校正片及校正方法技术

技术编号:6558901 阅读:212 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
一种校正片用以校正一影像测量仪的图像撷取装置,该校正片包括一薄片,该薄片上形成一零点标记,该薄片上形成至少一校正区,该校正区内设有若干整齐排列且尺寸相同的标准图形。该校正片通过设置若干大小各异校正区,同一校正片可适用于该图像撷取装置不同的放大倍数,同时,每一校正区内设有若干整齐排列且尺寸相同的标准图形,只需一次测量这些标准图形的参考点就可完成校正过程,无需移动校正片并多次测量,使校正过程方便、快捷。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种用于影像测量仪的图像撷取装置的。
技术介绍
影像测量仪是一种非接触式的三维测量设备,具有柔性好、快速高效的优点,其包 括一图像撷取装置,用来获得被测工件的影像。该图像撷取装置包括光学镜头及感光单元。 该感光单元通过镜头接受被测工件所反射的光,并产生电信号,这些电信号被计算机处理 后形成被测工件的影像。该感光单元通常包含若干光电转换元件,如光电二极管。由于这 些光电转换元件不可能完全分布于感光单元的同一平面上。同时,镜头中的镜片的曲面误 差、镜头中各镜片间的轴向间距、多个镜片的对中误差等不可避免的存在。这些因素使得被 测工件在图像撷取装置中实际所成的影像与理想影像之间存在不同程度的畸变,对影像测 量的精度有很大影响。 为了提高影像测量的精度,必须对上述影像畸变进行校正。 一种校正方法是先制 作一校正片,该校正片上通常设有一标准图形并在该标准图形上选取参考点,校正时,利用 影像测量仪拍摄并在一图像坐标系中测量该校正片上的标准图形的参考点的坐标值。根据 参考点的测量值与实际值计算该图像撷取装置的校正参数。为了提高校正可靠性,通常在 一定范围内移动该校正片,改变该校正片与该镜头中心的相对位置,并在不同位置对校正 片中的参考点进行多次测量,从而得到关于该参考点的若干测量值并以得到更准确的校正 参数。但是,由于需要多次移动校正片,使校正过程繁琐。
技术实现思路
鉴于以上内容,有必要提供一种,可方便、快捷地校正影像测量 仪的图像撷取装置。 —种校正片用以校正一影像测量仪的图像撷取装置,该校正片包括一薄片,该薄 片上形成一零点标记,该薄片上形成至少一校正区,该校正区内设有若干整齐排列且尺寸 相同的标准图形。 —种校正片用以校正一影像测量仪的图像撷取装置,该校正片包括一薄片,该薄 片上形成一零点标记,该薄片上形成若干大小各异的校正区,以对应该图像撷取装置不同 的放大倍数,每一校正区内设有若干整齐排列的标准图形,每一校正区的标准图形尺寸相 同。 —种利用上述的校正片的校正方法,用以校正一影像测量仪的图像撷取装置,该 影像测量仪包括一水平放置的工作台,该图像撷取装置装设于该工作台上方,该工作台可 相对该图像撷取装置沿一机械坐标系的X轴及Y轴移动,该校正方法包括以下步骤将该校 正片放置于该影像测量仪的工作台,并定义该机械坐标的原点,从而确定该校正片的任意 一点在该机械坐标系中的坐标值;定义该图像坐标系的原点;在校正片上选定一校正区, 并撷取该校正区的清晰图像;测量所选取参考点在该图像坐标系中的坐标值;及根据所选取的参考点在该机械坐标系及该图像坐标系的坐标值之间的对应关系计算出该图像撷取 装置的校正参数 该校正片的校正区内设有若干整齐排列且尺寸相同的标准图形,只需一次测量这 些标准图形的参考点就可完成校正过程,无需移动校正片并多次测量,同时,当该校正片设 置了若干大小各异校正区时,同一校正片可适用于该图像撷取装置不同的放大倍数,使校 正过程方便、快捷。附图说明 下面结合附图及较佳实施方式对本专利技术作进一步的详细描述。 图1是本专利技术校正片的较佳实施方式与一影像测量仪的立体图。 图2是图1中的校正片的平面图。 图3是图2的III处放大图。 图4是本专利技术校正方法的较佳实施方式的流程图。 具体实施例方式参考图1至图3,本专利技术校正片的较佳实施方式用以校正一影像测量仪的图像撷 取装置107。该影像测量仪与一显示设置相连用以显示该图像撷取装置107所撷取的图像。 该影像测量仪包括一与水平面平行的工作台101、一跨设于该工作台101的龙门架103及固 设于该龙门架103中部的顶罩105。该图像撷取装置107装设于该顶罩105下端。该图像 撷取装置107可以是一 CCD (Charge Coupled Device,电荷耦合器件)摄像头。该影像测量 仪还设有一 X轴传动系统、一 Y轴传动系统及一 Z轴传动系统(图未示)。该X轴传动系统 用以驱动该龙门架103沿如图1所示的机械坐标系的X轴移动,该Y轴传动系统用以驱动 该工作台101沿该机械坐标系的Y轴移动。该X轴及Y轴分别平行于该工作台101。该Z 轴传动系统用一驱动该图像撷取装置107沿该机械坐标的Z轴移动,用以使该图像撷取装 置对焦。 该校正片包括一由透明材料(如玻璃)制成的方形的薄片IO,该薄片IO上形成若 干大小各异的校正区20及一圆形的零点标记30。各个校正区20分别对应该图像撷取装置 107的不同放大倍数。每一校正区20是一由若干形状相同的标准图形22整齐排列而成的 矩形区域。在本实施方式中,这些标准图形22为尺寸相同的矩形,并刻画在薄片IO上排列 成数量为15X15的方形矩阵。 请一并参考图4,本专利技术校正方法的较佳实施方式包括以下步骤 Sl :将该校正片放置于该影像测量仪的工作台101上,使这些标准图形22的相互垂直的侧边分别平行于一机械坐标系的X轴及Y轴方向,该零点标记30的圆心定义为机械坐标系的原点,从而确定该校正片的任意一点在该机械坐标系中的坐标值。 S2 :使该图像撷取装置107对该校正片的零点标记30对焦,并将该零点标记30的圆心定义为图像坐标系的坐标原点。,在标准图形上选取参考点 先操作该影像测量仪的X轴传动系统及Y轴传动系统,使该图像撷取装置107对 正该零点标记30,再操作该Z轴传动系统完成该图像撷取装置107对该零点标记30对焦。4 S3 :对应该图像撷取装置107的放大倍数选定一校正区20,调节图像撷取装置107 的位置以获得该校正区20的清晰图像,使所选定的校正区20的标准图形22可均匀完整地 被该显示设备显示出来。 由于将该校正片放置于工作台101,该校正片的零点标记30与校正区20处于同一 水平面,因此,只需驱动该影像测量仪的X轴及Y轴传动系统调整该图像撷取装置107对正 选定的校正区20就可得到该校正区20的清晰图像,而无需再进行对焦。 S4 :测量标准图形22的参考点在图像坐标系中的坐标值。 在本实施方式中,定义图像坐标系中该零点标记30的圆心作为的原点,所述参考 点为所选定校正区20的标准图形22的中心点。以下以其中一标准图形22为例进行描述。 在该标准图形22 —对与机械坐标系中的X轴相平行的侧边上分别任取一点,测量该两点X 轴坐标并计算其平均值作为该标准图形22中心点的X轴坐标;在该标准图形22 —对与机 械坐标系中的X轴相互垂直的侧边上分别任取一点,测量该两点Y轴坐标并计算其平均值 作为该标准图形22中心点的Y轴坐标。在其他的实施方式中,标准图形22的其他点也可 作为参考点,如标准图形22的一角。 S5 :根据所选取的参考点在该机械坐标系及该图像坐标系的坐标值之间的对应关 系计算出该图像撷取装置107的校正参数 本实施方式中,利用双线性方程式(Bilinear Equation)来求机械坐标系与图像 坐标系之间的变换关系。请继续参阅图3,每一标准图形22的四个参考点围成一矩形区域 24,由于机械坐标系与图像坐标系中的坐标值之间的关系可以用公式(1)及(2)来表示,其 中,x、 y分别代表标准图形22的参考点在机械坐标系中的坐标值,其可根据该校正片的真 实尺寸得到;x 、y 分别代表标准图形22的参考点在图本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种校正片用以校正一影像测量仪的图像撷取装置,该校正片包括一薄片,该薄片上形成一零点标记,其特征在于:该薄片上形成至少一校正区,该校正区内设有若干整齐排列且尺寸相同的标准图形。

