ＭＡＬＤＩ质谱分析用的试样架及质谱分析方法技术

本发明专利技术提供一种ＭＡＬＤＩ质谱分析用的试样架，所述试样架具有ＣｕＯ二次粒子作为激光吸收基质，所述二次粒子由平均粒径１００ｎｍ以下的ＣｕＯ一次粒子集合而成，并具有由构成最表层的一次粒子的形状所引起的凹凸表面。可使用的上述ＣｕＯ二次粒子的来源为，通过将在对碳酸氢铵水溶液和硝酸铜水溶液进行混合的工序中所生成的碱式碳酸铜在２００～３００℃下进行大气烧结而合成的ＣｕＯ粉末，该ＣｕＯ二次粒子的平均粒径为０．３～１０μｍ。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种使用基质辅助激光解吸离子化质谱分析法(MALDI—MS : Matrix-Assisted Laser Desorption Ionization-MassSpectrometry)实施质语分析用的作为激光吸收基质使用无机微粒的试样架及使用该试样架的质镨分析方法。在本说明书中，将使用基质辅助激光解吸离子化质i普分析法进行的质谱分析称为"MALDI质谱分析"。
技术介绍
在作为有机化学中重要的分析方法的质谱分析法中，通常是通过某种方法将对象物质离子化，利用质量电荷比(m/z)的差异并使用TOF装置将该离子分离，进行检测。在MALDI质谱分析法中，通过将有机低分子离子化辅助剂(基质剂)混合在测定试样中并对局部照射激光(例如337nrn),使基质剂吸收激光，只在照射部位产生急剧的温度上升，可以不分解试样分子而进行软电离化。该方法作为测定蛋白质及合成高分子等化合物的方法在医药、临床、食品、高分子材料、环境领域得到广泛应用。在MALDI质谱分析法中所使用的基质(在本说明书中称为"激光吸收基质")大致分为以下几种。(a)拥有双键及芳香环作为官能团的有机基质(b )使用无机微粒本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种ＭＡＬＤＩ质谱分析用的试样架，所述试样架具有ＣｕＯ二次粒子作为激光吸收基质，所述二次粒子由平均粒径１００ｎｍ以下的ＣｕＯ一次粒子集合而成，并具有由构成最表层的一次粒子的形状所引起的凹凸表面。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：米泽彻，佐藤王高，
申请(专利权)人：国立大学法人东京大学，同和电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：JP[日本]