检体分析装置以及检体分析装置的校正方法制造方法及图纸

技术编号:4196226 阅读:160 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术提供一种检体分析装置和检体分析装置的校正方法。该检体分析装置的特征在于,包括:第一测定单元,进行检体的测定;第二测定单元,进行检体的测定;以及信息处理单元,分别取得基于通过上述第一测定单元测定的结果的第一分析结果、和通过上述第二测定单元测定的结果的第二分析结果,其中,上述信息处理单元根据第一修正值修正上述第一分析结果,根据第二修正值修正上述第二分析结果,更新上述第一修正值,更新上述第二修正值,其中,上述信息处理单元还根据在上述第一测定单元测定了校正用检体时得到的分析结果,更新上述第一修正值,根据上述第二测定单元测定多次同一检体而得到的多个分析结果、和修正后分析结果,更新上述第二修正值。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及检体分析装置、以及检体分析装置的校正方法。
技术介绍
以往,已知多项目血球分析装置、血液凝固测定装置、免疫分析装置、生物化学分 析装置、以及尿分析装置等各种检体分析装置。在这些检体分析装置中,定期地进行装置的 校正。在校正装置时,在测定校正用试样之前,执行多次同一检体的测定,确认分析结果的 偏差是否处于规定范围内。 在日本特开平6-308131号公报中,记载有连接了多个自动分析装置的数据处理 装置。日本特开平6-308131号公报记载的数据处理装置合计各个自动分析装置中的校正 用试样的测定结果,自动地进行运算、检量系数的修正。 但是,在日本特开平6-308131号公报记载的数据处理装置中,需要通过多个自动 分析装置来分别测定同一校正用试样。如果作为该校正用试样使用校准器(calibrator) (成为测定对象的成分的浓度是既知的检体,专门为了用于分析装置的校正而调制的检 体),则由于校准器的价格非常高,所以存在成本上升这样的问题。另外,在校正了多个自动 分析装置中的第一自动分析装置后,通过各个自动分析装置将与上述第一自动分析装置的 校正无关的检体作为校正用试样进行测定,进行针对校正后的上述第一自动分析装置的相 关处理的情况下,需要在所有自动分析装置中测定上述检体,存在产生检体的浪费这样的 问题。
技术实现思路
本专利技术提供包括以下结构的。 (1) —种检体分析装置,其特征在于,包括 第一测定单元,进行检体的测定; 第二测定单元,进行检体的测定;以及 信息处理单元,分别取得基于通过上述第一测定单元测定的结果的第一分析结果、和基于通过上述第二测定单元测定的结果的第二分析结果, 其中,上述信息处理单元 根据第一修正值修正上述第一分析结果, 根据第二修正值修正上述第二分析结果, 根据在上述第一测定单元测定了校正用检体时得到的分析结果,更新上述第一修 正值, 根据上述第二测定单元测定多次同一检体而得到的多个分析结果、和修正后分析 结果,更新上述第二修正值, 其中,通过利用由上述信息处理单元更新的上述第一修正值,来修正上述第一测 定单元测定上述同一检体而得到的分析结果,得到上述修正后分析结果。 (2)在上述(1)记载的检体分析装置中,其特征在于, 上述信息处理单元还判别通过上述第二测定单元测定多次上述同一检体而得到 的多个分析结果的偏差是否收敛于规定范围内。(3)在上述(1)记载的检体分析装置中,其特征在于,还包括 搬送单元,搬送检体;以及 搬送控制部,控制上述搬送单元,以将上述同一检体搬送给上述第一测定单元以及上述第二测定单元, 其中, 上述第一测定单元构成为对通过上述搬送单元搬送的上述同一检体进行测定, 上述第二测定单元构成为对通过上述搬送单元搬送的上述同一检体进行多次测 定。