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本发明涉及一种基于半导体测试数据的数据处理方法，首先从数据库中将已存储在数据库中的数据传递给被处理系统，然后在该被处理系统中中将所述数据与半导体测试数据进行比较，比较两个数据中的至少一个待比较值，如果有待比较值异常，则进入数据矫正阶段，对有...
该专利属于和舰科技（苏州）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过和舰科技（苏州）有限公司授权不得商用。

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