置的聚焦电压为基准聚焦电压，计算其它校正位置聚焦电压对该基 准聚焦电压的偏移量；以及(4)利用各校正位置的偏移量及平移电压，适应出聚焦电压偏移曲线。2.如权利要求1所述的微致动器校正方法，其中该参考反射面为光盘片的数据层。3.如权利要求1所述的微致动器校正方法，其中该物镜是在该微致动器中循轨方向的 移动范围内，移动数个校正位置。4.如权利要求3所述的微致动器校正方法，其中该校正位置包含该物镜位于该微致动 器中央的位置，且该基准聚焦电压以该物镜位于该微致动器中央，平移电压=0的聚焦 电压设定。5.如权利要求1所述的微致动器校正方法，其中该校正方法是在开回路下进行。6.如权利要求1所述的微致动器校正方法，其中该校正方法是在闭回路下进行。7.如权利要求1所述的微致动器校正方法，其中该聚焦电压偏移曲线，可根据该物镜 在该微致动器中循轨方向移动的平移电压，计算聚焦电压的偏移量，补偿物镜在聚焦方 向的电压。8.如权利要求7所述的微致动器校正方法，其中该物镜的聚焦电压偏移的偏移量，是 由该聚焦电压偏移曲线内插或外插取得。9.如权利要求1所述的微致动器校正方法，其中该微致动器校正打印卷标的聚焦电压 时，在步骤(4)后进一步包含步骤(4-1)将标签面对着该物镜，开始进行打印标签；(4-2)根据该卷标面的打印位置，由该卷标面的聚焦电压电平曲线，计算相对的聚焦 电压电平；(4-3)根据该微致动器移动该物镜对正该打印位置的平移电压，由该聚焦电压偏移曲 线，计算该打印位置的聚焦...

【专利技术属性】
技术研发人员：苏怡宾，郭起祥，
申请(专利权)人：广明光电股份有限公司，
类型：发明
国别省市：71[中国|台湾]