(4)在上述(3)记载的检体分析装置中,其特征在于, 上述搬送控制部构成为控制上述搬送单元,以将上述同一检体搬送给上述第一测 定单元,且在上述同一检体被供给给上述第一测定单元之后,将上述校正用检体搬送给上 述第一测定单元, 上述第一测定单元构成为对通过上述搬送单元搬送的上述同一检体进行多次测 定,对通过上述搬送单元搬送的上述校正用检体进行测定, 上述信息处理单元构成为判别通过上述第一测定单元对上述同一检体进行多次测定而得到的多个分析结果的偏差是否收敛于规定范围内。(5)在上述(3)或(4)记载的检体分析装置中,其特征在于, 上述信息处理单元具备上述搬送控制部。 (6)在上述(1)、 (2)、 (3)和(4)中的任意一个记载的检体分析装置中,其特征在 于, 上述信息处理单元还具有存储检体的分析结果的存储部, 上述信息处理单元从存储在上述存储部中的多个分析结果中,受理通过上述第二 测定单元得到的关于上述同一检体的多个分析结果的选择, 上述信息处理单元根据上述选择的上述多个分析结果、和通过上述第一测定单元 得到的上述同一检体的分析结果,更新上述第二修正值。 (7)在上述(1)、 (2)、 (3)和(4)中的任意一个记载的检体分析装置中,其特征在 于, 上述信息处理单元取得对通过上述第二测定单元对上述同一检体进行多次测定 而得到的多个分析结果进行平均而得到的平均值,根据通过上述第一测定单元得到的上述 同一检体的分析结果、和通过上述第二测定单元得到的多个分析结果的平均值,更新上述 第二修正值。 (8)在上述(1)、 (2)、 (3)和(4)中的任意一个记载的检体分析装置中,其特征在 于, 上述信息处理单元输出利用上述第二修正值修正后的上述第二分析结果。 (9)在上述(1)、 (2)、 (3)和(4)中的任意一个记载的检体分析装置中,其特征在于,5 上述同一检体是再现性确认用检体。 (10)在上述(1) 、 (2) 、 (3)和(4)中的任意一个记载的检体分析装置中,其特征在 于, 上述信息处理单元具有存储上述第一修正值的第一修正值存储部, 上述信息处理单元更新存储在上述第一修正值存储部中的上述第一修正值。(11)在上述(1) 、 (2) 、 (3)或(4)中的任意一个记载的检体分析装置中,其特征在于, 上述信息处理单元具有存储上述第二修正值的第二修正值存储部, 上述信息处理单元更新存储在上述第二修正值存储部中的上述第二修正值。(12) —种检体分析装置的校正方法,该检体分析装置具备第一测定单元和第二测定单元,其特征在于,包括 分析步骤,根据上述第一以及第二测定单元的检体的测定分别取得分析结果; 第一修正步骤,根据第一修正值修正基于通过上述第一测定单元执行的检体的测 定的分析结果; 第二修正步骤,根据第二修正值修正基于通过上述第二测定单元执行的检体的测 定的分析结果; 第一校正步骤,使用在上述第一测定单元测定了校正用检体时得到的分析结果, 更新上述第一修正值;以及 第二校正步骤,使用通过上述第二测定单元对同一检体进行多次测定而得到的多 个分析结果、和修正后分析结果,更新上述第二修正值, 其中,通过利用在上述第一校正步骤中更新后的上述第一修正值,修正基于上述第一测定单元测定上述同一检体而得到的分析结果,得到上述修正后分析结果。(13) —种检体分析装置的校正方法,该检体分析装置具备第一测定单元和第二测定单元,其特征在于,包括 通过上述第一测定单元测定校正用检体,校正上述第一测定单元的步骤; 通过上述第二测定单元对同一再现性确认用检体进行多次测定的步骤; 判别对上述同一再现性确认用检体进行多次测定而得到的多个分析结果的偏差 是否收敛于规定范围内的步骤; 通过校正后的上述第一测定单元测定上述再现性确认用检体,取得上述再现性确 认用检体的分析结果的步骤;以及 根据通过上述第一测定单元得到的上述再现性确认用检体的分析结果、和通过上 述第二测定单元得到的上述再现性确认用检体的分析结果,校正上述第二测定单元的步 骤。附图说明 图1A是示出实施方式的检体分析装置的整体结构的立体图。 图1B是示出实施方式的检体分析装置的整体结构的立体图。 