【技术实现步骤摘要】
本文描述的本公开的实施例涉及一种电子设备，更具体地，涉及一种能够在没有扫描链的情况下在结构中进行测试的电子设备以及测试电子设备的方法。
技术介绍
1、在制造电子设备之后，可以执行测试以确定电子设备是否正常操作。该测试可以包括功能测试和结构测试。
2、功能测试可以允许电子设备重复执行指定功能，目的是确定电子设备是否正常执行指定功能。根据功能测试，应该基于输入值范围和基于电子设备中可能的事件来测试各种情况。在实践中，在功能测试中，可以不测试所有可能的情况，而是可以只测试一些在经验上被认为重要的代表性情况。在这种情况下，在功能测试中，能够发现电子设备缺陷的测试覆盖可能相对较低。
3、根据结构测试，可以测试电子设备的每个组件是否正常操作而没有缺陷。结构测试可以直接检查传送信号的电线的信号值。因为在结构测试中测试的情况数量相对较少，所以结构测试可能具有相对较高(或完整)的测试覆盖。然而，结构测试要求诸如扫描链的单独的组件用于测试，这增加了开销量。
技术实现思路
1、本公开的实...
【技术保护点】
1.一种测试电子设备的方法，该方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其中，生成DFT布局包括：
3.根据权利要求2所述的方法，其中，生成测试样式在第二操作模式中执行。
4.根据权利要求2所述的方法，其中，生成混合布局包括：
5.根据权利要求1所述的方法，其中，生成DFT布局包括：
6.根据权利要求5所述的方法，其中，生成混合布局包括：
7.根据权利要求1所述的方法，其中，生成DFT布局包括：
8.根据权利要求7所述的方法，其中，生成所述测试样式包括：
9.根据权利要求8...
【技术特征摘要】
1.一种测试电子设备的方法，该方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其中，生成dft布局包括：
3.根据权利要求2所述的方法，其中，生成测试样式在第二操作模式中执行。
4.根据权利要求2所述的方法，其中，生成混合布局包括：
5.根据权利要求1所述的方法，其中，生成dft布局包括：
6.根据权利要求5所述的方法，其中，生成混合布局包括：
7.根据权利要求1所述的方法，其中，生成dft布局包括：
8.根据权利要求7所述的方法，其中，生成所述测试样式包括：
9.根据权利要求8所述的方法，其中，第一测试样式被配置为用于测试固定型故障，并且第二测试样式被配置为用于测试传输延迟故障。
10.根据权利要求7所述的方法，其中，生成混合布局包括：
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