一种基于半导体测试数据的数据处理方法技术

本发明专利技术涉及一种基于半导体测试数据的数据处理方法，首先从数据库中将已存储在数据库中的数据传递给被处理系统，然后在该被处理系统中中将所述数据与半导体测试数据进行比较，比较两个数据中的至少一个待比较值，如果有待比较值异常，则进入数据矫正阶段，对有待比较值异常的半导体测试数据进行矫正，如果数据无法矫正则转为人工处理，如果数据可以矫正则将半导体测试数据矫正并存入数据库中。本发明专利技术的数据处理方法，极大地减少了人工处理的时间，降低了需要人工处理的可能，同时提高了被处理系统中数据的及时性和正确性，做到了简单、快速、方便，使工程师能及时看到正确的数据做出分析，从而改善产品质量。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及半导体制造领域，尤其涉及。
技术介绍
社会发展到今天，当一个工程师追踪产品问题或者改进产品性能时，如果没有数 据支持那是不可能完成工作的。可以说数据是当今企业的基石。随着当今半导体产业的发 展，产品制造越来越自动化和智能化，产品生产制造环节也在不断细化，这样导致生产相关 的数据量呈几何级爆炸式增长，那么，如何在简单、快速、方便正确的将数据管理起来的同 时保证数据的准确性是一个困扰和困难的事情。原因如下 1.巨量的数据在各个系统，例如生产管理系统(Ma皿facturingExecution System,MES)、电子设计自动化(Electronic Design Automation,EDA)系统、自动信息统计 系统(Automatic Message Accounting System,AMAS)等系统中间相互传递，在各种操作系 统平台上(windows/Unix/Lniux等)生成和查阅，以及在各种编码(二进制，十进制，十六 进制，ASCII等)间相互转换，由于上面这些系统、平台、编码间存在差异性，有时难免会产 生数据的错误； 2.现代半导体生产分工越来越细，一个本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种基于半导体测试数据的数据处理方法，其特征在于：首先从数据库中将已存储在数据库中的数据传递给被处理系统，然后在上述被处理系统中将所述数据与半导体测试数据进行比较，比较两个数据中的至少一个待比较值，如果有待比较值异常，则进入数据矫正阶段，对有待比较值异常的半导体测试数据进行矫正，如果数据无法矫正则转为人工处理，如果数据可以矫正则将半导体测试数据矫正存入数据库中。

【技术特征摘要】
一种基于半导体测试数据的数据处理方法，其特征在于首先从数据库中将已存储在数据库中的数据传递给被处理系统，然后在上述被处理系统中将所述数据与半导体测试数据进行比较，比较两个数据中的至少一个待比较值，如果有待比较值异常，则进入数据矫正阶段，对有待比较值异常的半导体测试数据进行矫正，如果数据无法矫正则转为人工处理，如果数据可以矫正则将半导体测试数据矫正存入数据库中。2. 根据权利要求1所述的方法，其特征在于上述待比较值包括关键值、属性值、特殊属 性值和不可矫正属性值。3. 根据权利要求2所述的方法，其特征在于数据矫正步骤具体为(1) 如果上述关键值异常，则上述被处理系统将上述半导体测试数据转给人工处理，人 工处理完成后再重新进入处理程序；(2) 如果上述属性值异常，则上述被处理系统依照上述被处理系统中的数据，确定关键 值与属性值是否属于预定原则，如果是，则根据上述预定原则对上述半导体测试数据进行 矫正，如果不是，则转为人工处理；(3) 如果上述特殊属性值异常，则上述被处理系统将上述半导体测试数据丢弃；(4) 如果上述...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈健华，顾荣华，
申请(专利权)人：和舰科技苏州有限公司，
类型：发明
国别省市：32[中国|江苏]