图2是示出检体容器的外观的立体图。 图3是示出样品架子的外观的立体图。6 图 图 图 图 图 图 图 图 图程的流程图 图 图 图程图。 图流程图。 图程图。 图的流程图。 图 图本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种检体分析装置,其特征在于,包括:第一测定单元,进行检体的测定;第二测定单元,进行检体的测定;以及信息处理单元,分别取得基于通过上述第一测定单元测定的结果的第一分析结果、和基于通过上述第二测定单元测定的结果的第二分析结果,其中,上述信息处理单元根据第一修正值修正上述第一分析结果,根据第二修正值修正上述第二分析结果,根据在上述第一测定单元测定了校正用检体时得到的分析结果,更新上述第一修正值,根据上述第二测定单元测定多次同一检体而得到的多个分析结果、和修正后分析结果,更新上述第二修正值,其中,通过利用由上述信息处理单元更新的上述第一修正值来修正上述第一测定单元测定上述同一检体而得到的分析结果,得到上述修正后分析结果。

【技术特征摘要】
JP 2008-10-28 2008-277437一种检体分析装置,其特征在于,包括第一测定单元,进行检体的测定;第二测定单元,进行检体的测定;以及信息处理单元,分别取得基于通过上述第一测定单元测定的结果的第一分析结果、和基于通过上述第二测定单元测定的结果的第二分析结果,其中,上述信息处理单元根据第一修正值修正上述第一分析结果,根据第二修正值修正上述第二分析结果,根据在上述第一测定单元测定了校正用检体时得到的分析结果,更新上述第一修正值,根据上述第二测定单元测定多次同一检体而得到的多个分析结果、和修正后分析结果,更新上述第二修正值,其中,通过利用由上述信息处理单元更新的上述第一修正值来修正上述第一测定单元测定上述同一检体而得到的分析结果,得到上述修正后分析结果。2. 根据权利要求l所述的检体分析装置,其特征在于,上述信息处理单元还判别通过上述第二测定单元测定多次上述同一检体而得到的多 个分析结果的偏差是否收敛于规定范围内。3. 根据权利要求1所述的检体分析装置,其特征在于,还包括 搬送单元,搬送检体;以及搬送控制部,控制上述搬送单元,以将上述同一检体搬送给上述第一测定单元以及上 述第二测定单元, 其中,上述第一测定单元构成为对通过上述搬送单元搬送的上述同一检体进行测定, 上述第二测定单元构成为对通过上述搬送单元搬送的上述同一检体进行多次测定。4. 根据权利要求3所述的检体分析装置,其特征在于,上述搬送控制部构成为控制上述搬送单元,以将上述同一检体搬送给上述第一测定单 元,且在将上述同一检体供给给上述第一测定单元之后,将上述校正用检体搬送给上述第 一测定单元,上述第一测定单元构成为对通过上述搬送单元搬送的上述同一检体进行多次测定,对 通过上述搬送单元搬送的上述校正用检体进行测定,上述信息处理单元构成为判别通过上述第一测定单元对上述同一检体进行多次测定 而得到的多个分析结果的偏差是否收敛于规定范围内。5. 根据权利要求3或4所述的检体分析装置,其特征在于, 上述信息处理单元具备上述搬送控制部。6. 根据权利要求1、2、3和4中的任意一项所述的检体分析装置,其特征在于, 上述信息处理单元还具有存储检体的分析结果的存储部,上述信息处理单元从存储在上述存储部中的多个分析结果中,受理通过上述第二测定 单元得到的关于上述同一检体的多个分析结果的选择,上述信息处理单元根据上述选择的上述多个分析结果、和通过上述第一测定单元得到的上述同一检体的分析结果,更新上述第二修正值。7. 根据权利要求1、2、3和4中的任意一项所述的检体分析装...

【专利技术属性】
技术研发人员:福间大吾芝田正治
申请(专利权)人:希森美康株式会社
类型:发明
国别省市:JP[日本]

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