【技术特征摘要】
一种校正片用以校正一影像测量仪的图像撷取装置,该校正片包括一薄片,该薄片上形成一零点标记,其特征在于该薄片上形成至少一校正区,该校正区内设有若干整齐排列且尺寸相同的标准图形。2. 如权利要求1所述的校正片,其特征在于这些标准图形为矩形。3. 如权利要求2所述的校正片,其特征在于每一校正区的标准图形排列成一方形矩阵。4. 一种校正片用以校正一影像测量仪的图像撷取装置,该校正片包括一薄片,该薄片 上形成一零点标记,其特征在于该薄片上形成若干大小各异的校正区,以对应该图像撷取 装置不同的放大倍数,每一校正区内设有若干整齐排列且尺寸相同的标准图形。5. —种利用如权利要求4所述的校正片的校正方法,用以校正一影像测量仪的图像撷 取装置,该影像测量仪包括一水平放置的工作台,该图像撷取装置装设于该工作台上方,该工作台可相对该图像撷取装置沿一机械坐标系的X轴及Y轴移动,该校正方法包括以下步骤将该校正片放置于该影像测量仪的工作台,并定义该机械坐标的原点,从而确定该校 正片的任意一点在该机械坐标系中的坐标值; 定义该图像坐标系的原点;在校正片上选定一校正区,并撷取该校正区的清晰图像; 测量所选取...

【专利技术属性】
技术研发人员:张旨光蒋理李东海薛晓光袁忠奎
申请(专利权)人:鸿富锦精密工业深圳有限公司鸿海精密工业股份有限公司
类型:发明
国别省市:94[中国|深圳]

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