宽带隙半导体器件制造技术

技术编号:4486027 阅读:156 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术公开一种宽带隙半导体器件。器件(100)包括其上具有晶体支撑结构(110)的基底(115)和Ⅲ-Ⅴ族晶体(210)。Ⅲ-Ⅴ族晶体位于所述晶体支撑结构中之一的单个接触区域(140)上。所述接触区域的面积不大于所述Ⅲ-Ⅴ族晶体的表面积(320)的约百分之五十。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术通常涉及具有一个或多个ffl-V族晶体的半导体器件及其制造方法。
技术介绍
ni-v族晶体由于它们具有宽带隙而应用于多种光学和电子应用领域。 如,在某些光电器件中,m-v族晶体可以用来发射以其它方式难以获得的 波长的光(如,蓝光)。然而,难以生长m-v族晶体的外延层,或难以将这 种晶体生长至合适的尺寸以用于实际应用。在特定类型的晶体(如硅)基 底上生长in-v族晶体的外延层也是困难的,因为m-v族晶体的晶格常数与 基底的晶格常数不匹配。特别地,在基底上生长具有不同晶格常数的一组 m-v族晶体通常导致在该组m-v族晶体中形成缺陷。如果所生长的ni-v族 晶体具有过多的缺陷,则该晶体的光电特性将受损失(如,发光效率减弱, 或电阻增加或减少很多)。
技术实现思路
一个实施例为器件。该器件包括其上具有晶体支撑结构的基底和m-v 族晶体。ni-v族晶体位于所述晶体支撑结构中的一个的单个接触区域上。 所述接触区域的面积不大于所述ni-v族晶体的表面积的约百分之五十。另一个器件实施例包括m-v族晶体。所述m-v族晶体除了从所述ni-v族晶体中间地设置的缺陷区域之外,具有均匀的取向(orie本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种器件,包括: 基底,其上具有晶体支撑结构;和 Ⅲ-Ⅴ族晶体,位于所述晶体支撑结构中的一个的单个接触区域上,其中,所述接触区域的面积不大于所述Ⅲ-Ⅴ族晶体的表面积的约百分之五十。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员:罗伯特尤金弗拉姆霍克额布里杰什维亚斯
申请(专利权)人:朗讯科技公司
类型:发明
国别省市:US[美国]

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