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公开了一种测试电子设备的方法，该方法包括由计算机接收电路布局，由计算机从电路布局生成可测试性设计(DFT)布局，由计算机基于DFT布局通过使用电子设计自动化(EDA)工具生成测试样式，以及由计算机从DFT布局生成混合布局，并且通过使用测试样...
该专利属于三星电子株式会社所有，仅供学习研究参考，未经过三星电子株式会社授权不得商用。

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