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宽带隙半导体器件制造技术
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文档序号:4486027
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本发明公开一种宽带隙半导体器件。器件(100)包括其上具有晶体支撑结构(110)的基底(115)和Ⅲ-Ⅴ族晶体(210)。Ⅲ-Ⅴ族晶体位于所述晶体支撑结构中之一的单个接触区域(140)上。所述接触区域的面积不大于所述Ⅲ-Ⅴ族晶体的表面积(3...
该专利属于朗讯科技公司所有,仅供学习研究参考,未经过朗讯科技公司授权不得商用。
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